硅微条硅光电探测器器的漏电流是怎么产生的

CSR外靶硅微条阵列探测器电子学系统研究--《中国科学院研究生院(近代物理研究所)》2014年博士论文
CSR外靶硅微条阵列探测器电子学系统研究
【摘要】:兰州重离子加速器冷却储存环(HIRFL-CSR)现在已经建成,其实验探测装置也在不断建设当中,主要包含CSR外靶实验装置和CSRe上的配套实验装置。硅微条阵列探测器是HIRFL-CSR外靶实验装置上的一个子探测器,其位于γ球内的TPC(时间投影室)后。硅微条阵列探测器结合γ球内的CsI探测器,利用E-E粒子鉴别技术,可以对中等质量的碎片进行鉴别。由于硅微条阵列探测器的探测单元密度高而且通道数大,因此为了对大量探测事例进行精确测量,就对其电子学系统提出了相应的要求:高集成度、多通道、高精度和高速等。为了实现对硅微条阵列探测器输出信号的采集处理,我们设计了相应的电子学系统。本论文将对CSR外靶硅微条阵列探测器的电子学系统进行介绍。
该电子学系统包含12个单元,共有48块前端电子学板、12块PXI-DAQ数据采集板和1块触发板。每个单元包含4块前端电子学板和1块PXI-DAQ数据采集板,而触发板由12个单元共用。每个单元可以处理来自两块双面硅微条探测器的384路信号,所以整个电子学系统可以处理4608路信号。前端电子学板是基于先进的ASIC芯片设计的,单板就可以实现对双面硅微条探测器单面输出的96路信号的处理;采用高速ADC和FPGA设计的PXI-DAQ数据采集板能够满足多通道高速数据采集的需求,并且可以对来自4块前端电子学板的信号进行处理;触发板用以实现事例的筛选。对该电子学系统分别进行了电子学测试和物理测试,结果表明该电子学系统能够满足物理实验的要求。
【关键词】:
【学位授予单位】:中国科学院研究生院(近代物理研究所)【学位级别】:博士【学位授予年份】:2014【分类号】:TL81【目录】:
致谢5-6摘要6-7ABSTRACT7-12第一章 引言12-18 1.1 研究背景与意义12-13 1.2 CSR-ETF 介绍13-16 1.3 研究内容16-18第二章 探测器的输出信号特点与信号处理方法18-37 2.1 探测器的输出信号特点18 2.2 信号处理的基本方法18-30
2.2.1 能量测量18-22
2.2.1.1 电荷幅度转换19-21
2.2.1.2 波形采样(ADC 型)21-22
2.2.1.3 电荷时间转换(QTC)22
2.2.2 时间测量22-30
2.2.2.1 定时甄别22-28
2.2.2.2 时间数字变换(TDC)28-30 2.3 几种硅微条探测器读出电子学介绍30-37
2.3.1 MUSTII 项目的读出电子学系统30-33
2.3.2 ANKE 顶点探测器(ASIST)读出电子学系统33-34
2.3.3 ALICE 径迹探测器电子学系统34-35
2.3.4 ATLAS SCT 探测器电子学系统35-37第三章 CSR 外靶硅微条阵列探测器读出电子学37-80 3.1 硅微条探测器37-40
3.1.1 硅微条探测器介绍37-38
3.1.2 CSR 外靶硅微条探测器结构和要求38-39
3.1.3 软硬结合板介绍39-40 3.2 读出电子学结构框图40-42 3.3 前端电子学模块(FEE)42-55
3.3.1 前端电子学 ASIC 芯片43-47
3.3.1.1 电荷灵敏前置放大器(CSA)44-45
3.3.1.2 能量测量电路45
3.3.1.3 时间测量电路45-46
3.3.1.4 电压电流转换电路(VIC)46
3.3.1.5 ASIC 输出模式46-47
3.3.2 测试信号产生电路47-49
3.3.3 LVDS 收发电路49-52
3.3.3.1 LVDS 简介49-51
3.3.3.2 LVDS 收发电路设计51-52
3.3.4 高压电路52-53
3.3.5 I2C 慢控总线53-55
3.3.5.1 I2C 总线介绍53-54
3.3.5.2 I2C 慢控总线的应用54-55
3.3.6 监视模块55 3.4 PXI-DAQ 数据采集板55-73
3.4.1 模拟信号转换电路56-57
3.4.2 光耦和 LVDS 收发模块57
3.4.3 模数转换(ADC)57-61
3.4.3.1 ADC 的选择57-58
3.4.3.2 AD9248 介绍58-61
3.4.4 PXI 接口与 PXI 总线61-65
3.4.5 数据处理模块(FPGA)65-73
3.4.5.1 FPGA 介绍与选择65-68
3.4.5.2 I2C 总线的实现68-69
3.4.5.3 快时序控制信号的实现69-70
3.4.5.4 PXI 通信的实现70-73 3.5 基于 PXI 总线的触发控制板设计73-76
3.5.1 触发控制板的功能73-74
3.5.2 触发判选的介绍74-76 3.6 电子学系统上位机程序设计76-80
3.6.1 PCI 设备驱动程序设计76-77
3.6.2 上位机应用程序设计77-80第四章 电子学测试与实验分析80-90 4.1 电子学测试80-86
4.1.1 积分非线性测试80-82
4.1.2 串扰测试82
4.1.3 能量分辨测试82-84
4.1.4 通道一致性测试84-85
4.1.5 长时间工作稳定性测试85-86 4.2 物理测试86-88 4.3 硅微条探测器粒子鉴别能力的估算88-90第五章 总结与展望90-92 5.1 总结90-91 5.2 展望91-92参考文献92-100附录100-104作者简历104发表文章104
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