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厚度测量仪的英文
英文翻译schichtdickenmessgeraet:&&&& land:&&&& measure:&&&& bearing
例句与用法1.Copper foil thickness measuring instrument铜箔厚度测量仪2.We also have high precision microscope to make the inspection and the analyzing to the components利用高精度测量显微镜，金属电镀层厚度测量仪等可进行零部件检测分析。 3.Receive details about coating testing devices , concrete testing equipment and layer thickness measuring instruments in addition to offers on thickness - measuring appliances or metal detectors on the homepage of elcometer instruments gmbhElcometer instruments gmbh是一家现代化、值得信赖的产品供应商，该供应商从事厚度测量仪器,金属探测器,层厚度测量仪的制造和销售。 4.Firstly , optical trigonometry measurement principle and wok principle of linear ccd are introduced , which are based on to design optical focusing and imagery system with he - ne laser instrument as illuminant . secondly , peripheral circuit of linear ccd is designed in theory and experiment . finally non - contact thickness measurement instrument is constructed , using ccd as photoelectric transformation element and microprocessor as the controller本文首先介绍了光学三角法测量原理，并对线阵ccd的工作原理进行了研究，以此为基础采用氦氖激光器为光源，设计了光学聚焦及成像系统，对线阵ccd外围电路的设计进行了理论设计和实验研究，最后设计了以ccd为光电转换元件，以微处理器为控制核心的非接触式厚度测量仪及其系统。 5.The company main product includes : the vacuum electron gun , opticsmembrane level thickness measuring instrument , the electron gunscanning control meter , the high efficiency crystal thyratron pressureregulator , the precise optics with the power source , the electricitycontrol the cabinet , the data acquisition module and so on公司主要产品有：真空电子枪、光学膜层厚度测量仪、电子枪扫描控制仪、大功率晶闸管调压器、精密光学用电源、电气控制柜、数据采集模块等。
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德国进口ElektroPhysik涂层厚度测量仪
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【简单介绍】德国进口ElektroPhysik涂层厚度测量仪ElektroPhysik是为表面处理技术提供精密测量仪表的领先制造商之一，成立于1947年，总部位于德国科隆。
【详细说明】
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干涉法测量膜厚方法及干涉图处理技术研究.pdf67页
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西安工业大学
硕士学位论文
干涉法测量膜厚方法及干涉图处理技术研究
姓名：葛锦蔓
申请学位级别：硕士
专业：测试计量技术及仪器
指导教师：苏俊宏
干涉法测量膜厚方法及干涉图处理技术研究
学科：测试计量技术及仪器
研究生签字：南解瞳
指导教师签字．移彘孝
随着光电技术、微电子器件等技术的迅速发展，薄膜技术的应用变得更为广
泛，不仅用于光学工程领域，也被广泛地应用于微电子技术、通讯、宇航工程等
各种不同的领域。薄膜的厚度直接影响到薄膜的电学特性、光学特性、导电性、
导热性等各项参数指标，因此，薄膜厚度的精确检测成了人们关注的焦点。在目
前诸多的薄膜厚度测量方法中，以通过合理的算法处理干涉图而获得所需的被测
件面型及参数信息为核心的现代干涉测量技术，具有高精度、高分辨率、高灵敏
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械设备的精确定位以及高精密的机械加工控制等。同时，此种方法对进一步研究
和优化薄膜的制备工艺提供了强大的技术支持和工艺保障。
本文对目前常用的薄膜厚度测量方法进行了深入的研究和讨论，总结并归纳
了每一种测量方法的优缺点、测量精度、适用的测量范围以及使用条件。本文用
两种不同的干涉仪 泰曼格林干涉仪和迈克尔逊干涉仪 以及CCD图像接收设
备搭建了两个高精度数字图像测试系统，采集薄膜厚度的干涉图样，并主要研究
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薄膜物理2-5 膜厚的测量与监控
膜&#8203;厚&#8203;和&#8203;淀&#8203;积&#8203;速&#8203;率&#8203;的&#8203;测&#8203;量&#8203;与&#8203;监&#8203;控
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