有集成电路测试仪使用方法芯片测试仪的电路图吗

来源：蜘蛛抓取(WebSpider) 时间：2020-06-11 04:43 标签： 集成电路测试仪使用方法

循环测试-判定间歇性故障元器件哽准确

采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温度引起的故障,并显示单个管脚的诊断信息.

简介: 可测元器件包含TTL系列,CMOS,存储器,大规模集成电路测试仪使用方法,接口芯片以及其它多达40管脚的器件,不断扩充的多达上千种元器件库,元器件库可以自行编程扩充升级.

?内置元器件库可扩充升级
?显示单个管脚故障诊断信息
?可选编程软件与PC实时通讯测试
?可以选择不同封装的测试座

可以扩充元件库的編程软件;
与PC实时通讯测试软件;
允许用户根据软件增加新元器件库,并产生新的功能测试,可以满足特殊的应用;
高水平的测试编程描述语言;
最佳嘚模拟和数字测试程序;
可通过RS-232或者USB接口连接电脑;

我们针对实验室某种集成电路测試仪使用方法测试仪在使用中存在的因电源电路的设计不够完善、带负载能力差而存在死机或复位不正常的问题,可以在原有的电路基础上,對电源电路进行改进设计,增加扩流电路,并对改进电路用EDA仿真技术进行对比验证,这就能在实际应用中解决问题,所以本文就将对集成电路测试儀使用方法测试仪电源电路仿真设计的研究与应用方面予以简单的阐述

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