内部检定,内部校准,自检定校准 国家文件就问你晕不晕

自校准、内部检定、内部校准 三者有何异同?
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自校准、内部检定、内部校准 三者有何异同?
如果不校准,即便是多么高精尖的仪器,是不是也不敢用?可见校准的重要性。通过校准,可以确保仪器按预期工作,可确保我们能依靠该仪器或设备提供可预见的、达到质量标准的精确结果。实际工作中,你是否常被内部校准、自校准、内部检定搞得晕头转向,到底有何区别?CNAS相关体系文件中,有哪些解释和要求?检测实验室需完成哪些条件才能进行内部校准?等等一系列问题都是本文讨论的焦点,一起来学习吧!关于CNAS-CL31内部校准要求对于检测实验室而言,&测量溯源性是对检测设备和测量结果最基本的要求。专用检测设备的溯源性目前是一个大问题,&大多数检测实验室的采取的做法是对这些专用检测设备进行内部校准。CNAS-CL31: 2011《内部校准要求》&,是&CNAS&首次对检测实验室内部校准工作进行了规范&,&用以保证检测结果的测量溯源性。&“内部校准”与“自校准(Self-Calibration)”是不同的术语。&内部校准:在实验室或其所在组织内部实施的,使用自有的设施和测量标准,校准结果仅用于内部需要,为实现获认可的检测活动相关的测量设备的量值溯源而实施的校准。&“自校准”一般是利用测量设备自带的校准程序或功能(比如智能仪器的开机自校准程序)或设备厂商提供的没有溯源证书的标准样品进行的校准活动,通常情况下,其不是有效的量值溯源活动,但特殊领域另有规定除外。&自检:好象没有官方的定义,是实验室内部校准的通俗叫法,就是实验室内部自己检定或校准。当然有些设备开机后也会有自我功能诊断,如电脑只有完成自检程序才能正常开机,这也叫“自检”。不过你所说的自检是应当从校准意义上来说的。&内部检定:是需要建标的,且要通过质监局中计量部门的建标考核和发证。内部校准:企业内部需要自行建立校准规程。但是,校准用的的标准器必须经过检定或校准合格(按照量值传递规定)&实际操作中大家注意:&也就是说检测实验室只做检测,申请认可只需申请检测项目,CNAS评审组中只安排检测专业的评审员。&&内部校准检测实验室除了检测以外还对自己的仪器设备进行内容校准,因此,在申请认可时既要申请实验室认可,还需申请内部校准实验室,CNAS评审组中会安排对应的校准专业的评审员。&如果进行内部校准的实验室不同时申请内部校准实验室,那么内部校准涉及的检测项目CNAS不予认可。&不要和这些定义搞混啦!&检定:查明和确认计量器具符合法定要求的活动,它包括检查、加标记和(或)出具检定证书。校准:在规定条件的一组操作,其第一步是确定测量标准提供的量值与相应示值之间的关系,其第二步则是用此信息确定由示值获得测量结果的关系,这里测量标准提供的量值与相应示值都具有测量不确定度。&期间核查:根据规定程序,为了确定计量标准、标准物质或其他测量仪器是否保持其原有状态而进行的操作。来自(JJF“通用计量术语及定义”)。&&CNAS规定:满足什么要求实验室才能实施内部校准?&一、实验室对使用的测量设备实施内部校准的,其体系文件应覆盖CNAS-CL01《检测和校准实验室认可准则》和CNAS-CL25《检测和校准实验室认可准则在校准领域的应用说明》的要求。&二、实施内部校准的人员,应经过相关计量认真知识、校准技能等必要的培训、考核合格并持证或经授权。&三、实验室实施内部校准的校准环境、设施应满足校准方法的要求。&四、实施内部校准使用的标准设备(含标准物质/标准样品)应满足以下要求:实验室应按照校准方法要求配备标准设备和辅助设备;标准设备的准确等级(或最大允许误差)一般应优于被校准设备的3-5倍;个别专业要求达到10倍;标准设备应经校准或检定;一般情况下,标准设备不允许内部校准。&五、校准实验室的主要校准设备、对校准结果有显著影响的设备,一般情况下不允许内部校准。&六、内部校准所用方法,应优先用标准方法(国际、国家、行业、区域组织等发布的方法),当没有标准方法时,可以使用自编方法、厕灵设备制造商推荐的方法等非标方法。当使用非标方法时,应经过验证和确认。非标方法的技术要素应符合《国家计量校准规范编写规则》(JJF)的规定。当使用外部非标方法时,实验室应其转化为实验室文件。&七、内部校准的校准证书可以简化,或不出具证书,但校准记录的信息应符合校准方法和认可准则的要求,如应包含测量不确定度、环境条件、标准仪器溯源心思等,并满足对被校设备计量确认的需要。&八、实验室的质量控制程序、质量监督计划应覆盖内部校准活动。&九、相关法规规定数据前置鉴定管理的测量设备,应按规定检定,且其检定周期、检定项目应符合检定规程的规定。&如何判断是否有必要内部校准?&检测实验室首先应该确定是否有必要开展内部校准活动&,哪些检测设备有必要开展内部校准活动&。检测实验室应该本着经济合理的原则&,根据以下两个方面来考虑是否必要:1、检测实验室内部的同类参数的检测设备的数量&,如某检测实验室内部通用量具比较多,&全部送检费用高而且周期长&,实验室就可以购买标准量块&,对通用量具进行内部校准;2、检测设备的应用领域的宽窄,&应用领域比较窄的检测设备,&往往没有进行校准的标准方法和获得认可的校准服务提供者&,如果本实验室应用领域比较窄的专用检测设备比较多&,这就需要实验室根据仪器的使用情况、参数规格、量程来选择合适的标准计量器具和合适的方法来进行内部校准。&人员、计量标准、校准方法、校准证书和不确定度、能力验证这五个方面是实施内部校准过程中最重要的。&&人员实施内部校准的人员,&可以是检测设备的使用者&,也可以是实验室所在组织其他部门的人员,&要熟悉检测设备&,而且必须经过相关计量知识、技能等必要培训&、考核合格并持证或者经过授权。计量培训考核的主要方式是参加地方或部门组织的计量培训考核的外部培训考核方式&,争取每个校准项目都有两人通过计量行政主管部门的外部培训、考核后持有计量员证的同时&,也要采取外部培训过的人员对其他参与内部校准的人员进行培训的内部培训考核的方式,保证每个参与内部校准的人员都能拥有多个专业的最基本的计量知识。&计量标准计量标准的量值溯源应满足CNAS- CL01《检测和校准实验室能力认可准则》第&5. 6&条“测量溯源性”的要求和CNAS - CL06《量值溯源要求》的要求&,计量标准的溯源性是内部校准有效溯源的最基本要求。配置计量标准和配套设备的时候&,要按照校准方法和测量溯源性的要求&,根据检测实验室的实际情况,&本着经济合理的原则来进行配置&。&计量标准是否通过最高计量标准建标考核,&由实验室向当地计量行政主管部门咨询,&按照相关法律法规的当地计量行政主管部门的要求执行。但是应对计量标准进行不确定度验证、重复性和稳定性考核&,建立计量标准履历表。而且应该对标准的维护和正确的适用建立一套专门的程序&,并规定程序和日程对计量标准进行期间核查,以保持其校准状态的可信度。&校准方法校准方法应优先采用标准的方法,&首选国家或部门计量检定规程( JJG)&或国家校准规范( JJF) ,而且可以选择性执行,&其次可以选用国家标准或者行业标准中相应的检验和校准部分,&当没有实施校准的标准方法的时候&,可以使用知名的技术组织、有关科学书籍和期刊公布的方法、自编方法、测量设备制造商推荐的方法等非标准方法。非标准方法使用前必须要经过确认,而且要转化为实验室文件。编制内部校准方法:对于专用的检测设备的校准,很少有标准方法&,所以最常见的做法是编制内部校准方法&。编制内部校准方法要参照&JJF《国家计量校准规范编写规则》&,&应该包含以下几个方面&:校准所用标准器具:&准确度等级、&测量范围;校准条件:&环境&,准物质与试剂&;校准项目:&与示值准确性相关的内容;校准方法:&校准项目的具体操作过程;校准的记录与表达:&校准记录格式,&校准报告的固定格式&;校准周期;被校仪器的符合性判定;校准结果的不确定度评定&内部校准方法不强调通用性&,而应该强调针对性和专一性&,即本内部校准方法就是针对本检测实验室的某一特定被校设备。&校准证书和不确定度内部校准中必须要做好校准记录,&校准记录的内容应符合校准方法和&CNAS&认可准则的要求。校准记录要有较长的保留期,&以备查验和监控被校准仪器的稳定性。做好记录以后实验室可以不出具校准证书,&也可以出具简化的校准证书。内部校准活动应满足CNAS&对校准领域不确定度的要求。实验室应对开展内部校准的全部项目进行不确定度评估&,而且要在校准记录或者校准证书中报告不确定度&,在校准记录或校准证书中可以根据校准结果的不确定度对其校准方法或相应条款给出符合性声明&。&能力验证CNAS -CL31 : 2011《内部校准要求》规定“实验室应寻求和参加适当的能力验证活动以对其实施的内部校准活动进行质量监控&,当可能时,这些能力验证活动应符合CNAS -RL02《能力验证规则》的相关要求。”对于比较常用的通用计量器具,CNAS&定期或不定期地组织能力验证计划,因此,&实验室可经常登录&CNAS&网站查询与本实验室内部校准项目一致的能力验证计划,&并根据自己的实际情况选择参加&。对于应用领域比较窄的实验室专用检测设备&,实验室可以自行采取其他方式进行质量监控。比如:行业间之间的比对,&可以自行组织相同行业内开展内部校准的检测实验室且拥有相同的专用检测设备的进行比对&。定期使用有证标准物质(&参考物质)&进行监控和/或使用次级标准物质(&参考物质)&开展内部质量控制。使用相同或不同的方法进行在检测和再校准。版权声明
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这两者的区别一个是内部需要一个是设备厂商自带的校准活动。内部校准是指在检测实验室或其所在组织内部实施的,使 用自有的设施和测量标准,校准结果仅用于内部需要,为实现获认 可的检测活动相关的测量设备的量值溯源而实施的校准。自校准(Self-Calibration) —般是利用测量设备自带的校准程序 或功能(比如智能仪器的开机自校准程序)或设备厂商提供的没有 溯源证书的标准样品进行的校准活动,通常情况下,其不是有效的 量值溯源活动,但特殊领域另有规定除外。
答:在实验室或其所在组织内部实施的,使用自有的设施和测 量标准,校准结果仅用于内部需要,为实现获认可的检测活动相关 的测量设备的量值溯源而实施的校准。
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营业额会计上指的是营业收入,税法指的是应税营业收入。营业额属于含税收入,适用于饮食业、运输业、广告业、娱乐业、建筑安装业等 。
对于由非金属通过共价键形成的化合物,极性与否不是看键是不是极性的.而是要分析几个键之间的相互作用力是否可以抵消,像CO2是直线型的,结构式为:O=C=O,作用力等效作用于碳原子两边,按物理上的受力分析来看,不正好得以抵消吗?而SO2由于受力方向不同,就无法达到这样的效果.
平时做的练习里也常常会出现让你写一下分子构型或是电子式的,出现频率较高的有:NH3(三角锥型),CH4(正四面体),CO2(直线型),像过氧化物的有时也会让你写一下电子式.这些一般讲知识点的时候老师都会提及到的.
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确实没有偿还能力的,应当与贷款机构进行协商,宽展还款期间或者分期归还; 如果贷款机构起诉到法院胜诉之后,在履行期未履行法院判决,会申请法院强制执行; 法院在受理强制执行时,会依法查询贷款人名下的房产、车辆、证券和存款;贷款人名下没有可供执行的财产而又拒绝履行法院的生效判决,则有逾期还款等负面信息记录在个人的信用报告中并被限制高消费及出入境,甚至有可能会被司法拘留。
第一步:教育引导
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XXXX化工有限公司作业文件NE-Z-计量器具内部校准规程发布实施XXXX化工有限公司发布审批单审签会签职责签名日期会签部门签名日期编制审核批准修订记录序号更改页次更改标记版次更改人更改时间备注目录1.压力表内部校准规程……………………………………………………12.电子称内部校准规程……………………………………………………43.可燃气体报警器内部校准规程……………………………………………64.测温仪表内部校准规程……………………………………………………85.附件A压力表内部校准记录………………………………………………96.附件B电子称内部校准记录………………………………………………107.附件C电子秤调整步骤……………………………………………………118.附件D可燃气体报警器校准记录…………………………………………139.附件E测温仪表内部校准记录……………………………………………14前言本标准由XXXX化工有限公司质检部提出并归口。本标准起草部门:质检部本标准起草人:张三本标准审核人:李四本标准批准人:王老五本标准由质检部负责解释。本标准为首次发布。1压力表内部校准规程本规程参照JJG52—1999《弹簧管式一般压力表、压力真空表和真空表检定规程》,结合我公司实际情况,修订的针对公司一般用压力表的比对校准依据。1.适用范围本规程适用于公司内部压力表的自校。2.外观检查2.1压力表的零部件装配应牢固、无松动现象。2.2新制造的压力表涂层应均匀光洁、无明显剥脱现象。2.3压力表应装有安全孔,安全孔上须有防尘装置(不准被测介质逸出表外的压力表除外)。2.4压力表按其所测介质不同,在压力表上应有表1中规定的色标,并注明特殊介质的名称。氧气表还必须标以红色“禁油”字样。表1测压介质氧氢氨***乙炔其它可燃气体其它惰性气体或液体色标颜色天蓝色深 绿色黄色褐色白色红色黑色2.5分度盘上应有如下标志:制造单位或商标;产品名称;计量单位和数字;量址器具制造许可证标志和编号;准确度等级;出厂编号。2.6表玻璃应无色透明,不应有妨碍读数的缺陷和损伤,分度盘应平整光洁,各标志应清晰可辨。2.7指针指示端应能覆盖最短分度线长度的1/3~2/3,指针指示端的宽度应不大于分度线的宽度。2.8测量上限量值数字应符合如下系列中之一:1×10n,1.6×100n,2.5×10n,4×10n,6×10n(式中:,n是正整数、负整数或零)。2.9分度值应符合如下系列中之一:1×10n,2×10n,5×10n(式中:n是正整数、负整数或零)。23.零位检查3.1带有止销的压力表,在无压力时,指针应紧靠止销。3.2根据公司使用情况规定的允许误差绝对值见表2。表2准确度等级允许误差%零位(带止销)测量上限其余部分1.61.6±1.6±1.62.52.5±2.5±2.53.3没有止销的压力表,在无压力时,指针应位于零位标志内,零位标志应不超过表2规定的允许误差绝对值的2倍。4.示值误差,回程误差和轻敲位移的校准4.1标准仪器与压力表使用气体为工作介质时,它们的受压点应基本上在同一水平面上。如不在同一水平面上,应考虑由气柱高度差所产生的压力误差。4.2压力表的示值应按分度值的1/5估读。4.3示值校准方法压力表的示值检定按标有数字的分度线进行。校准时逐渐平稳地升压(或降压),当示值达到测量上限后,切断压力源,耐压3min,然后按原校准点平稳地降压(或升压)倒序回检。4.4示值误差对每一校准点,在升压(或降压)和降压(或升压)校准时,轻敲表壳前、后的示值与标准器示值之差均应不大于表2所规定的允许误差。4.5回程误差对同一校准点,在升压(或降压)和降压(或升压)校准时,轻敲表壳后示值之差应不大于表2中规定的允许误差绝对值。4.6轻敲位移对每一校准点,在升压(或降压)和降压(或升压)校准时,轻敲表壳前、后引起的示值变动量均应不大于表2所规定的允许误差。4.7指针偏转平稳性3在示值误差校准过程中,用目力观测指针的偏转,指针偏转应平稳,无跳动和卡住现象。5.校准结果的处理5.1校准合格的压力表,登记“压力表校准记录”,记录上给出合格的准确度等级及测量变动量的误差明细。校准合格的压力表并附上合格确认标识。5.2校准不合格的压力表贴上不合格标识,累积一定数量交由供应处调换处理。6.标准器标准器为计量所检定合格的0.4级精密压力表。7环境条件环境温度:(20士10)℃,压力表和标准器在相同环境下放置2小时以上。环境相对湿度:不大于85环境压力:大气压8检定周期:公司内部计量的压力表校准周期一般为6个月。9、压力表内部校准记录见附件A4电子秤内部校准规程本规程参照JJG539-1997《数字指示秤检定规程》,结合我公司实际情况,修订的针对公司电子秤的比对校准依据。1.适用范围本文规定了电子秤内部校准方法、周期及判定结果。本文件适用于XXXX化工有限公司电子秤的内部校准。2.校准项目及技术要求2.1校验的环境:常温,湿度50±20%。2.2最大允许误差2.2.1首次校准最大允许误差加载或卸载时的最大允许误差见表1最大允许误差校准砝码的重量±0.5ea0≤m≤500e±1.0e500e&m≤2000e±1.5e2000e&m≤10000ea:e为分度值表12.2.2使用中检测的最大允许误差,是首次检测最大允许误差的两倍。2.2.3偏载偏载测试时,同一砝码在不同位置的示值,其误差应不大于该称量的最大允许误差。3.校准方法3.1检查电子秤,外观是否清洁,电子秤开关是否完好,电力是否充足,显示是否明亮、完整、清晰,摆放秤的平台平整,稳固,具有良好的刚度,并具有一定的防震,隔震效果;3.2电子秤(台秤)零位是否正确;53.3称量测试:从零点起按由从小到大的顺序加砝码,用同样的方法卸砝码至零点,测试最好选用以下4个称量:a)、最小称量;b)、分度值的500倍;c)、分度值的1000倍;d)、50%最大称量。3.4偏载测试:取电子秤1/3量程载荷(或日常称量值)的标准砝码,在电子秤的四角,使用小砝码组合应均匀地分布在整个区域,避免不必要叠放,记录每次稳定后的读数。3.5校准结果的处置:校准合格的秤,应粘贴合格证,注明有效期;检测不合格的秤不准使用并粘贴停用标识。4、内校周期为1年。5、电子秤内部校准记录见附件B6、经校准不合格的电子称重新调整的操作方法见附件C6可燃气体报警器内部校准规程本规程参照JJG693-2011《可燃气体报警器检定规程》,结合我公司实际情况,修订的针对公司可燃气体报警器的校准依据。1.适用范围本文规定了可燃气体报警器校准方法、周期及判定结果。本文件适用于XXXX化工有限公司可燃气体报警器的内部校准。、2.概述仪器的检测原理主要有催化燃烧型、红外线吸收型、热导型等。采样方式有扩散式和吸入式。仪器主要由检测元件、放大电路、报警系统、显示器等组成,用于监测环境中可燃气体的浓度。3.通用技术要求3.1外观及结构仪器不应有影响其正常工作的外观损伤。新制造的仪器的表面应
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下载次数:【原创】如何实现Kinetis ADC自校准
&&& Kinetis内部自带的16位ADC一直是其非常大的优势和特色,毕竟目前市场上ARM MCU端的江山把16位ADC集成到片内去也只有Freescale这样做了,当然这里的16位是指其最高分辨率,其ENOB最好可以做到13.5位,但是这也让其他家MCU的12位ADC拍马也赶不上了(12位ADC,其ENOB能达到10位就已经算是很好了),在一些医疗电力等应用还是有其独特的优势的。当然,不能一概而论的想当然为其他家也肯定不能把16位ADC做到片内,我觉着各家有各家的权衡,面向的应用对象不同,精度和速度这两个永远是一个矛盾(ADI家那种高大上的高速高精度ADC除外,谁让人家舍得本钱呢,贵有贵的理由),其他家比如ST和Atmel等内部的12位ADC的采样率还是比较快的(12位模式,上1M还是松松的,Freescale的16位ADC配置成12位模式下最高为800多ksps)。
&&& 既然Kinetis主打的是高精度,那我们当然要让这个优势发挥到淋漓尽致了,为保证片内ADC的精度和线性度,Freescale在ADC内部集成了自校准功能,这部分最近有人也问过我,我觉着还是写出来分享给大家好了。如下图为校准前(黄色线)与理论值(蓝色线)的比较,当然这个图只是个简单的示意图了,这个时候肯定会有人问到,他之前代码中没有校准也可以正常转换且转换出来的值与实际值也差不多,这个是为什么呢。这个不用担心,实际上可以理解为芯片出厂已经在相关寄存器被写入了一个校准值了,所以一般情况下下图中不校准和校准后的这个offset和gain差是很小的,但是如果我们不是一般情况下呢,呵呵,比如外界环境比较恶劣等条件下还是强烈建议在使用ADC模块前将ADC校准一下为好。说到这,还会有较真的人问到具体的校准原理是什么,我也只能把头摇成个拨浪鼓,俺也不知道,我只能说在校准时VREFL和VREFH这两个脚的电压肯定是需要采样做两点校准的,至于还有哪些点要采样或者中间还有哪些操作,我也懒得再往深了找了,想想头大,呵呵。
&&& 说到这里,我需要再提一句,我这里提到的ADC自校准功能并不是想当然的写一个寄存器位触发一次校准然后等着校准完成就OK了。实际上这个过程如果更准确的说应该叫做半自动校准,前半段过程是自动的即写一个寄存器位触发校准然后等待完成,但是后半段则需要手动去做(前半段校准后的值被写到相关寄存器里了,后半段还需要手动对这些寄存器里面的值做一定运算处理后再赋给最终的寄存器)。这部分说起来比较麻烦,我还是直接列出这部分代码,然后大家对照着手册中ADC章节描述校准的部分慢慢消化慢慢理解:
(1)在ADC校准前,我们还是得先让ADC工作起来(因为ADC校准也是通过ADC内部正常工作正常转换的),校准前对ADC模块的配置,手册里也给出了明确的建议如下图,即打开32次硬件平均,ADC的输入时钟小于4MHz,外部VREFH与VDDA电压一致,然后建议校准是在常温下进行,具体实现代码可以参考我贴上来的:
// Do calibration first with 32 h/w averages
= 0|ADC_CFG1_ADIV(3) | ADC_CFG1_ADLSMP_MASK| ADC_CFG1_MODE(3)
| ADC_CFG1_ADICLK(1); // input clock=busclock/2/8, 16 bit mode, long sample time
ADC0_SC2A =
0 | 0 | ADC_CFG2_ADHSC_MASK| ADC_CFG2_ADLSTS(0) ;
ADC0_CV1 = 0x1234
ADC0_CV2 = 0x5678
ADC0_SC2 = 0 | 0 | ADC_SC2_REFSEL(0); // Default voltage reference pin pair, that is, external pins VREFH and VREFL
ADC0_SC3 = 0| 0 | ADC_SC3_AVGE_MASK | ADC_SC3_AVGS(3); // 32 hardware averaged
ADC0_SC1A= 0| 0 | ADC_SC1_ADCH(31);
// assign any channel
(2)ADC的基本初始化已经完成,下面就马上开始校准了,校准的流程手册里也给出了明确的建议如下图,具体实现代码我也贴上来了:
unsigned short cal_
ADC0_SC2 &=
~ADC_SC2_ADTRG_MASK ; // Enable Software Conversion Trigger for Calibration Process
- ADC0_SC2 = ADC0_SC2 | ADC_SC2_ADTRGW(0);
ADC0_SC3 &= ( ~ADC_SC3_ADCO_MASK & ~ADC_SC3_AVGS_MASK ); // set single conversion, clear avgs bitfield for next writing
ADC0_SC30 |= ( ADC_SC3_AVGE_MASK | ADC_SC3_AVGS(AVGS_32) );
// Turn averaging ON and set at max value ( 32 )
ADC0_SC3 |= ADC_SC3_CAL_MASK ;
// Start CAL
while ( (ADC0_SC1 & ADC_SC1_COCO_MASK ) == 0); // Wait calibration end
if ((ADC0_SC3 & ADC_SC3_CALF_MASK) == ADC_SC3_CALF_MASK )
return(1);
// Check for Calibration fail error and return
// Calculate plus-side calibration
cal_var = 0x00;
ADC0_CLP0;
cal_var += ADC0_CLP1;
cal_var += ADC0_CLP2;
cal_var += ADC0_CLP3;
cal_var += ADC0_CLP4;
cal_var += ADC0_CLPS;
cal_var = cal_var/2;
cal_var |= 0x8000; // Set MSB
ADC0_PG0 = ADC_PG_PG(cal_var);
// Calculate minus-side calibration
cal_var = 0x00;
ADC0_CLM0;
cal_var += ADC0_CLM1;
cal_var += ADC0_CLM2;
cal_var += ADC0_CLM3;
cal_var += ADC0_CLM4;
cal_var += ADC0_CLMS;
cal_var = cal_var/2;
cal_var |= 0x8000; // Set MSB
ADC0_MG = ADC_MG_MG(cal_var);
ADC0_SC3 &= ~ADC_SC3_CAL_MASK ; /* Clear CAL bit */
&&& 按照如上两个步骤即可完成ADC校准,之后再正常写ADC的初始化函数即可,不过需要重点注意一下,在写ADC初始化的时候首先校准寄存器就不要再重复操作了,还有配置寄存器这部分需要特别注意,因为前面两步已经对个别配置寄存器操作了,所以用户在自己写ADC初始化操作的时候要先把要操作的寄存器清0然后再赋值,相信这样做的目的大家都懂的,否则可不一定会想你想的那样正常工作的(举个最简单的例子,因为前面我们对ADC0SC3配置了32均分功能,相应的位为全1,如果下面我们自己写初始化函数的时候想要配置成8均分时就不能或操作了,得先清0再或才是对的,不知道我解释的清楚不,呵呵)。
&&& 好了,该说的都说了,祝大家好运,一次成功,哈哈。今天工作量大了点,一下子写了这么多,脑子有点晕沉沉的,赶紧去吃点好的补补去,呵呵,撤了,再聊,未完待续~
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