干膜测厚仪
||干膜测厚仪
干膜测厚仪
PosiTector(R)6000多用途干膜测厚仪可以直接测量涂膜总涂层厚度。
型 号PosiTector(R)6000
产品特点多用途干膜测厚仪可以直接测量涂膜总涂层厚度，或测量个别涂层即是底漆或面漆。基本上说，可以在任何底材上进行测量例如，铝，钢，塑料，木质，混凝土或玻璃等底材
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干膜测厚仪详情
多用途干膜测厚仪精确耐用的干膜测厚仪,适用于所有金属底材,干膜测厚仪适用于对涂料,油漆等的厚度测量，还适用于镀锌层,电镀层,阳极氧化膜等的测量有分体式干膜测厚仪与一体式干膜测厚仪可选干膜测厚仪型号底材选择F - 铁质金属底材(钢、铁等)N - 非铁质金属底材(铝、铜等)FN - 所有金属底材-自动识别底材类型和测量金属底材上，对涂料,油漆等的测量以及对镀锌层,电镀层,阳极氧化，膜等的测量多用途干膜测厚用途多用途干膜测厚仪可以直接测量涂膜总涂层厚度，或测量个别涂层（即是底漆或面漆）。基本上说，可以在任何底材上进行测量（例如，铝，钢，塑料，木质，混凝土或玻璃等底材）。 PosiTector&6000用于所有金属基材的涂层测量：高量程测量探头，适合于厚涂层,如防火涂料和油罐内衬等的测量探头翻转测量，不妨碍正常读数微微型探头系列，适合于小件和狭窄,测试区域的测量如需测量塑料，木质，混凝土或玻璃等底材等基材的，请使用另一款干膜测厚仪——超声波干膜测厚仪多用途干膜测厚操作说明干膜测厚仪自动较准，随手即用，对绝大多数的测试无需校准调整，使用十分方便。多用途干膜测厚仪功能特点干膜测厚仪使用简便* 随手即用-对绝大多数的测试无需校准调整* 单手操作、菜单导航,手持式更方便* 双色指示灯,嘈杂环境下依然表现出色* RESET重置特点可快速恢复厂家设置干膜测厚仪多种用途* 多种校准选项,包括一点和两点校准,已知厚度,均值零点校准* 多种语言可选* 背光显示,方便在昏暗环境下的操作* 倒置显示，翻转测量时不妨碍正常读数* 可扩展探头电缆长度(最长可达250英尺/75米),适用于远程测量需要* 使用碱性电池或可充电电池（内置充电器）干膜测厚仪测量精确* 可溯源至NIST的校验证明* 内置的温度补偿,确保测量的精度* Hi-RES模式下的高分辨率可轻松满足高精度测试的要求* 符合国际和国内测试标准和规范,如ISO和ASTM标准干膜测厚仪品质耐用* 耐溶剂、酸、油、水和防尘，防雨* 带抗磨探头* 含皮带扣的橡胶护套具有吸震和防护两大功能&【请注意：】以上干膜测厚仪介绍型号仅适用于金属基材的涂层表面涂层测量如需测量非金属基材（如木材、聚酯、玻璃、混凝土）表面涂层请使用另一型号PosiTector&200&
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反射光谱薄膜测厚仪
MProbe系列薄膜测厚仪
参考价格：15-20万
型号：MProbe
反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术。
　　当一束光入射到薄膜表面时，薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉，干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关，反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。
　　反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术。
　　测量范围: 1 nm - 1 mm
　　波长范围: 200 nm -8000 nm
　　光斑尺寸:2mum -3 um
　　产品特点：
　　a. 最高的测量精度：0.01nm或0.01%
　　b. 准确度：1nm或0.2%
　　c. 稳定性：0.02nm或0.02%
　　d. 强大的软件材料库，包含500多种材料的光学常数
　　e. 通过Modbus TCP或OPC协议，与其他设备联用
　　适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy,
Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
　　大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs,
InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物涂层(聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
　　标准配置中包含：
　　1. 主机(光谱仪，光源，电线)
　　2. 反射光纤
　　3. 样品台及光纤适配器
　　4. TFCompanion软件
　　5. 校准套装
　　6. 测试样品，200nm晶圆
　　广泛的应用于各种工业生产及工艺监控中：
　　半导体晶圆，薄膜太阳能电池，液晶平板，触摸屛，光学镀膜，聚合物薄膜等
多种型号可选，每个型号对应不同的测量范围：
　测量n和k值，其厚度范围需在25纳米和5微米之间
　　还有其他配置可供选择
　　提供OEM和客户定制化服务
　　保修期1年
上海全耀代理产品：，薄膜测试仪，，厚度测量仪以及MProbe MSP显微薄膜测试仪等，欢迎广大用户前来订购。
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测量曲面样品或样品无法移动时，需要用到特殊的探头，这些探头包裹一层柔性橡胶，可以直接放到样品上面，用光纤将其与主机相连。基于不同的应用，有三个型号可选。 MP-FLVi：用于基底较薄且透光的薄膜，需要消除背面反射 MP-RP90：用于可接受2mm光斑直径及不需要考虑背面反射的样品 MP-RP45：可用45度测量厚度 MP-FLVis 包含可见光聚焦镜头，0.4mm光斑直径 MP-RP90 2mm光斑直径，光谱范围较宽 MP-RP45 包含两个石英准直器，以45度角测量样品 我们乐意为您进行免费样品测量，欢迎来电咨询。 美国Semiconsoft中国总代理
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Email：.cn 上海全耀代理产品：膜厚测量仪，薄膜测试仪，膜厚仪，厚度测量仪以及MProbe MSP显微薄膜测试仪等，欢迎广大用户前来订购。
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被MProbe Vis测厚仪测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs,
InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物涂层(聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)。 测量范围: 15 nm -50um 波长范围: 400 nm -1100 nm MProbe Vis薄膜测厚仪适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy,
Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。 测量指标：薄膜厚度，光学常数 界面友好强大: 一键式测量和分析。 MProbe Vis薄膜测厚仪实用的工具：曲线拟合和灵敏度分析，背景和变形校正，连接层和材料，多样品测量，动态测量和产线批量处理。
（MProble NIR薄膜测厚仪系统示） 性能参数：
精度 &0.01nm or0.01%
准确度 &0.2% or 1 nm
稳定性 &0.02nm or 0.03%
光斑直径 标准3mm, 可以小至3um
样品大小 大于1 mm
案例1，300nm二氧化硅薄膜的测量： 硅晶圆反射率，测量时间10ms： 案例2，测量500nm氮化铝，测量参数：厚度和表面粗糙...
该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs,
InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物涂层(聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺) 测量范围: 1 nm -20um(UVVis)，1nm-150um(UVVisNIR) 波长范围: 200 nm -1000 nm(UVVis) 200nm-1700nm(UVVisNIR) 适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy,
Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等； 蓝宝石基底上1025nm厚度的氧化物薄膜的反射率和透射率，波长范围(200-1700nm)： 系统性能参数：
精度 &0.1nm or 0.01%
准确度 &0.2%or 1 nm
稳定性 &0.05nmor 0.03%
光斑直径 标准2mm, 可以小至3um
样品大小 大于1 mm 测量指标：薄膜厚度，光学常数 界面友好强大: 一键式测量和分析。 实用的工具：曲线拟合和灵敏度分析，背景和变形校正，连接层和材料，多样品测量，动态测量和产线批量处理。 技术参数： 测量范围 ...
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS,
CdTe)可以快速的测量。 测量范围: 100 nm -200um 波长范围: 900 nm -2500 nm 适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy,
Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等 测量指标：薄膜厚度，光学常数 界面友好强大: 一键式测量和分析。 实用的工具：曲线拟合和灵敏度分析，背景和变形校正，连接层和材料，多样品测量，动态测量和产线批量处理。
NIR薄膜测厚仪系统示） 系统性能参数：
精度 &0.01nm or 0.01%
准确度 &0.2%or 1 nm
稳定性 &0.02nmor 0.03%
光斑直径 标准3mm, 可以小至3um
样品大小 大于1 mm 技术参数： 测量范围 100nm-200um 精度 &0.01nmor 0.01% 准确度 &0.2%or 1 nm 稳定性 &0.02nmor 0.03% 波长范围 NIR: 900-1700 NIRX: 900-2200 NIRX2:nm ...