日本理学uitimaiv型x衍射仪配套使用的单层石墨烯电子衍射图单色器多少钱

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XRD x射线衍射仪 日本理学
【产品供应】XRD x射线衍射仪 日本理学
生产厂家/供应商:&&
&&更新日期: 12:02:54
产品名称:x射线衍射仪XRD
所在地区:中国 北京
面议 最小起订量: 1台 供货总量: 100台
内容摘要:日本理学株式会社(Rigaku Corporation)
理学公司的前身是理学电机制作所,创立于1923年,是世界上研制和生产X射线科学分析仪器的开拓者之一。...
产品图片:
x射线衍射仪XRD详细介绍:
日理学株式会社(Rigaku Corporation)&
理学公司的前身是理学电机制作所,创立于1923年,是世界上研制和生产X射科学分析仪器的开拓者之一。1951年正式创立理学电机株式会社,十年后1962年又创立理学电机工业株式会社,此后又相继创立了理学计测株式会社、日本仪器株式会社、理学服务株式会社和株式会社理学等机构。半个多世纪以来,理学公司一直致力于研制和开发X射线科学分析仪器,并为世界科学分析仪器的发展做出了重要的贡献。
理学公司的总部设在日本,在美国设有理学-美国公司;在德国设有理学-欧洲公司;在加拿大设有理学-加拿大公司;同时,理学公司在世界七十多个国家设有销售和维修机构。
主营产品:理学公司是生产X射线科学分析仪器的专业厂家,在世界上享有很高的声誉。目前,理学公司的产品可以分为四大类,六十多种产品。其产品可以应用于各个领域、各种材料(金属材料、无机非金属材料、复合材料、有机材料)的物质结构分析、元素定性定量分析、产品性能评价、新产品开发和产品现场质量管理分析等,其丰富的分析仪器种类可以为不同要求的用户提供最适合的分析手段。
在元素分析方面,理学公司生产的各种型号的X射线荧光光谱仪已遍布世界各地,广泛用于钢铁、有色冶金、半导体工业、工业、陶瓷工业、化学工业、石油工业、食品工业、环境保护等。X射线荧光光谱仪可以对固体样品、粉末样品、半导体薄膜样品(单层薄膜、多层薄膜、复合薄膜)、液体样品、不规则小面积样品、微量粉末样品等进行元素的快速定性和定量分析.
一、MiniflexII系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。
技术参数:
1. 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约56cm,高65cm,深37cm;重量约76kg。
2. 测角仪为垂直式,放置样品方便。
3. 测角仪配程序式可变狭缝,改善低角度P/B,提高高角度强度。
4. 安全设计,放置样品时自动关闭X射线。
5. 最优化的光路及新探测器,强度提高3倍
6. 软件丰富
7. 附件可配:
计数端单色器,扣除K&、荧光X射线,提高P/B比
旋转样品台
二、强力转靶组合式多功能X射线衍射仪Smartlab系列是当今最高档次的商品化X射线衍射仪。
强力转靶组合式多功能X射线衍射仪Smartlab系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。
技术参数:
1. X射线发生器功率为旋转阳极强力转靶18KW
2. 测角仪为水平测角仪
3. 测角仪最小步进为1/10000度
4. 测角仪配程序式可变狭缝
产品简介:
Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。
技术参数:
1. X射线发生器功率为3KW
2. 测角仪为水平测角仪
3. 测角仪最小步进为1/10000度
4. 测角仪配程序式可变狭缝
5. 高反射效率的石单色器
6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(Mirror)(理学独有)
7. 小角散射测试组件
8. 多用途薄膜测试组件
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>&组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列
参考报价:
&Ultima IV系列
信息完整度:
典型用户:
角度偏差:
&不超过±0.01
&优于0.0001
最小步进角度:
发生器功率:
价格区间:
&100万-150万
仪器种类:
&多晶衍射仪
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名 称: 北京理化赛思科技有限公司(日本理学产品代理)
工商信息已核实
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仪器简介:
组合式多功能X射线衍射仪Ultima&IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。
1. X射线发生器功率为3KW
2. 测角仪为水平测角仪
3. 测角仪最小步进为1/10000度
4. 测角仪配程序式可变狭缝
5. 高反射效率的石墨单色器
6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有)
7. 小角散射测试组件
8. 多用途薄膜测试组件
9. 微区测试组件
10. In-Plane测试组件(理学独有)
11. 高速探测器D/teX-Ultra
12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
13. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等&
主要特点:
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有:
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析
型号:MSF-3M/PSF-3M
型号:TG-DTA
货号:PDM-117
货号:B002
货号:B005
型号:D/max RAPID
型号:XtaLABmini
型号:PSPC-MSF3M
型号:2991F2
型号:MiniFlex 600
型号:SmartLab系列
型号:XRD-DSC
型号:IPX-LC细胞库/细胞培养
ELISA试剂盒
实验室仪器/设备
原辅料包材
体外检测试剂
&&强力转靶组合式多功能X射线衍射仪D/max-TTRIII系列
强力转靶组合式多功能X射线衍射仪D/max-TTRIII系列
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供应商信息
商家诚信度:
成立时间:2008年
入驻丁香通年限:9年
商家等级:普通客户
产品信息完整度:38%
联系人:陈小姐
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电话:010+
传真:010+
地址:北京市德外马甸裕民路12号E1元辰鑫大厦526室[100029]
强力转靶组合式多功能X射线衍射仪D/max-TTR III系列是当今最高档次的商品化X射线衍射仪。强力转靶组合式多功能X射线衍射仪D/max-TTR III系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。
1. X射线发生器功率为旋转阳极强力转靶18KW2. 测角仪为水平测角仪3. 测角仪最小步进为1/10000度4. 测角仪配程序式可变狭缝5. 高反射效率的石墨单色器6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有)7. 小角散射测试组件8. 多用途薄膜测试组件9. 微区测试组件10. In-Plane测试组件(理学独有)11. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC12. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等
强力转靶组合式多功能X射线衍射仪D/max-TTR III系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有:1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析
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