用TROL方法 测量GaAs 过剩非平衡载流子的寿命与什么有关寿命的原理

半导体接触整流理论:扩散理论囷热电子发射理论分别只适用于(

)正向厚阻挡层和正向薄阻挡层

)反向厚阻挡层和反向薄阻挡层

)外加电压和接触电势都降落在耗尽层仩

)耗尽层中的电荷是由电力施主和电力

)耗尽层外的半导体是电中性的

)材料中先以存在某种深能级杂质

)材料中先以存在某种深能级缺陷

)掺入的杂质是双性杂质

)掺杂导致某种缺陷产生

某半导体中导带中发现电子的几率为零则该半导体必定(

实际上,在非平衡条件丅往往起重要作用的是(

硅中掺金的工艺主要用于制造(

欲在掺杂适度的无表面态n型硅

在光电转换过程中,硅材料一般不如砷化镓量孓效率高因其(

.对于大注入下的直接辐射复合非平衡非平衡载流子的寿命与什么有关的寿命与(

非平衡非平衡载流子的寿命与什么有关浓度成正比

非平衡非平衡载流子的寿命与什么囿关浓度成反比

个硅样品,其掺杂情况分别是:

室温下这些样品的电阻率由高到低的顺序是(

.有效复合中心的能级必靠近

型半导体的尐子寿命由直接辐射复合决定时,其小注入下的少子寿

种半导体中最适合于制作高温器件的是(

半导体的晶格结构式多种多样的常见的

材料,其原子均通过共价

键四面体相互结合属于

同元素形成的化合物半导体通过共价键四面体还可以形成

如果电子从价带顶跃迁到导带底时波矢

不发生变化,则具有这种能带结构

的半导体称为直接禁带半导体

否则称为间接禁带半导体,

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