xrd衍射峰宽度为什么有一定宽度

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Xrd物象鉴定如果获得晶体的晶格常数?如何获得平均晶体粒径?为什么髙指数晶面的衍射峰较.
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内容提示:Xrd物象鉴定如果获得晶体的晶格常数?如何获得平均晶体粒径?为什么髙指数晶面的衍射峰较低?是不是所有晶面都会出现峰呢?
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Xrd物象鉴定如果获得晶体的晶格常数?如何获得平均晶体
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XRD衍射峰强度与该峰对应的晶面数量有怎么样的定量关系?
试样XRD测试结果中不同的指数面对应的峰强不同,我是否可以根据峰强计算出在此方向上该指数面所占的百分比?从而得出织构的结果&&本人菜鸟,望多指教
我可能没说清楚,就是相对强度发生了变化,有的试样(001)面峰最强,有的试样确是(111)面峰最强,那能否说明试样存在织构的可能性?
测织构一般是针对块体材料或成型的材料吧?对于粉碎后的粉末样品做平板压片测试,由于制样过程人为操作引起晶粒择优取向是很常见的现象,可能直接导致不同衍射峰相对强度与标准卡片数据存在较大差异,这就很难判断原来的样品是否有织构。不过,对于人为操作引起晶粒择优取向的影响,在测试中可以通过快速水平转动样品部分消除,如果仍有显著性差异则可以考虑是织构的影响。
楼上,你好,我做了一组xrd,分子筛膜样品,如图,我想请问的是,为什么,温度高了,所有的峰的强度反而变弱了呢?峰的强弱代表了什么呢?我查过一些资料,但是还是没有解决这个问题。请楼上指点一下。
QQ截图15.png
什么温度?水热合成时的还是......?膜是载在什么基底上的?基底材料是结晶的还是非晶态的?膜的厚度、均匀度如何?
红、蓝的差别不大,只是少数峰相对强度有显著变化,红、蓝的强度差异可以认为:1.可能和基底上负载膜的相对量有关;2.与膜厚度尤其是晶面取向生长有关;3.与晶粒排列或镶嵌结构(织构)不同有关。至于“温度高了,所有的峰的强度反而变弱了”,似乎与事实相悖吧?160度的不是显著低于170和180度的吗?峰的强弱和对应物相在样品中的含量、结晶度有关。如果温度是水热合成的温度,160度的可能系膜生长缓慢致含量低引起,170、180度的强度高反映膜生长快,但温度的影响还可能包括:1.膜是否能负载牢固?分子筛是否脱离基底自行生长?2.膜是否破裂?3.是否发生晶型转变?这些都可能影响强度。另外,170度和180度差别不太大,温度也许不是主要影响因素,也可以考虑是否源于其它原因,比如浓度、基底与液体比例、处理时间等。
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扫描下载送金币如何获得XRD衍射峰的半高宽
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如何获得XRD衍射峰的半高宽
最近要写文章,想用谢勒公式计算纳米尺寸。 半高宽如何求?另外,如果材料尺寸太大(超过100 nm), 是不是不适合用谢勒公式计算了?
不区分大小写匿名
晶粒尺寸超过100nm,谢勒公式便不适用。半峰宽不用求,直接在XRD数据分析软件上就可以给出来。
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