电路原理图中长导线等值电路中的kr上标注的ADC是什么意思

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模拟电路问答
&&模拟电路 一些 问答
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STM32ADC电路连接
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本帖最后由 lian-413271 于
13:30 编辑
要使用stm32f407的adc来采集外部电池电压,电压最大为8.4V,使用电阻分压到2.5V由ADC采集,但是现在有一个问题是:两个分压的电阻选取多大的合适?如果分压电阻太小,功耗会比较大,电阻太大的话则会分压不准确,ADC的输入阻抗会与电阻并联。所以想请教大家STM32的ADC的输入阻抗是多少,外部的分压电阻的阻值如何计算?我从官方看到的ADC的参考电路如下:
那个R AIN电阻是必须的吗?再有,那个RADC电阻,手册上称为 Sampling switch resistance,不知道这个是什么含义啊
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是不是必须不太清楚,按照参考设计准没错
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本帖最后由 wambob 于
19:47 编辑
Sampling switch resistance&&这个是开关取样电阻,是为了缓冲采样电流.
将采样电容器器充电到适当电压所需的电流必须由连接到模数转换器输入端的外部电路提供。当RADC是导线时,对电容器进行充电需要大电流。这一瞬态电流的大小是采样电容器容值、电容开关频率和采样节点电压的函数。
这个开关电流由下式表示:
  Iin=CVf
其中,C为采样电容器的电容值,V为采样节点上的电压,f为采样开关进行开关操作的频率。这个开关电流会在采样节点产生较高的电流尖峰
两个 箝位二极管可有效限制加在转换器内部晶体管上的电压。如果输入电压与电源轨之差超过了二极管压降(通常为0.7V),则二极管将开始传导电流并限制电压。
建议楼主参考
如何选择模数转换器的输入采样结构?
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我猜测:Radc跟底下的C构成低通滤波电路。这属于STM32芯片内部的电路了,不太懂啊
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我猜测:Radc跟底下的C构成低通滤波电路。这属于STM32芯片内部的电路了,不太懂啊 ...
嗯,应该是有这个效果的,不过那个电容的主要作用是 作为 采样保持 电容
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是不是必须不太清楚,按照参考设计准没错
其实我主要想确定是这个图中R10 和 R13该如何取值,AD的输入电压是由这个电阻分压后输进去的,这个电阻不可能太大,也不能太小呀
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这是我在网上找到,看能否解决你的问题
1、负载能力。如果之后的电路电流较高,则分压电阻应小一些,以保证分压电路的负载能力。一般应取分压电路的电流不小于10倍的负载电流。例子中若分压点只为给运放的输入端提供中点电压,则可以用两个100K、甚至更大的电阻。& & 2、电压稳定性。如果电路对分压点的电压稳定性要求较高,则分压电阻应小一些,以保证分压电路的负载能力。例子中若分压点是给运放的输入端提供中点电压用,由于参考电压偏离会影响电路的精度,则应考虑该点电压的稳定性,应考虑选取小一些的,比如3K、甚至1K。& & 3、耗电量。用电阻进行分压会消耗一定的电流,若要节电,在保证电路正常工作的前提下,应选取电阻大一些。& & 4、抗干扰能力。若电阻过大,则分压点易受外界干扰。一般是在分压点到地之间再并联一个小电容,将外界干扰过滤掉。& & 按以上所述,实际分压电阻的大小应根据实际电路的情况,可从1K到200K之间进行优化选取。&&一般Vref为的是提供参考电压,电流能力都不是很大,在10mA以下。为了保证Vref的精度,也不建议在Vref上接入较大的负荷。若需要更大的电流供应能力,可在Vref端外接电流放大电路,向后续电路提供电流。
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其实我主要想确定是这个图中R10 和 R13该如何取值,AD的输入电压是由这个电阻分压后输进去的,这个电阻不 ...
1.Rain 就是你的信号源的等效阻抗,按照你的图里就是Rain = 10/(10+23.6);
2.电阻可以取大点,可以按照407手册里最大Rain=50K,你算下分压电阻就好了!
3.如果想降低点等效阻抗可按照图加对地电容,由于电容充放电需要时间,要获得准确点的值,必须降低采用频率Fadc,也就是提高采用周期!
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1.分压电阻没必要太精确,确保最大分压低于AD满量程即可,串入电位器进行校准
2.输入阻抗尽可能大一些。宽范围电压采样情况下,可以选用低温漂电阻
3.如 8.4伏最大电压,可以采用300K+100K电阻+5K电位器。ADC满量程输入电压大约2.2V。按比例换算成电池电压即可。3.3V/0)=0.003,即可实现3mV的电池电压测量分辨率。
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我在使用中分压电阻一般用100K左右,加入那只电容可以降低ADCc采样时误差。
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数字电子技术实验报告日期:
日 一 实验内容和要求(1) 用加法器实现2位乘法电路。(2) 设计一个电路,输入信号50mV 到5V 峰峰值,1KHZ ~10KHZ 的正弦波信号,输出信号为3到4V 的同频率,不失真的正弦波信号。精度为8位,负载500Ω。二 实验步骤1. 基础实验:用加法器实现2位乘法电路1.1 设计任务要求用加法器实现2位乘法电路图1-1 乘法运算过程1.2 设计方案及论证(1) 任务分析根据以上乘法运算的过程,可以将两位二进制相乘简化为如下过程:两个两位二进制数A1A0和B1B0,将每一位A1,A0,B1,B0分别经过与门,相与得到A1*B0,A0*B0,A1*B1,A0*B1,形成新的二进制的两位数,即0,0,A1*B0,A0*BO和0,0,A1*BI,A0*B1,将后一个新的二进制数左移一位,两个新的二进制数同时送入累加器相加,即实现了一个两位二进制数字电路的乘法运算过程。 (2) 方案比较实验所要求的只是两位二进制的乘法计算,只用一片74LS283(四位加法器)就可以完成,若要求2位或更高位的乘法电路时就需要两片或更多的累加器进行级联才能实现该乘法功能。(3) 系统结构设计使用一个74LS08(四与门) 芯片,一个74LS283(四位加法器)芯片,以及试验箱上控制高地电平的4个开关,一个自带8421BCD 译码功能的数码管。具体电路设计如图1-2所示。(5) 具体电路设计图1-2 二位乘法电路原理图 1.3 制作及调试流程(1) 制作与调试流程首先用导线连接数码管BCD 码输入端测试数码管是否有用,测试数码管是共阳极的,以及控制高地电平的开关是否正常,然后再进行电路的连接,最后通过改变开关控制输入,来观察数码管显示。 (2) 遇到的问题及解决的方法由于有些导线接触不好,在第一次连接完电路之后,并没有出现预期的效果,检查了一遍电路,发现没有错误,然后用万用表测试了一下所有导线,去掉接触不良的导线,得到了理想的效果。1.4 系统测试(1) 测试方法把输入端的数字从0到3进行调整,观察数码管的数据变化,若能够正常显示从0到9之间的正确数据,那么就证明该系统实现的功能是正确的。(2) 测试数据通过依次改变各位的输入电平,观察数码管显示示数乘法运算的结果,列出下表1-1:表1-1 测试数据表测试数据完全符合乘法运算的规则,均为正确结果,所以证明电路设计正确,利用加法器实现乘法功能的思路可行。(3) 数据分析和结论通过对上面数据的分析,可以知道,当输入从0到3变化的时候,输出的数据变化从0到9进行变化。1.5 总结(1) 本人所做工作第一个是实验的基础部分,要求的是独自完成,我所做的工作有电路的设计,电路的连接,以及对实验的检查。(2) 收获与体会通过这个实验,我对逻辑关系有了一个更深的了解,实验虽然很简单,但是在做的时候还是有小错误发生,而且有的对实验有决定性的影响。所以,细节决定成败,对于下一个实验也有了更充分的预习准备。2. 发挥部分:中频自动增益AGC 控制数字电路 2.1 设计任务要求(1)设计一个电路,输入信号50mV 到5V 峰峰值,1KHz~10KHz的正弦波信号,输出信号为3~4V的同频率、不失真的正弦波信号。精度为8位,负载500Ω。 (2)若输出波形成为一条直线,可能的原因是什么?电路应如何修改。2.2 设计方案及论证(1) 任务分析在数字电路中,实现自动增益AGC 电路,可以用具有除法功能的DCA 转换模块,其分析如下: 图2-1 R-2R网络型D/A转换器R-2R 网络型D/A转换器如图2-1所示,当参考电压为U REF ,而整个R-2R 网络作为反馈网络时 u o =-iRf =-若我们选用DAC0832,DAC0832与运算放大器的连接如下U REF R f 2Ri ∑7i=0D i 2(式0-1) 图2-2 DAC0832乘法连接当参考电压U REF 为正时,电流由U REF 经之路电阻流入I out1或I out2;当参考电压U REF 为负时,则电流I out1或I out2经之路电路流入U REF ,从而在I out2接地情况下,输出电压u o =-Iout1R f =-U REF 28Ri ∑7i=0D i 2 (式0-2) 当参考电压U REF 为正时,u o 为负,当参考电压U REF 为负时,u o 为正。参考电压U REF 既然可负可正,那么U REF 端可以加一个交流电压u i (工作于四象限),从而u o =-u i 2i ∑7i=0D i 2(式0-3)简写为u o =Ku i D (式0-4) 这里K 为系数,D 为与输入数字量。可以看出u o 正比于u i 与D 的乘积,所以可以构成乘法电路。若将反馈电阻的输出端加上交流输入信号u i ,I out2接地并接到运算放大器的同向输入端,I out1接到运算放大器的反向输入端,参考电压U REF 同时接到运放的输出端,则把R-2R 型电阻网络构成运算放大器的反馈元件,用R-2R 型电阻网络和运放实现了模拟信号被数字信号相除的除法器即u o =Ku i /D (式0-5) 若将输入信号u i 的峰值或者有效值提取出来,经过ADC 转换,转换为数字量D ,则式0-5中的输出u o 为一个定值,即当输入信号增大时,D 也同时增大,输入信号减小时,D也跟着减小,u o 保持在一个很小的范围内变化,即实现了数字的自动增益AGC 电路。D 我们提取的是u i 的峰值的数字量。(2)方案比较实现输入信号的u i 峰值的提取我们想到的方案一共有三个,分别如下: a) 用单片机检测信号的峰值 图2-3 8051单片机与ADC0808连接 图2-4 8051单片机与DAC0832连接输入信号先经过ADC 转换,转换为8位数字量D ,将其输入到8051单片机的P1管脚,单片机逐个扫描P1管脚的高地电平,适当降低ADC 的转换速率,单片机可以读出每一瞬间的8位数字量D ,并依次进行比较,求出最大值即输入电压的峰值,将其从P2口输出到DAC ,转换为模拟量电流,同时经过触发DAC 电路,使输出保持定值,实现了自动增益的要求,同式(0-5)。在输入信号的前一级加入一个模拟峰值包络检波电路 图2-5 ADC0808前级加上模拟峰值包络电路如图2-5所示,在ADC0808前级加上模拟峰值包络电路,即先将输入信号的峰值提取出来,再进行AD 转换,转换为数字峰值D 送入DAC0832中,DAC0832的模式选择单缓冲方式,连接为除法电路,同样也实现了数字自动增益AGC 电路。用比较器和锁存器配合,共同完成峰值的监测。 数字电子技术实验报告 电子1201班 图2-6 比较器和锁存器峰值检测AGC 电路 9 数字电子技术实验报告 电子1201班通过锁存器锁存前一时刻电压值与现一时刻的电压值进行比较,若现一时刻的电压值大于前一时刻电压值就锁存现一时刻的电压值,否则一直锁存前一时刻电压值,同样也实现了对输入电压峰值检测的目的,通过后端的DAC 除法电路来完成自动增益。 下面对三种方案进行比较:对于方案a 来说,由于采用了单片机,大大简化了电路的复杂性,只需要编写相应的引脚扫描、峰值比较、定时刷新和最大值输出的程序即可,但是本实验需要采用的是逻辑电路来实现,不符合要求,顾不采用次方案。方案b 在ADC0808输入前端加上了一个模拟的峰值包络检波电路,可以预先提取出电压的峰值,直接进行AD 转换,由于直流信号可以很方便地直接进行AD 采集,并且不需要很高的采样频率。还能很好的抑制电路噪声,调整输出幅度大小。再结利用DAC0832的除法功能,AD 采样后的数字信号即为电压峰值作为DA 的数字输入,从而实现自动增益。由于这个方案前端采用的是模拟电路来实现,不符合实验要求,且需要考虑模拟地与数字地之间的连接问题,容易影响波形,且峰值检波电路不容易在试验箱上实现,故此方案也不采用。方案c 只运用了逻辑门电路就实现了实验要求,且设计巧妙得结合了锁存器不同时刻锁存和比较器中下一时刻电压比较,虽然对锁存和比较时间的时间控制较为严格,但可以方便地提取出电压峰值,故采用此方案。 (3) 系统结构设计使用一个ADC0809芯片、一个DAC0832芯片、两个74LS85比较器芯片、两个74LS373锁存器芯片、一个74LS161计数器芯片、两个74LS00与非门芯片、一个74LS04的非门芯片和一个LM324运算放大器芯片,电路的连接如图2-6所示。 (4) 具体电路设计此次实验所用到的芯片包括模数转换器ADC0809CCN ,由两片4位数值比较器7485构成的8位比较器,四组二输入与门74LS08,8位锁存器74LS373,数模转换器DAC0832,计数器74LS161,与非门74LS00,非门74LS08。具体电路设计及原理分析(如图) 图2-7 模数转换器ADC0809电路连接图ADC0809为模数转换器,IN0~IN7为8个标准的CMOS 模拟开关,ADDA~ADDC为3位地址锁存器,8个模拟通道一一对应3位地址选择组成的8种状态,设计图中选择模拟通道IN0,所以ADDA~ADDC均接地置零。参考电压VREF(-)接地,VREF(+)接5V ,ADC0809的作用是完成模拟量u i 转换为数字量D ,以便完成中间级电压峰值的比较。因为START 与ALE 、EOC 相连,所以在通道选定的同时开始A/D转换,上一次转换结束就开始下一次转换,直到转到最低位为止。转换后输出数字信号低4位传送到8位比较器的低位片,高4位传送到高位片。 (2)比较器7485级联 图2-8 4位比较器级联为8位比较器由于实验要求的精度为8位,故ADC0809输出的电压数字量为8位,需要将两片4位比较器74LS85级联构成8位比较器。 高位片的4位先进行比较,由于没有更高位比较结果输入,所以其级联输入端IA 》B 接低电平,IA=B接高电平,IA 《B 接低电平。低位片的4位后进行比较,故将高位片的QAB分别与低位片的IA 《B , IA=B,IA 》B 连接。如果两个高4位数不等,则输出取决于高位片结果,否则取决于低4位的输出结果。级联成8位比较器的输出结果用于控制锁存器件进行信号的锁存。 (3) 双门控信号的控制如图2-9所示,74LS161在时钟信号的控制下进行计数,在计数不满8之前,输出1和输出2都为高电平,在8个时钟脉冲之后,输出1输出一个低电平,在计数满16之后,计数器的进位端输出1,则输出2输出一个低电平。假设74LS161的时钟频率为f s1, 则输出1s1输出低电平的频率为s1, 输出2输出低电平的频率为16。 8f f 图2-9 74LS161的时序控制 图2-10 74LS161的时序控制锁存器(4) 锁存器锁存器74LS373的连接如图2-10所示,与与门阵列直接相连的为一级锁存器,后一个为二级锁存器。从电路的连接图中,可以看出当电路刚开始工作时,74LS161的输出1和输出2均为高电平,一级锁存器为74LS 系列,刚开始B 中的8位二进制位8个1,此时A>B不成立,故一级锁存端一直为低电平,二级锁存器的锁存端一直为低电平,在74LS161的16个时钟周期之后,输出2出现低电平,此时与门阵列全部输出低电平,同时一级锁存器的LE 为高电平,在下一时刻一级锁存器的LE 变为低电平,此时锁存8个0,此时进入开始进入正常工作状态,当A>B的时候锁存更新A ,A<B的时候不进行更新锁存,74LS161的每8个时钟周期,若有A<B,则二级锁存器锁存前一级的输入。74LS161的每16个时钟周期,进位端输出1,输出2输出低电平,关闭与门阵列,使其全部输出0,同时下一时刻锁存与门输出的0,对74LS373的锁存进行更新,防止一直锁存最大,但是不是此时的错误的最大值。这样反复循环,8位比较器与两个锁存器配合,以及锁存器能够在74LS161的每16个时钟周期之内锁存输入信号的最大值,二级锁存器能够在74LS161的每8个时钟周期之时更新锁存前一级锁存器锁存的电压峰值的数字量,保持提供给DAC0832进行DA 转换。 (4)数模转换器 图2-11 数模转换电路电路图DAC0832内部没有提供运算放大器,在设计时需要外接,外接运算放大器构成触发电路,如公式0-5所示,实现了自动增益控制的同时输出电流模拟量。在这个设计当中,由于采用了两个锁存器,故DAC0832的模式选择为直通方式,所以WR1,WR2,LE ,XFER 均接低电平。 (5)运算放大器 图2-12 运算放大器连接示意图在这个设计中我们使用了通用运放LM324。电压跟随器驱动负载的能力很强,所以在本电路中,iout1端口电流经过一级运算放大器转换为电压后,再连接一级运算放大器,这样可以提高驱动负载的能力,同时可以方便调节第二级运算放大器的增益值来获得我们所需要的电压值的大小。2.3 制作及调试流程(1) 制作与调试流程首先进行电路图设计仿真,根据计算的理论值再进行适当的参数调整,仿真结果为预期效果之后进行电路图的连接。在连接试验箱电路之前,我们用万用表测量了每一根连接的导线,以免在后续的测试过程中出现无法查找的错误。由于采用了ADC0809,所以用高的时钟频率有利于提高采样率,故ADC0809的时钟频率为1MHZ,为了使输出的波形稳定,不出现抖动的现象,74LS161的时钟频率应尽量小于输出的时钟频率,故74LS161的时钟频率选择1KHZ 。ADC0809的参考电压选择为5V ,LM324的正偏置为+12V,负偏置为-12V 。 调试的方法流程:先把输入调至高电压然后在这个基础上改变电压值,观察输出与输入的电压幅值和频率的变化。然后把输入调至小信号,也在这个基础上改变电压,观察电压幅值和频率的变化。 (2) 遇到的问题及解决的方法由于连接线路的粗心,我们一共连接了三次电路,前两次打的输出波形只有正弦波,没有自动增益AGC 的效果。我们在ADC 的输入加上了直流,然后用万用表依次测量了ADC 的8位输出电平和DAC 的8位输人电平,发现ADC 的输出的数字量对应的模拟量刚好与输入的电压相反,我们仔细检查了电路图和自己的连接情况,发现我们仿真时库里提供的ADC 模型只有ADC0808,而实际用的是ADC0809,而ADC0808和ADC0809的输出端管脚的高地位是恰好相反的。在改正了连接的错误之后,第三次连接的输出有很好的自动增益的效果。但是输出的波形当输入电压变大的时候存在一定底部失真,经分析得出结论是由于ADC0809不提供负电压的转换,故当输入为负半周期时会出现底部失真。2.4 系统测试(1) 测试方法改变频率从1K 至10KHZ ,在每一个固定的频率点,再改变电压从50mV 至5V ,依次观察测量输出的波形,输出波形的频率和幅值。并记录数据。 (2) 测试数据表2-1 输出波形的参数记录 (3) 数据分析和结论 图2-13 实物连线图
图2-14 示波器显示图2.5 总结(1) 本人所做工作在本次实验中,本人负责设计和改善电路图以及对电路的检查 (2) 收获与体会此次实验发挥部分比基础部分难多了,更加复杂。刚开始对于实验设计原理不是很清楚,在自学了DA 和AD 转换之后,对于原理有了了解。同时我觉得有的时候不只是要读书,更是要动手锻炼自己的实践能力,纸上得来终觉浅。 (2) 对本课程的建议这个实验来说,我觉得指导老师能更好的解释一下原理,而且在实验过程中我们也遇到了好多问题,虽然最后解决了,但是解决的方法我们都不太清楚。三 实验研究问题(1)DAC0832工作方式有哪些?根据对DAC0832的数据锁存器和DAC 寄存器的不同的控制方式,DAC0832有三种工作方式:直通方式、单缓冲方式和双缓冲方式。(2)引入竞争与冒险现象,探究其产生原因。在电路中,由于采用了较多的逻辑门电路,且信号变化时的过渡过程是不一致的,门电路的传输存在延时,当不同路径输入到同一个门电路,会产生竞争冒险现象,产生毛刺,不仅电路工作速度和最高工作频率受到限制,而且使波形的输出不稳定,出现抖动等。(3)测量输出信号失真方法有哪些?失真度测量按照量程分为一般失真度测量0.1~100、小失真度测量0.01~30和超低失真度测量0.001~10;按照自动化的程度可分为半自动失真度测量和自动失真度测量;信号处理方法大致可分为两类:模拟法和数字化方法;根据仪器可分为基波剔除法和频谱分析仪法。(4)估算或测量综合部分输入到输出的时间?ADC0908在一定的时钟频率下转换时间是固定的128μs。DAC0832在一定的时钟频率下电流稳定时间为1μs。(5)A/D和D/A转换电路的参考电压和输出最大电压有什么关系?A/D和D/A转换电路的参考电压约等于输出的最大电压。(6)当输出成为一条直线时,能否达到自动增益控制的目的?当输出为一条直线时候,说明输入电压幅值为0,故不能达到自动增益的效果。 (7)输出负载改为8Ω,应如何修改电路?修改第二级运算放大器的反馈电阻的大小,改变增益,使其能够驱动负载。四 实验结束反思和回顾(1) 实验电压波下半部分出现截底失真和交越失真,原因探究?对于截地失真,实际上,ADC0809不支持负电压,我们通过直接将示波器和信号源同时接在ADC0809输入端,结果显示波形就已经出现失真;改善的方法是在ADC0809输入端接入0.2V 左右的二极管,过滤掉输入信号的负电压,由于要求的输入信号为50mv 到5v ,当电压小于200mv 时二极管截止,则需要在二极管之前接入运放抬高信号,从而消除截底失真。对于交越失真,是由于电路中使用了LM324运算放大器,所以是不可避免。(2) 分频器控制电路改善?在本实验原理图中,实际上,当计数值未达到16且A>B时一级锁存锁定最大值,在计数值的9-16期间,一级、二级均锁定前8个数内比较出的最大值,因此,倘若将74ls161的Q0Q1Q2Q3值更改为0111,则一级、二级均锁定前15个数内比较出的最大值,提高了最大值选择的准确率。(3) 锁存器电路改善?实际上,DAC0832内部有两级缓存,可以在原理电路中减少二级锁存器的使用。 五 参考文献[1]侯建军主编,数字电子技术基础 [专著] /. -- 第2版. -- 北京 : 高等教育出版社, 2007 数字电子技术实验报告 电子1201班 六 实验感想本次实验最大的收获是体会了数字电路和模拟电路的不同,数字电路利用组合电路和时序电路控制,巧妙的在0和1之间进行转换完成实验效果;其次,实验开始时没有冷静思考整个的电路原理和查看器件手册,导致实验过程中ADC1的时钟频率的选取出现问题,解决的办法也是在不断的试验中得出,并没有从根本上分析。在今后的学习科研中要认真细致的思考问题的前因后果,从根本上解决问题,而非碰巧得到结果,而不知其所以然; 最后,这次实验对我有一点启发。整个一周的实验内,我们小组总共连了3遍线,由于头两遍没有对导线做标记,导致最后出不来波形也没办法回头检查,只能重连。实际上这是学习过程中积累的浮躁和急功近利的表现,结果反而浪费了更多的时间,最强烈的对比就是其他班级的同学有一遍连线就出了结果,原因很简单,他们对每一条重要的连线都做了标注,一旦出不了结果,可以方便检查电路,而不需要重新连接。所以在今后的学习科研中,一定要一步一个脚印,“按部就班”不只是形容人的呆板,也形容人的严谨。 21 本文由(www.wenku1.com)首发,转载请保留网址和出处!
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