我们专注于薄膜厚度测量---we are focus on thin film thickness measurement
上海全耀仪器设备有限公司专注于薄膜厚度测量市场，是美国顶尖的光学薄膜厚度测量解决方案的供应商---Semiconsoft公司在中国的总代理。
半导体（硅，单晶硅，多晶硅）、半导体化合物（AlGaAs,
InGaAs，CdTe, CIGS）微电子机械（MEMS）、氧化物/氮化物、光刻胶、硬涂层（碳化硅，类金刚石炭）、聚合物涂层（聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯聚酰胺）、高分子聚合物 …
我们非常乐意与您讨论有光薄膜的任何问题，希望我们多年的薄膜厚度测量经验能解决您所遇到的薄膜厚度测量问题，我们也很乐意为您的薄膜样品免费进行测样。公司主营：膜厚测量仪，薄膜测试仪，厚度测量仪以及测厚仪等产品。
最具性价比的薄膜测试仪-------敬请联系，全国服务热线：400-992-5592 邮箱：.cn
行业应用Industry Applications
氧化锌(ZnO)异质结构常用于LED应用中，以提高透光性。MProbe UVVisSR用来测量氧化锌(ZnO)薄膜的厚度及光学常数，异质结构为重复60次的氧化锌/三氧化二铝膜层(ZnO/Al2O3 x 60)。为了测量ZnO和Al2O3的光学常数，我们测...
离子注入广泛的应用于晶圆制造，为了调整注入工艺和质量控制，需要测量注入层的厚度。因为离子注入工艺的影响，非晶硅的光学常数会与标准非晶硅的光学常数相差较大。所以，大多数情况下需要测量非晶硅的光学常数。 ...
聚氨酯材料广泛地用于金属表面聚合物保护膜涂层，为了确保其耐用性，多数情况下需要控制涂层的厚度。我们用MProbe
VisHR薄膜测厚仪测量了四个金属表面聚氨酯涂层的厚度，这四个样品的基底为铝、钢铁和两个镍，我们...
当一束光入射到薄膜表面时，薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉，干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关，反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。 反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、精确且快速...
MProbe系列薄膜测厚仪
本仪表内置高精密双探头，利用电磁感应和涡流效应，全自动探测基材属性，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多...
EC-770 两用涂层测厚仪
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被MProbe Vis测厚仪测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs,
InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金...
MProbe Vis薄膜测厚仪
该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs,
InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚...
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪
该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs,
InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚...
MProbe RT薄膜测厚仪
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS,
CdTe)可以快速的测量。 测量范围: 100 nm -200um 波长范围: 900 nm -2500 nm 适用于...
MProbe NIR薄膜测厚仪
随着膜厚仪市场的发展与壮大，我们可以发现在现下市场中，该类设备的生产厂家以及种类越来越多了，对于一些新客户来说，他们在设备的选择上就显得比较困惑，不知道哪一家的质量比较好，不知道选择哪一款比较好。接下...
膜厚仪在现代化社会发展当中属于一种高科技仪器，随着科技的进步，行业的发展，此仪器的适用范围逐渐扩大，同时它的使用需求量也在不断的增长，其实这种仪器有很多种类，大家该怎么选择才最合适呢?我们看下文当中的...
在现如今的工业生产当中，为了保证最终的生产质量，通常会使用各种专业的测量仪器来测量产品的规格，从而保证生产产品的最终规格和标准程度，那么在众多测量仪种类当中，大家为什么要使用厚度测量仪呢?使用的时候需...
我国的经济速度发展很快，市场对薄膜厚度测绘仪的需求也是很大
，随着企业进行改革，越来越多的生产测绘仪的企业产生了。这也在一定程度上让市场竞争更加的激烈，所以国内的测绘仪厂家要想更好的发展，进入到国际市...
在加工行业当中，工人们经常使用到的一类测量仪器是膜厚仪，膜厚测量仪能够对各类材料进行厚度的精确测量，从而能够给加工企业带来很好的参考建议。让它们能够做出详细判断和考量，以此来有效避免生产后期的大量返工...
说起包装行业，相信大家都是不陌生的，因为在日常生活当中大家就会每天都接触到这样或者是那样的包装，随着社会各大行业的发展，用在包装生产方面的设备也多了起来，薄膜测厚仪就是其中一种，接下来我们就看看它存在...||||||||||
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薄膜厚度测量仪CHY-U产品介绍
　　包装材料厚度是否均匀，是检测其各项性能指标的基础。包装厚度不均，会影响到其阻隔性、拉伸强度等性能；此外，对材料厚度实施高精度控制也是确保产品质量与控制生产成本的重要手段。&　　薄膜厚度测量仪又可称为厚度仪、薄膜测厚仪、纸张厚度测定仪、台式测厚仪等。济南三泉中石生产的测厚仪系列产品，采用机械接触式测量方式，专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。&　　济南三泉中石研发生产的薄膜厚度测量仪CHY-U自动保存最多100组测试结果，随时查看并打印，配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输，标准量块标定,方便用户快速标定设备。薄膜厚度测量仪&　　薄膜厚度测量仪CHY-U产品介绍：&　　三泉中石生产的薄膜厚度测厚仪CHY-U适用于薄膜、电池隔膜、太阳能电池硅片、纸张、胶带等硬质和软质材料厚度精确测量。是一款超高测试精度的全自动测厚仪，测厚仪被广泛应用于质检机构、薄膜生产厂家、光伏厂等单位。&　　薄膜测厚仪主要参数：&　　测量范围：0-2mm (其他量程可定制)&　　分辨率 ：0.1um&　　测量速度：10 次/分(可调)&　　测量压力：17.5&1kPa(薄膜)；100&1kPa(纸张)&　　接触面积：50mm2(薄膜)，200mm2(纸张)&　　注：薄膜、纸张任选一种&　　进样步矩：0 ～ 1300 mm(可调)&　　进样速度 ：0 ～ 120 mm/s(可调)&　　外形尺寸：450mm&340mm&390mm&　　重量：23kg&　　薄膜出厂前要用专业的检测设备对薄膜外观质量进行评定，济南三泉中石实验有限公司还生产薄膜热收缩性测试仪、热封强度的测试仪、薄膜与薄膜的摩擦系数试验机、薄膜屈服强度、断裂强度、断裂伸长率的测量检测设备等，欢迎咨询电话！
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5 月 7 日—5 月 11 日，在阳光明媚的美国佛罗里达州中部城
注塑机在我国塑机行业里占据着重要地位，塑机行业的发展与注塑机的发展薄膜厚度测量仪基本原理和应用有哪些？【测厚仪吧】_百度贴吧
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薄膜厚度测量仪基本原理和应用有哪些？收藏
薄膜厚度测量仪的使用让我们的产品厚度能够更精确，这个对于我们的作用亦是毋庸置疑，没有这种精密的测厚仪，对我们来说绝对是一个“灭顶之灾”，产品不合格、退货等问题都将接踵而至，因此薄膜厚度测量仪对我们来说是非常重要的一个测量厚度的设备。想要使用薄膜厚度测量仪那么就要了解薄膜厚度测量仪的原理应用，这样才能最大程度上的保证产品质量大成精密小编给大家介绍下薄膜厚度测量仪原理与应用
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一、典型应用：箔材及隔离膜来料张力均匀性检测。该设备通过对薄膜材料的波浪边、塌边幅度进行测量，以帮助用户了解薄膜来料张力是否一致，是否能满足涂布或使用要求。二、测量原理：采用激光测量位移差的方式，测量薄膜在一定张力下的表面平整度，并根据设定规则自动识别坏品。张力测量模块由一个激光位移传感器、驱动机构组成。通过可调张力张紧薄膜被测物后，驱动机构带动位移传感器横向来回扫描，得到膜片横向的高度差，根据转换关系转换成张力均匀性差异。
三、设备种类：1、多功能型a.2-120N张力可调（参数调整），可兼容薄膜、极片、基材(铜箔、铝箔)等的张力均匀性测量要求b.自带收放卷机构，可成卷检测c.数据收集系统，可形成分析报告2、经济型a.设备经济性好b.用于极片、隔离膜、薄膜、铜箔、铝箔的左右，张力均匀性测量c.裁取样品离线式测量深圳市大成精密设备有限公司是一家集研发、制造、销售、服务于一体的国内领先的新能源设备生产企业，目前公司主要专注于锂电池极片面密度以及厚度监测的在线无损检测设备，主要产品有β-Ray在线面密度测量仪、在线X-Ray面密度测量仪、涂布型激光测厚仪、辊压型激光测厚仪。
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QQ在线客服概&&况/薄膜厚度测量仪
名称：薄膜厚度测量仪型号：CHY-C2用途：适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。
包材厚度的检测意义/薄膜厚度测量仪
薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。
应用领域/薄膜厚度测量仪
对有些材料而言，厚度测量是衡量材料质量的基础手段。测量的对象往往是对厚度有较高要求的材料，例如薄膜、塑料、橡胶、纸张、纺织品、金属箔片（铝箔、铜箔、锡箔等）、板材等等。测量厚度的目的也逐渐由控制外观质量发展成为保证材料进一步完善加工的主要方法。因此，以节约成本、提高工业化生产效率为目的，材料厚度的测量受到了各行各业的广泛关注。
技术特征/薄膜厚度测量仪
的技术特征 微电脑控制、液晶显示菜单式界面、PVC操作面板接触式测量测头自动升降手动、自动双重测量模式数据实时显示、自动统计、打印显示最大值、最小值、平均值和统计偏差标准接触面积、测量压力（非标可选）标准量块标定微型打印机RS232接口网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
技术参数/薄膜厚度测量仪
的技术指标测量范围：0～2mm；0～6mm，12mm（可选）分 辨 率：0.1μm 测量速度：10次/min（可调）测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张） 接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电　　源：AC 220V 50Hz 外形尺寸：300 mm(L)×275 mm(B)×300 mm(H)净　　重：33kg
执行标准/薄膜厚度测量仪
GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3-2002(纸和纸板厚度的测定)、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
仪器配置/薄膜厚度测量仪
标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 选 购 件：专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码
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