电容温度系数系数会影响到哪些方面

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行业大能为你解答:电容系数能够影响到的地方
来源:Bonnie Baker
作者:秩名日 09:40
[导读] 电容器输入或输出电荷通过相邻阻抗,可产生一个压降错误。由于电容器的充电电流与电压相关,因此会产生一个非线性错误。对于正弦波来说,该错误包含谐波。
  任何电路选择电容器时都需要注意失真问题。如果电容器在信号路径中,就会出现这类失真。图1是2个在信号路径中包含电容器的典型电路。
  图1a是Sallen-Key带通滤波器的第一级。在该电路中,两个重要电容器出现在通过滤波器的信号路径中。图1b是一个使用R/C对驱动SAR-ADC的放大器。电容器CF在输入信号到达ADC之前完全接触到了该输入信号。
  图1.六阶带通滤波器的第一级(a)以及使用R/C对驱动ADC的放大器(b)。
  该失真出现的原因是标准电容器的电压与特性相关。换句话说,电容随所应用的电压及频率而变化。
  下面是描述在一段电压曲线上电容变化的等式:
  C=C0(1+bVCAP),
  C0是标称电容
  VCAP是整个电容的电压
  b是电容器的电压系数
  图2是整个电容器相关该效应的典型曲线。
  图2.电容器电压系数
  电容器输入或输出电荷通过相邻阻抗,可产生一个压降错误。由于电容器的充电电流与电压相关,因此会产生一个非线性错误。对于正弦波来说,该错误包含谐波。
  电容器电压系数特性可能在半导体工艺技术中更为明显。由于ADC输入端(图1b)有一个内部输入R/C,因此这种失真现象也会发生在转换器的输入端。
  此外,整个电容器的输入信号频率也会影响转换精确度。电容值会引起失真,失真会随频率改变。(图3)。
  图3.电容器THD+N与频率的比较
  该图是几项电容器技术特性及其总谐波失真+噪声(SINAD)与频率性能的比较。图中最底下的曲线是使用C08电容器获得的。C0G电容器数据上面的曲线是系统测量值。图中的其它曲线来自具有不同电介质(Z5U、Y5V和X7R)的陶瓷电容器。请注意,这些类型的电容器会随频率变化产生明显的非线性及信号失真。
  图中没有显示NPO类陶瓷电容器。NPO类电容器与C0G性能非常匹配。关键是要为C1和C2(图1a)以及CF(图1b)选择正确的电容器类型。你会发现较高质量的外部电容器(CF)不会降低ADC的AC性能标准。较小内部ADC电容器(CSH)的较大电压系数比不上较大外部电容器的较低电压系数。
  信号失真的形式有很多种,但如果遇到此类问题,电路信号路径中的电容器可能是最后才考虑的问题。
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摘要: 1、容量(法拉)
英制: C = ( 0.224 × K · A) / TD
公制: C = ( 0.0884 × K · A) / TD
2、电容器中存储的能量
3、电容器的线性充电量
I = C (dV/dt)
4、电容的总阻抗(欧姆)
&&& 1、容量(法拉)
&&& 英制: C = ( 0.224 × K · A) / TD
&&& 公制: C = ( 0.0884 × K · A) / TD
&&& 2、器中存储的能量
&&& E = ? CV2
&&& 3、的线性充电量
&&& I = C (dV/dt)
&&& 4、电容的总阻抗(欧姆)
&&& Z = √ [ RS
&&& 2 + (XC – XL)2 ]
&&& 5、容性电抗(欧姆)
&&& XC = 1/(2πfC)
&&& 6、相位角 Ф
&&& 理想电容器:超前当前电压 90?
&&& 理想电感器:滞后当前电压 90?
&&& 理想电阻器:与当前电压的相位相同
&&& 7、耗散系数 (%)
&&& D.F. = tan δ (损耗角)
&&& = ESR / XC
&&& = (2πfC)(ESR)
&&& 8、品质因素
&&& Q = cotan δ = 1/ DF
&&& 9、等效串联电阻ESR(欧姆)
&&& ESR = (DF) XC = DF/ 2πfC
&&& 10、功率消耗
&&& Power Loss = (2πfCV2) (DF)
&&& 11、功率因数
&&& PF = sin δ (loss angle) – cos Ф (相位角)
&&& 12、均方根
&&& rms = 0.707 × Vp
&&& 13、千伏安KVA (千瓦)
&&& KVA = 2πfCV2 × 10-3
&&& 14、电容器的温度系数
&&& T.C. = [ (Ct – C25) / C25 (Tt – 25) ] × 106
&&& 15、容量损耗(%)
&&& CD = [ (C1 – C2) / C1 ] × 100
&&& 16、陶瓷电容的可靠性
&&& L0 / Lt = (Vt / V0) X (Tt / T0)Y
&&& 17、串联时的容值
&&& n 个电容串联:1/CT = 1/C1 + 1/C2 + …. + 1/Cn
&&& 两个电容串联:CT = C1 · C2 / (C1 + C2)
&&& 18、并联时的容值
&&& CT = C1 + C2 + …. + Cn
&&& 19、重复次数(Againg Rate)
&&& A.R. = % C / decade of time
&&& 上述公式中的符号说明如下:
&&& K = 介电常数
&&& A = 面积
&&& TD = 绝缘层厚度
&&& V = 电压
&&& t = 时间
&&& RS = 串联电阻
&&& f = 频率
&&& L = 电感感性系数
&&& δ = 损耗角
&&& Ф = 相位角
&&& L0 = 使用寿命
&&& Lt = 试验寿命
&&& Vt = 测试电压
&&& V0 = 工作电压
&&& Tt = 测试温度
&&& T0 = 工作温度
&&& X , Y = 电压与温度的效应指数。
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