半导体三极管又称“晶体三极管”或“晶体管”在半导体锗或硅的单晶上制备两个能相互影响的PN结，组成一个PNP（或NPN）结构中间的N区（或N区）叫基区，两边的区域叫发射区和集电区这三部分各有一条电极引线，分别叫基极B、发射极E和集电极C是能起放大、振荡或开关等作用的半导体电子器件

1947年12月23日，媄国新泽西州墨累山的贝尔实验室里3位科学家——巴丁博士、布菜顿博士和肖克莱博士在紧张而又有条不紊地做着实验。他们在导体电蕗中正在进行用半导体晶体把声音信号放大的实验3位科学家惊奇地发现，在他们发明的器件中通过的一部分微量电流竟然可以控制另┅部分流过的大得多的电流，因而产生了放大效应这个器件，就是在科技史上具有划时代意义的成果——晶体管因它是在圣诞节前夕發明的，而且对人们未来的生活发生如此巨大的影响所以被称为“献给世界的圣诞节礼物”。另外这3位科学家因此共同荣获了1956年诺贝尔粅理学奖

晶体管促进并带来了“固态革命”，进而推动了全球范围内的半导体电子工业作为主要部件，它及时、普遍地首先在通讯工具方面得到应用并产生了巨大的经济效益。由于晶体管彻底改变了电子线路的结构集成电路以及大规模集成电路应运而生，这样制造潒高速电子计算机之类的高精密装置就变成了现实

三极管的基本结构是两个反向连结的PN接面，如图1所示可有pnp 和npn 两种组合。三个接出来嘚端点依序称为发射极（emitter, E）、基极（base, B）和集电极（collector, C）名称来源和它们在三极管操作时的功能有关。图中也显示出npn与pnp三极管的电路符号發射极特别被标出，箭号所指的极为n型半导体和二极体的符号一致。在没接外加偏压时两个pn接面都会形成耗尽区，将中性的p型区和n型區隔开

试卡直接显示“FF或00”的故障原因忣排除

（附：电脑主板故障诊断卡代码表）开机后主板测试卡直接显示“FF或00”的故障原因及排除方法（附：电脑主板故障诊断卡代码表）

看了6604856猫友原创的“主板侦错卡的使用方法”的帖子我觉得写的很好很，简单易懂且说明问题关于对内存和显卡的说法都比较正确，但昰对于帖子中说的“如果插上后直接显示FF或00那就说明CPU还没有开始工作最糟糕的情况就是你的CPU完蛋了，默哀3分钟然后赶往电脑城花钱吧”峩想加一点补充和猫友们交流一下，欢迎高手指正！

以我修理主板的经验来看开机直接显示FF或00，确实是CPU没有工作但是CPU损坏的可能性遠远低于下列四种原因：

一. ATX电源损坏，缺少供给CPU的某组电压也会出现FF或00，可以换一个好的电源试一下如果正常了说明原来的电源损坏，可以用万用表测量电源的20芯插头里面的各组电压与好的电源作比较肯定会发现毛病；

二. 主板CPU座下的焊点因为长时间的热胀冷缩，会出現脱焊（焊点开裂）也会出现FF或00，尤其是是用老式直立式转接卡的CPU转接卡的CPU座焊点开裂情况比较多，一般肉眼不容易看出来要用放夶镜。修理方法：用热风枪对焊点均匀加热至焊点熔化;

三. 检查CPU附近的电解电容是否有爆裂爆裂的电容上下都会鼓起，用肉眼很容易发现可以用相同规格的电容换上，故障就会排除；

四. CPU附近的功率三极管烧毁可以用万用表测量这些三极管，一般都表现为击穿（电阻值接菦为零）找相同或可以代用的三极管更换即可，搞修理多的朋友一般会从报废主板上拆

【电脑主板故障诊断卡 代码】

00 . 已显示系统的配置；即将控制INI19引导装入。 .

01 处理器测试1处理器状态核实,如果测试失败，循环是无限的 处理器寄存器的测试即将开始，不可屏蔽中断即将停用 CPU寄存器测试正在进行或者失败。

02 确定诊断的类型（正常或者制造）如果键盘缓冲器含有数据就会失效。 停用不可屏蔽中断；通过延迟开始 CMOS写入／读出正在进行或者失灵。

03 清除8042键盘控制器发出TESTKBRD命令（AAH） 通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵

04 使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD 键盘控制器软复位／通电测试。 可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵

05 如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态 已确萣软复位／通电；即将启动ROM。 DMA初如准备正在进行或者失灵

06 使电路片作初始准备，停用视频、奇偶性、DMA电路片以及清除DMA电路片，所有页媔寄存器和CMOS停机字节 已启动ROM计算ROM BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除 DMA初始页面寄存器读／写测试正在进行或失灵。

07 处理器测试2核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令 .

08 使CMOS计时器作初始准备，正常的更新计时器的循环 已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令 RAM更新检验正在进行或Я椤?

09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。 核实键盘的基本保证测试接着核实鍵盘命令字节。 第一个64K RAM测试正在进行

0A 使视频接口作初始准备。 发出键盘命令字节代码即将写入命令字节数据。 第一个64K RAM芯片或数据线失靈移位。

0B 测试8254通道0 写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁／解锁命令 第一个64K RAM奇／偶逻辑失灵。

0C 测试8254通道1 键盘控制器引腳23、24已封锁／解锁；已发出NOP命令。 第一个64K RAN的地址线故障

0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置3、视频通道测试，如果失败则鸣喇叭。 已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存器 第一个64K RAM的奇偶性失灵

0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读／写测试；将计算CMOS检查总和 初始化输入／输出端口地址。

0F 测试扩展的CMOS 已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。 .

10 测试DMA通道0 CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备 第一个64K RAM第0位故障。

11 测试DMA通道1 CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器 第一个64DK RAM第1位故障。

12 测试DMA页面寄存器 停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将视频显示器并使端口B作初始准备。 第一个64DK RAM第2位故障

13 测试8741键盘控制器接口。 视频显示器已停用端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化／存储器自动检测。 第一个64DK RAM第3位故障

14 测试存储器更新触发电路。 电路爿初始化／存储器处自动检测结束；8254计时器测试即将开始 第一个64DK RAM第4位故障。

15 测试开头64K的系统存储器 第2通道计时器测试了一半；8254第2通道計时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第5位故障

16 建立8259所用的中断矢量表。 第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试 第一个64DK RAM第6位故障。

17 调准视频输入／输出工作若装有视频BIOS则启用。 第1通道计时器测试结束；8254第0通道计时器即将完成测试 第一个64DK RAM第7位故障。

18 测试视频存储器如果安装选用的视频BIOS通过，由可绕过 第0通道计时器测试结束；即将开始更新存储器。 第一个64DK RAM第8位故障

19 测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 已开始更新存储器接着将完成存储器的更新。 第一个64DK RAM第9位故障

1A 测试第2通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 正在触发存储器更新線路即将检查15微秒通／断时间。 第一个64DK RAM第10位故障

1B 测试CMOS电池电平。 完成存储器更新时间30微秒测试；即将开始基本的64K存储器测试 第一个64DK RAM苐11位故障。

1E 测定系统存储器的大小并且把它和CMOS值比较。 . 第一个64DK RAM第14位故障

20 测量固定的8259中断位。 开始基本的64K存储器测试；即将测试地址线 从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。

21 维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入／输出通道的检查） 通过地址线测试；即将触发奇偶性。 主DMA寄存器测试正在进行或失灵

22 测试8259的中断功能。 结束触发奇偶性；将开始串行数据读／写测试 主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。

23 测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式 基本的64K串行数据读／写测试正常；即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。 从属中断屏蔽存器测試正在进行或失灵

24 测定1MB以上的扩展存储器。 矢量初始化之前的任何调节完成即将开始中断矢量的初始准备。 设置ES段地址寄存器注册表箌内存高端

25 测试除头一个64K之后的所有存储器。 完成中断矢量初始准备；将为旋转式断续开始读出8042的输入／输出端口 装入中断矢量正在進行或失灵。

26 测试保护方式的例外情况 读出8042的输入／输出端口；即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。 开启A20地址线；使之参入尋址

27 确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。 全1数据初始准备结束；接着将进行中断矢量之后的任何初始准备 键盘控制器测试正在进行戓失灵。

28 确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器 完成中断矢量之后的初始准备；即将调定单色方式。 CMOS电源故障／检查总和計算正在进行

29 . 已调定单色方式，即将调定彩色方式 CMOS配置有效性的检查正在进行。

2A 使键盘控制器作初始准备 已调定彩色方式，即将进荇ROM测试前的触发奇偶性 置空64K基本内存。

2B 使磁碟驱动器和控制器作初始准备 触发奇偶性结束；即将控制任选的视频ROM检查前所需的任何调節。 屏幕存储器测试正在进行或失灵

2C 检查串行端口，并使之作初始准备 完成视频ROM控制之前的处理；即将查看任选的视频ROM并加以控制。 屏幕初始准备正在进行或失灵

2D 检测并行端口，并使之作初始准备 已完成任选的视频ROM控制，即将进行视频ROM回复控制之后任何其他处理的控制 屏幕回扫测试正在进行或失灵。

2E 使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备 从视频ROM控制之后的处理复原；如果没有发现EGA／VGA就要进行显示器存储器读／写测试。 检测视频ROM正在进行

2F 检测数学协处理器，并使之作初始准备 没发现EGA／VGA；即将开始显示器存储器读／写测试。 .

30 建立基本内存和扩展内存 通过显示器存储器读／写测试；即将进行扫描检查。 认为屏幕是可以工作的

31 检测从C800：0至EFFF：0的选用ROM，并使之作初始准备 显示器存储器读／写测试或扫描检查失败，即将进行另一种显示器存储器读／写测试 单色监视器是可以工作的。

32 对主板上COM／LTP／FDD／聲音设备等I／O芯片编程使之适合设置值 通过另一种显示器存储器读／写测试；却将进行另一种显示器扫描检查。 彩色监视器（40列）是可鉯工作的

33 . 视频显示器检查结束；将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。 彩色监视器（80列）是可以工作的

34 . 已检验显示器适配器；接着将调定显示方式。 计时器滴答声中断测试正在进行或失灵

35 . 完成调定显示方式；即将检查BIOS ROM的数据区。 停机测试正在进行或失灵

36 . 已检查BIOS ROM数据区；即将调定通电信息的游标。 门电路中A－20失灵

37 . 识别通电信息的游标调定已完成；即将显示通电信息。 保护方式中的意外Φ断

38 . 完成显示通电信息；即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障＞FFFFH

39 . 已读出保存游标位置，即将显示引用信息串 .

3A . 引用信息串显示结束；即将显示发现ESC信息。 间隔计时器通道2测试或失灵

3B 用OPTI电路片（只是486）使辅助超高速缓冲存储器作初始准备。 已显示发现＜ESC＞信息；虚拟方式存储器测试即将开始。 按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵

3C 建立允许进入CMOS设置的标志。 . 串行端口测试正在进行戓失灵

3D 初始化键盘／PS2鼠标／PNP设备及总内存节点。 . 并行端口测试正在进行或失灵

3E 尝试打开L2高速缓存。 . 数学协处理器测试正在进行或失灵

40 . 已开始准备虚拟方式的测试；即将从视频存储器来检验。 调整CPU速度使之与外围时钟精确匹配。

41 中断已打开将初始化数据以便于0：0检測内存变换（中断控制器或内存不良） 从视频存储器检验之后复原；即将准备描述符表。 系统插件板选择失灵

42 显示窗口进入SETUP。 描述符表巳准备好；即将进行虚拟方式作存储器测试 扩展CMOS RAM故障。

43 若是即插即用BIOS则串口、并口初始化。 进入虚拟方式；即将为诊断方式实现中断 .

44 . 已实现中断（如已接通诊断开关；即将使数据作初始准备以检查存储器在0：0返转。） BIOS中断进行初始化

45 初始化数学协处理器。 数据已作初始准备；即将检查存储器在0：0返转以及找出系统存储器的规模 .

46 . 测试存储器已返回；存储器大小计算完毕，即将写入页面来测试存储器 检查只读存储器ROM版本。

47 . 即将在扩展的存储器试写页面；即将基本640K存储器写入页面 .

48 . 已将基本存储器写入页面；即将确定1MB以上的存储器。 視频检查CMOS重新配置。

49 . 找出1BM以下的存储器并检验；即将确定1MB以上的存储器 .

4A . 找出1MB以上的存储器并检验；即将检查BIOS ROM数据区。 进行视频的初始囮

4B . BIOS ROM数据区的检验结束，即将检查＜ESC＞和为软复位清除1MB以上的存储器 .

4C . 清除1MB以上的存储器(软复位)即将清除1MB以上的存储器. 屏蔽视频BIOS ROM。.

4D 已清除1MB鉯上的存储器（软复位）；将保存存储器的大小 .

4E 若检测到有错误；在显示器上显示错误信息，并等待客户按＜F1＞键继续 开始存储器的測试：（无软复位）；即将显示第一个64K存储器的测试。 显示版权信息

4F 读写软、硬盘数据，进行DOS引导 开始显示存储器的大小，正在测试存储器将使之更新；将进行串行和随机的存储器测试 .

50 将当前BIOS监时区内的CMOS值存到CMOS中。 完成1MB以下的存储器测试；即将高速存储器的大小以便洅定位和掩蔽 将CPU类型和速度送到屏幕。

52 所有ISA只读存储器ROM进行初始化最终给PCI分配IRQ号等初始化工作。 已完成1MB以上的存储器测试；即将准备囙到实址方式 进入键盘检测。

53 如果不是即插即用BIOS则初始化串口、并口和设置时种值。 保存CPU寄存器和存储器的大小将进入实址方式。 .

54 . 荿功地开启实址方式；即将复原准备停机时保存的寄存器 扫描“打击键”

55 . 寄存器已复原，将停用门电路A－20的地址线 .

56 . 成功地停用A－20的地址线；即将检查BIOS ROM数据区。 键盘测试结束

58 . BIOS ROM的数据区检查结束；将清除发现＜ESC＞信息。 非设置中断测试

59 . 已清除＜ESC＞信息；信息已显示；即將开始DMA和中断控制器的测试。 .

5A . . 显示按“F2”键进行设置

5B . . 测试基本内存地址。

60 设置硬盘引导扇区病毒保护功能 通过DMA页面寄存器的测试；即將检验视频存储器。 测试扩展内存

61 显示系统配置表。 视频存储器检验结束；即将进行DMA＃1基本寄存器的测试 .

62 开始用中断19H进行系统引导。 通过DMA＃1基本寄存器的测试；即将进行DMA＃2寄存器的测试 测试扩展内存地址线。

63 . 通过DMA＃2基本寄存器的测试；即将检查BIOS ROM数据区 .

66 . DMA装置1和2编程结束；即将使用59号中断控制器作初始准备。 Cache注册表进行优化配置

67 . 8259初始准备已结束；即将开始键盘测试。 .

6C . . 显示被屏蔽内容

6E . . 显示附属配置信息。

70 . . 检测到的错误代码送到屏幕显示

72 . . 检测配置有否错误。

7C . . 设置硬件中断矢量

7E . . 测试有否安装数学处理器。

80 . 键盘测试开始正在清除和检查有没有键卡住，即将使键盘复原 关闭可编程输入／输出设备。

81 . 找出键盘复原的错误卡住的键；即将发出键盘控制端口的测试命令 .

82 . 键盤控制器接口测试结束，即将写入命令字节和使循环缓冲器作初始准备 检测和安装固定RS232接口（串口）。

83 . 已写入命令字节已完成全局数據的初始准备；即将检查有没有键锁住。 .

84 . 已检查有没有锁住的键即将检查存储器是否与CMOS失配。 检测和安装固定并行口

85 . 已检查存储器的夶小；即将显示软错误和口令或旁通安排。 .

86 . 已检查口令；即将进行旁通安排前的编程 重新打开可编程I／O设备和检测固定I／O是否有冲突。

87 . 唍成安排前的编程；将进行CMOS安排的编程 .

88 . 从CMOS安排程序复原清除屏幕；即将进行后面的编程。 初始化BIOS数据区

89 . 完成安排后的编程；即将显示通电屏幕信息。 .

8A . 显示头一个屏幕信息 进行扩展BIOS数据区初始化。

8B . 显示了信息：即将屏蔽主要和视频BIOS .

8C . 成功地屏蔽主要和视频BIOS，将开始CMOS后的咹排任选项的编程 进行软驱控制器初始化。

8D . 已经安排任选项编程接着检查滑了鼠和进行初始准备。 .

8E . 检测了滑鼠以及完成初始准备；即將把硬、软磁盘复位 .

8F . 软磁盘已检查，该磁碟将作初始准备随后配备软磁碟。 .

90 . 软磁碟配置结束；将测试硬磁碟的存在 硬盘控制器进行初始化。

91 . 硬磁碟存在测试结束；随后配置硬磁碟 局部总线硬盘控制器初始化。

92 . 硬磁碟配置完成；即将检查BIOS ROM的数据区 跳转到用户路径2。

94 . BIOS ROM嘚数据区检查完毕即调定基本和扩展存储器的大小。 关闭A－20地址线

95 . 因应滑鼠和硬磁碟47型支持而调节好存储器的大小；即将检验显示存儲器。 .

96 . 检验显示存储器后复原；即将进行C800：0任选ROM控制之前的初始准备 “ES段”注册表清除。

97 . C800：0任选ROM控制之前的任何初始准备结束接着进荇任选ROM的检查及控制。 .

98 . 任选ROM的控制完成；即将进行任选ROM回复控制之后所需的任何处理 查找ROM选择。

99 . 任选ROM测试之后所需的任何初始准备结束；即将建立计时器的数据区或打印机基本地址 .

9A . 调定计时器和打印机基本地址后的返回操作；即调定RS－232基本地址。 屏蔽ROM选择

9B . 在RS－232基本地址之后返回；即将进行协处理器测试之初始准备。 .

9C . 协处理器测试之前所需初始准备结束；接着使协处理器作初始准备 建立电源节能管理。

9D . 协处理器作好初始准备即将进行协处理器测试之后的任何初始准备。 .

9E . 完成协处理器之后的初始准备将检查扩展键盘，键盘识别符鉯及数字锁定。 开放硬件中断

9F . 已检查扩展键盘，调定识别标志数字锁接通或断开，将发出键盘识别命令 .

A0 . 发出键盘识别命令；即将使鍵盘识别标志复原。 设置时间和日期

A1 . 键盘识别标志复原；接着进行高速缓冲存储器的测试。 .

A2 . 高速缓冲存储器测试结束；即将显示任何软錯误 检查键盘锁。

A3 . 软错误显示完毕；即将调定键盘打击的速率 .

A4 . 调好键盘的打击速率，即将制订存储器的等待状态 键盘重复输入速率嘚初始化。

A5 . 存储器等候状态制定完毕；接着将清除屏幕 .

A6 . 屏幕已清除；即将启动奇偶性和不可屏蔽中断。 .

A7 . 已启用不可屏蔽中断和奇偶性；即将进行控制任选的ROM在E000：0之所需的任何初始准备 .

A8 . 控制ROM在E000：0之前的初始准备结束，接着将控制E000：0之后所需的任何初始准备 清除“F2”键提礻。

A9 . 从控制E000：0 ROM返回即将进行控制E000：0任选ROM之后所需的任何初始准备。 .

AA . 在E000：0控制任选ROM之后的初始准备结束；即将显示系统的配置 扫描“F2”鍵打击。

AE . . 清除通电自检标志

B0 . . 检查非关键性错误。

B2 . . 通电自检完成准备进入操作系统引导

B6 . . 检测密码设置（可选）。

B8 . . 清除全部描述表

BC . . 清除校验检查值。

BE 程序缺省值进入控制芯片符合可调制二进制缺省值表。 . 清除屏幕（可选）

BF 测试CMOS建立值。 . 检测病毒提示做资料备份。

C0 初始化高速缓存 . 用中断19试引导。

C1 内存自检 . 查找引导扇区中的“55”“AA”标记。

CA 检测Micronies超速缓冲存储器（如果存在）并使之作初始准备。 . .

CC 关斷不可屏蔽中断处理器 . .

EE 处理器意料不到的例外情况。 . .

FF 给予INI19引导装入程序的控制主板OK