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法兰(zqyjg)
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SE同轴测试装置中支撑介质的研究与设计测试,设计,同轴,支撑介质,设计和,测试装置,测试的,同轴电缆,欧米茄同轴,同轴喇叭
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SE同轴测试装置中支撑介质的研究与设计
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淘豆网网友近日为您收集整理了关于平板型电磁屏蔽材料的同轴测试方法的文档，希望对您的工作和学习有所帮助。以下是文档介绍：第35卷第3期1995年6月电讯技术Vo1.35No.MUNICATIONENGINEER|NGJun.1985●学术论文与拄术报告一t平板型电磁屏蔽材料的同轴测试方法一’孔斌?关电麟料舨轴线孑叛型,柳墀【摘要】电磁肇客葺域中常以平板型材料屏蔽电j磁能i量-在100k}Iz~1.5G}Iz如何对上i‘豺潮啦能潮试是受到广泛关注的一件事.我们研制的帝法兰的改进型舛接同轴线=可取方便地对材料的远场性能作出评价,而且数据复现好.本文最后培出材料屏蔽与吸性能的测试实例.同轴线测试方法的提出从80年代以来,随着电磁兼容技术的发展,各种新型的屏蔽及吸波材料授开发出来.如何对这些材料的电磁特性作出客观而可靠的评价就摆到了人们面前。近年来TEM—PEST材料的研制开发更迫切需要了解其低频段的远场电磁特性,於是提出了TEM喇叭测试法、孪生横电磁被传输室测试法、时域测试法等“].实践结果,目前用得最多的是同轴线测试法.在这方面的大量工作是美国国家标准局(NBS)和材料试验学会(ASTM)做的“”。材料屏蔽效能的测量可按匿l配置进行。保持发射端Pr(或Vr)不变,设未放入披测材料前收到信号为R(或V),置入披测材料后收到信号为P(或VR一),显然可以得·车文于l995年3月29日收到.·-东南大拳电薯薰軎研究室?电子标准化研究所电鞋菲窖室·6·出材料屏蔽效能为:SE=一lOlog(P/P^)dB(1)或SE=一20log(Vr,)dB(2)图l屏蔽效能瓣J试原理显然,这里要求试样有足够大的尺寸,况且到低频端要在自由空间中传辖TEM波是不现实的,为此提出了同轴线澳『试法。因为同轴线是宽带元件,可从极低频率起传辖L\\~厂羞/维普资讯波而且所用试样也很小。图2为同轴线法测试的基本原理。z0为传输线特性阻抗,zL为试样阻抗,zc为试样与传输线的接触阻抗,经分析可得:zc&&zvi&SE;2+)为减小试样局部不均匀性对测量结果造sE=2I(3)衄黜捌龃曲屁‘a)捆试冠量图2同轴线法洲试原理cb)辱效电路固3内导体连续的洲试同轴线图3为ASTMES一7测试同轴线,其内导体连续,外导体可拆。被测试样作成圈环状。这一方案的致命弱点是试样与同轴线内外导体的接触阻抗会明显影响测试结果,复现性差。1987年EMC国际年会上wILS0N等人提出了带夹持法兰的测试同轴线,后来演变成ASTMD4935--89,其结构示意见图4。这一方案的特点是同轴线内外导体全部都断开,测试时以尼龙(或金属)螺钉将两法兰固定,靠测试面的容性电流保持电连接,所以测试颍率下限为30MHz。在制备测试样品(负载)的同时,还要制备同一规格的参照样◎@圉4带夹持法兰的测试同轴线·7·维普资讯。其与受试样品基材的厚度差不能太子25m,不均匀度不能大于5,不同之处仅扣除了与测试同轴线内外导体空腔尺寸对应部位之被测材料。参照样品与负载件介入夹持法兰问所测得之差值即为被测材料的屏蔽效能.ASTMD4935--89装置的系统误差为士1.2dB,偶然误差士1.0dB。这一方法所测试样品厚度不能大,否则容性电流将制约测试频率的下限,其次,试样表面要非常光滑平整,否则由于不同^员操作带来的误差可遮士5dB.出于电子设备结构EMC设计的需要,我们先按美国NBS给出的方案进行摸底,测试样品有ABS塑料板上喷涂的屏敝涂料、导电布、穿孔金属板等]。结果发现以螺钉连接这一方案在样品制备上有困难,而且测试的下限频率不能满足对材料低鞭性能的考核要求,经过三次更改设计,到1990年制成带法兰的改进型同轴线,并且复制给国内凡家权威测试单位使用,满足了当前新材料研制测试的需要。二、改进型测试同轴线的特点在综合NBS及ASTM两种同轴测试的优缺点之后,最后得出了改进型测试同轴线,其中段结构示意图见图5。瑚、臻辱导电棱孵样品国5改进型测试同轴残及其试样内导体蓑伸缩拴舌薹萎嚣掌鬈为使测量喷涂型屏蔽材料时两截同轴线径为12mm的孔,在测试时,内导体栓舌可内导体保持电接触,在终端侧内导体中加一伸过试样的中心孔与终端内导体保持电接个直径为12mm的栓舌.不受轴向力时,在触,构成低频通路。面始端内导体外侧剩下的·8·=}=}维普资讯(约9cm)与试样间紧密接触可防止试样在中心孔处引入的泄漏,对于导电薄膜、金属同、穿孔金属板等试样,因它们在轴向是导电的,试样中心不要打孔,测试时拴舌自动缩回终端内导体。2.两段同轴线采甩太螺母联结两段同轴线若用沿圆周均布的螺拴螺母联结,操作非常不便,各螺栓螺母的压紧程度也不同,很易造成泄漏,严重影响测试结果。现采用中间掏空的大螺母作联结件,并在螺母端面上刻度(0.01ram/格),便于记录每次测试时的压紧情况。这样既使于操作,又能有效地防止泄漏。由于以上1、2两个特点,可使被测试样的厚度限制放宽到10mm。3、在夹持法兰端面加嵌导电衬垫央持法兰端面的导电性能会影响测量结果,嵌装导电衬垫不但可使影响减小并稳定接触电阻,而且还可防止导电玻璃等脆性试样目受力不匀而开裂。4.导杆机构同轴测试装置中对接法兰配合面间的密舍程度将直接影响测试结果。例如荧光屏前的屏蔽网系0.02mm的金属丝编织而成,这足以看出它对配合面的制约要求。比较简单的方法是采用NBS的方案,让两段同轴线自由放置,安装试样时靠人工对合,避免了导向机构与法兰配合面问的干涉问题,但这种方法操作很麻烦费力,还易碰伤央持面。为使装夹试样时操作方便,又能确保对接法兰面闻的密合接触,同轴装置中配备了对高度同心的导向精杆5.同轴转换开关及连接电缆为了便于组成自动测试系统,测试同轴线两端加装了同轴转换开关,同轴转换开关选用光华无线电仪器厂的产品GH1Ol型,技术指标为:频率范围:Dc~12.4GHz隔离度:&50dB’电压驻波比:&1.25为防止电缆泄漏引入测量误差,选用非标准的双层屏蔽电缆sYV一50—3测试过程中高频连接件的松动,亦会引起测量误差,为此同轴开关(包括转换头)全部与同轴测试装置主体作刚性固定。6.频率覆盖范围宽,屏蔽效能测量动态范固大外导体内径2b=82ram,可算出同轴线出现高次模的截止频率。:Co.1.62可见该装置可使用的频率范围优于i00kHz~L5GHz。由于测试同轴线装置用整体黄铜棒料加工,夹持面精度高,自身整体屏蔽性能好。采用信号源与接收机结构分离的方案测试时屏蔽效能测试动态范围优于100dB。三、改进型同轴线测试装置的应用改进型同轴线测试装置的正常配置见图6。同轴开关入口端加接i0dB衰减器是为了改善测试系统的匹配,如信号源与接收机配合的测试动态范围不够,可拆去此衰减器。若被测样品屏蔽效能较大,同轴开关隔离度不够,可在直通电缆支路增加隔离衰减器。1.屏蔽鼓能测试对于不同性能的材料应按图5制各测试样品并装入夹持法兰之间,利用同轴开关功维普资讯进型同轴测试装置及配置|:o-Xl:-1,——一图7屏蔽涂料与日栅屏蔽教能的实刹曲线能切换测试装置连接方式,分别测出信号直通与经过屏蔽材料后的电平,就可得到材料屏蔽效能。图7是屏蔽涂料(i)及网栅(2)的实测曲线。曲线与顼部直通参考电平‘c1播放器加载中，请稍候...
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第35卷第3期1995年6月电讯技术Vo1.35No.MUNICATIONENGINEER|NGJun.1985●学术论文与拄术报告一t平板型电磁屏蔽材料的同轴测试方法一’孔斌?关电麟料舨轴线孑叛型,柳墀【摘要】电磁肇客葺域中常以平板型材料屏蔽电j磁能i量-在100k}Iz~1.5G}Iz如何对上i‘豺潮啦能潮试是受到广泛关注的一件事.我们研制的帝法兰的改进型舛接同轴线=可取方便地对材料的远场性能作出评价,而且数据复现好.本文最后培出材料屏蔽与吸性能的测试实例.同轴线测试方法的提出从80年代以来,随着电磁兼容技术的发展,各种新型的屏蔽及吸波材料授开发出来.如何对这些材料的电磁特性作出客观而可靠的评价就摆到了人们面前。近年来TEM—PEST材料的研制开发更迫切需要了解其低频段的远场电磁特性,於是提出了TEM喇叭测试法、孪生横电磁被传输室测试法、时域测试法等“].实践结果,目前用得最多的是同轴线测试法.在这方面的大量工作是美国国家标准局(NBS)和材料试验学会(ASTM)做的“”。材料屏蔽效能的测量可按匿l配置进行。保持发射端Pr(或Vr)不变,设未放入披测材料前收到信号为R(或V),置入披测材料后收到信号为P(或VR一),显然可以得·车文于l995年3月29日收到.·-东南大拳电薯薰軎研究室?电子标准化研究所电鞋菲窖室...
内容来自淘豆网转载请标明出处.织物屏蔽效能的法兰同轴法和屏蔽室法测试对比研究--《纺织学报》2016年03期
织物屏蔽效能的法兰同轴法和屏蔽室法测试对比研究
【摘要】：为研究不锈钢织物的屏蔽效能,采用法兰同轴法(30 MHz~1.5 GHz)和屏蔽室法(1~18 GHz、18~26.5 GHz),对样品的屏蔽效能进行了对比测试研究。结果表明,2种不同测试方法和条件下,电磁波的电场分量和磁场分量在样品平面分布显著不同,屏蔽室法可以清晰反映出各向异性织物电磁屏蔽效能的方向性,而法兰同轴法则不能。法兰同轴测试时,对应的电磁波长较长,导致同样尺寸金属纱线排列间距和缝隙孔洞对屏蔽效能的影响不如屏蔽室法明显。只有经、纬向金属纱线排列间距相同,电性能宏观各向同性的电磁屏蔽织物,在2种测试方法下才遵循同样的规律性,且也是经济、有效的屏蔽未知方向电磁波的最佳结构形式。
【作者单位】：
【关键词】：
【基金】：
【分类号】：TS101.923【正文快照】：
根据电磁波频段不同,材料电磁屏蔽效能的测试方法可以分为3类:1)适合近场环境的测试方法。频率范围1~30 MHz,属于磁场屏蔽范围,可采用ASTM-ES-7双盒法和改进的MIL-STD-285法进行测试[1];2)适合远场环境的测试方法。频率范围为30 MHz~1.5 GHz,有ASTM-ES-7推荐的同轴传输法以及
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