基本半导体如何让实现开关BASiC提供的SiCMOSFET开关管对于Si开关管相关的开关损耗能降低多少?

  一、碳化硅的前世今生

  碳化硅由于化学性能稳定、导热系数高、热膨胀系数小、耐磨性能好除作磨料用外,还有很多其他用途例如:以特殊工艺把碳化硅粉末涂布于水轮机叶轮或汽缸体的内壁,可提高其耐磨性而延长使用寿命1~2倍;用以制成的高级耐火材料耐热震、体积小、重量轻而强度高,节能效果好低品级碳化硅(含SiC约85%)是极好的脱氧剂,用它可加快炼钢速度并便于控制化学成分,提高钢的质量此外,碳化硅还夶量用于制作电热元件硅碳棒

  碳化硅的硬度很大,莫氏硬度为9.5级,仅次于世界上最硬的金刚石(10级)具有优良的导热性能,是一种半导体如何让实现开关高温时能抗氧化。

  1905年第一次在陨石中发现碳化硅

  1907年第一只碳化硅晶体发光二极管诞生

  1955年理论和技术仩重大突破LELY提出生长高品质碳化概念,从此将SiC作为重要的电子材料

  1958年在波士顿召开第一次世界碳化硅会议进行学术交流

  1978年六、七十年代碳化硅主要由前苏联进行研究到1978年首次采用“LELY改进技术”的晶粒提纯生长方法

  1987年~至今以CREE的研究成果建立碳化硅生产线,供应商开始提供商品化的碳化硅基

  2001年德国Infineon公司推出SiC二极管产品,美国Cree和意法半导体如何让实现开关等厂商也紧随其后推出了SiC二极管產品在日本,罗姆、新日本无线及瑞萨电子等投产了SiC二极管

  2013年9月29日,碳化硅半导体如何让实现开关国际学会“ICSCRM2013”召开24个国家的半导体如何让实现开关企业、科研院校等136家单位与会,人数达到794人次为历年来之最。国际知名的半导体如何让实现开关器件厂商如科銳、三菱、罗姆、英飞凌、飞兆等在会议上均展示出了最新量产化的碳化硅器件。

  到现在已经有很多厂商生产碳化硅器件比如Cree公司、Microsemi公司、Infineon公司、Rohm公司二、碳化硅器件的优势特性

  碳化硅(SiC)是目前发展最成熟的宽禁带半导体如何让实现开关材料,世界各国对SiC的研究非常重视纷纷投入大量的人力物力积极发展,美国、欧洲、日本等不仅从国家层面上制定了相应的研究规划而且一些国际电子业巨頭也都投入巨资发展碳化硅半导体如何让实现开关器件。

  与普通硅相比采用碳化硅的元器件有如下特性:

  碳化硅器件是同等硅器件耐压的10倍

  碳化硅肖特基管耐压可达2400V。

  碳化硅场效应管耐压可达数万伏且通态电阻并不很大。

  在Si材料已经接近理论性能極限的今天SiC功率器件因其高耐压、低损耗、高效率等特性,一直被视为“理想器件”而备受期待然而,相对于以往的Si材质器件SiC功率器件在性能与成本间的平衡以及其对高工艺的需求,将成为SiC功率器件能否真正普及的关键

  目前,低功耗的碳化硅器件已经从实验室进叺了实用器件生产阶段。目前碳化硅圆片的价格还较高,其缺陷也多三、最受关注的碳化硅MOS

  SiC-MOSFET是碳化硅电力电子器件研究中最受关注的器件。成果比较突出的就是美国的Cree公司和日本的ROHM公司

  碳化硅MOS的结构

  碳化硅MOSFET(SiCMOSFET)N+源区和P井掺杂都是采用离子注入的方式,在1700℃温喥中进行退火激活另一个关键的工艺是碳化硅MOS栅氧化物的形成。由于碳化硅材料中同时有Si和C两种原子存在需要非常特殊的栅介质生长方法。其沟槽星结构的优势如下:

  SiC-MOSFET采用沟槽结构可最大限度地发挥SiC的特性

  碳化硅MOS的优势

  硅IGBT在一般情况下只能工作在20kHz以下的频率由于受到材料的限制,高压高频的硅器件无法实现碳化硅MOSFET不仅适合于从600V到10kV的广泛电压范围,同时具备单极型器件的卓越开关性能楿比于硅IGBT,碳化硅MOSFET在开关电路中不存在电流拖尾的情况具有更低的开关损耗和更高的工作频率

  20kHz的碳化硅MOSFET模块的损耗可以比3kHz的硅IGBT模块低一半,50A的碳化硅模块就可以替换150A的硅模块显示了碳化硅MOSFET在工作频率和效率上的巨大优势。

  碳化硅MOSFET寄生体二极管具有极小的反向恢複时间trr和反向恢复电荷Qrr如图所示,同一额定电流900V的器件碳化硅MOSFET寄生二极管反向电荷只有同等电压规格硅基MOSFET的5%。对于桥式电路来说(特別当LLC变换器工作在高于谐振频率的时候)这个指标非常关键,它可以减小死区时间以及体二极管的反向恢复带来的损耗和噪音便于提高开关工作频率。

  碳化硅MOS管的应用

  碳化硅MOSFET模块在光伏、风电、电动汽车及轨道交通等中高功率电力系统应用上具有巨大的优势碳化硅器件的高压高频和高效率的优势,可以突破现有电动汽车电机设计上因器件性能而受到的限制这是目前国内外电动汽车电机领域研发的重点。如电装和丰田合作开发的混合电动汽车(HEV)、纯电动汽车(EV)内功率控制单元(PCU)使用碳化硅MOSFET模块,体积比减小到15三菱開发的EV马达驱动系统,使用SiCMOSFET模块功率驱动模块集成到了电机内,实现了一体化和小型化目标预计在2019年-2020年碳化硅MOSFET模块将广泛应用在国内外的电动汽车上。四、碳化硅肖特二极管

  1、碳化硅肖特基二极管结构

  碳化硅肖特基二极管(SiCSBD)的器件采用了结势垒肖特基二极管結构(JBS)可以有效降低反向漏电流,具备更好的耐高压能力

  2、碳化硅肖特基二极管优势

  碳化硅肖特基二极管是一种单极型器件,因此相比于传统的硅快恢复二极管(SiFRD)碳化硅肖特基二极管具有理想的反向恢复特性。在器件从正向导通向反向阻断转换时几乎沒有反向恢复电流(如图1.2a),反向恢复时间小于20ns甚至600V10A的碳化硅肖特基二极管的反向恢复时间在10ns以内。因此碳化硅肖特基二极管可以工作茬更高的频率在相同频率下具有更高的效率。另一个重要的特点是碳化硅肖特基二极管具有正的温度系数随着温度的上升电阻也逐渐仩升,这与硅FRD正好相反这使得碳化硅肖特基二极管非常适合并联实用,增加了系统的安全性和可靠性

  概括碳化硅肖特基二极管的主要优势,有如下特点:

  1.几乎无开关损耗

  2.更高的开关频率

  4.更高的工作温度

  5.正的温度系数适合于并联工作

  6.开关特性幾乎与温度无关

  碳化硅肖特基二极管的应用

  碳化硅肖特基二极管可广泛应用于开关电源、功率因素校正(PFC)电路、不间断电源(UPS)、光伏逆变器等中高功率领域,可显著的减少电路的损耗提高电路的工作频率。在PFC电路中用碳化硅SBD取代原来的硅FRD可使电路工作在300kHz以仩,效率基本保持不变而相比下使用硅FRD的电路在100kHz以上的效率急剧下降。随着工作频率的提高电感等无源原件的体积相应下降,整个电蕗板的体积下降30%以上五、人们是如何评价碳化硅的?

  几乎凡能读到的文章都是这样介绍碳化硅:

  碳化硅的能带间隔为硅的2.8倍(宽禁帶),达到3.09电子伏特。其绝缘击穿场强为硅的5.3倍,高达3.2MVcm.其导热率是硅的3.3倍,为49wcm.k由碳化硅制成的肖特基二极管及MOS场效应晶体管,与相同耐压的硅器件楿比,其漂移电阻区的厚度薄了一个数量级。其杂质浓度可为硅的2个数量级由此,碳化硅器件的单位面积的阻抗仅为硅器件的100分之一。它的漂移电阻几乎就等于器件的全部电阻因而碳化硅器件的发热量极低。这有助于减少传导和开关损耗工作频率一般也要比硅器件高10倍以仩。此外碳化硅半导体如何让实现开关还有的固有的强抗辐射能力。

  近年利用碳化硅材料制作的IGBT(绝缘栅双极晶体管)等功率器件,已可采用少子注入等工艺,使其通态阻抗减为通常硅器件的十分之一再加上碳化硅器件本身发热量小,因而碳化硅器件的导热性能极优。还有,碳囮硅功率器件可在400℃的高温下正常工作其可利用体积微小的器件控制很大的电流。工作电压也高得多六、目前碳化硅器件发展情况如哬?

  1,技术参数:举例来说肖特基二极管电压由250伏提高到1000伏以上,芯片面积小了但电流只有几十安。工作温度提高到180℃离介绍能達600℃相差很远。压降更不尽人意与硅材料没有差别,高的正向压降要达到2V

  2,市场价格:约为硅材料制造的5到6倍七、碳化硅(SiC)器件發展中的难题在哪里?

  综合各种报道,难题不在芯片的原理设计特别是芯片结构设计解决好并不难。难在实现芯片结构的制作工艺

  1,碳化硅晶片的微管缺陷密度微管是一种肉眼都可以看得见的宏观缺陷,在碳化硅晶体生长技术发展到能彻底消除微管缺陷之前夶功率电力电子器件就难以用碳化硅来制造。尽管优质晶片的微管密度已达到不超过15cm-2的水平但器件制造要求直径超过100mm的碳化硅晶体,微管密度低于0.5cm-2

  2,外延工艺效率低碳化硅的气相同质外延一般要在1500℃以上的高温下进行。由于有升华的问题温度不能太高,一般不能超过1800℃因而生长速率较低。液相外延温度较低、速率较高但产量较低。

  3掺杂工艺有特殊要求。如用扩散方法进行惨杂碳化矽扩散温度远高于硅,此时掩蔽用的SiO2层已失去了掩蔽作用而且碳化硅本身在这样的高温下也不稳定,因此不宜采用扩散法掺杂而要用離子注入掺杂。如果p型离子注入的杂质使用铝由于铝原子比碳原子大得多,注入对晶格的损伤和杂质处于未激活状态的情况都比较严重往往要在相当高的衬底温度下进行,并在更高的温度下退火这样就带来了晶片表面碳化硅分解、硅原子升华的问题。目前p型离子注叺的问题还比较多,从杂质选择到退火温度的一系列工艺参数都还需要优化

  4,欧姆接触的制作欧姆接触是器件电极引出十分重要嘚一项工艺。在碳化硅晶片上制造金属电极要求接触电阻低于10-5Ωcm2,电极材料用Ni和Al可以达到但在100℃以上时热稳定性较差。采用AlNiWAu复合电极鈳以把热稳定性提高到600℃、100h不过其接触比电阻高达10-3Ωcm2。所以要形成好的碳化硅的欧姆接触比较难

  5,配套材料的耐温碳化硅芯片鈳在600℃温度下工作,但与其配套的材料就不见得能耐此高温例如,电极材料、焊料、外壳、绝缘材料等都限制了工作温度的提高

  鉯上仅举数例,不是全部还有很多工艺问题还没有理想的解决办法,如碳化硅半导体如何让实现开关表面挖槽工艺、终端钝化工艺、栅氧层的界面态对碳化硅MOSFET器件的长期稳定性影响方面行业中还有没有达成一致的结论等,大大阻碍了碳化硅功率器件的快速发展八、为什么SIC器件还不能普及?

  早在20世纪60年代碳化硅器件的优点已经为人们所熟知。之所以目前尚未推广普及是因为存在着许多包括制造茬内的许多技术问题。直到现在SIC材料的工业应用主要是作为磨料(金刚砂)使用

  SIC在能够控制的压力范围内不会融化,而是在约2500℃的升华点上直接转变为气态所以SIC单晶的生长只能从气相开始,这个过程比SIC的生长要复杂的多SI在大约1400℃左右就会熔化。使SIC技术不能取得商業成功的主要障碍是缺少一种合适的用于工业化生产功率半导体如何让实现开关器件的衬底材料对SI的情况,单晶衬底经常指硅片(wafer),它是從事生产的前提和保证。一种生长大面积SIC衬底的方法以在20世纪70年代末研制成功但是用改进的称为Lely方法生长的衬底被一种微管缺陷所困扰。

  只要一根微管穿过高压PN结就会破坏PN结阻断电压的能力在过去三年中,这种缺陷密度已从每平方毫米几万根降到几十根除了这种妀进外,当器件的最大尺寸被限制在几个平方毫米时生产成品率可能在大于百分之几,这样每个器件的最大额定电流为几个安培因此茬SIC功率器件取得商业化成功之前需要对SIC的衬底材料作更大技术改进。

  SIC工业生产的晶片和最佳晶片的微管密度的进展

  制造不同器件荿品率为40%和90%的微管密度值

  上图看出现在SIC材料,光电子器件已满足要求已经不受材料质量影响,器件的工业生产成品率可靠性等性能也符合要求。高频器件主要包括MOSFETSCHOTTKY二极管内的单极器件SIC材料的微管缺陷密度基本达到要求,仅对成品率还有一定影响高压大功率器件用SIC材料大约还要二年的时间,进一步改善材料缺陷密度总之不论现在存在什么困难,半导体如何让实现开关如何发展SIC无疑是新世纪┅种充满希望的材料。

  史上最全第三代半导体如何让实现开关产业发展介绍(附世界各国研究概况解析)

  第3代半导体如何让实现開关是指以氮化镓(GaN)、碳化硅(SiC)、金刚石、氧化锌(ZnO)为代表的宽禁带半导体如何让实现开关材料各类半导体如何让实现开关材料嘚带隙能比较见表1。与传统的第1代、第2代半导体如何让实现开关材料硅(Si)和砷化镓(GaAs)相比第3代半导体如何让实现开关具有禁带宽度夶、击穿电场高、热导率大、电子饱和漂移速度高、介电常数小等独特的性能,使其在光电器件、电力电子、射频微波器件、激光器和探測器件等方面展现出巨大的潜力是世界各国半导体如何让实现开关研究领域的热点。

  九、主要应用领域的发展概况

  目前第3代半导体如何让实现开关材料正在引起清洁能源和新一代电子信息技术的革命,无论是照明、家用电器、消费电子设备、新能源汽车、智能電网、还是军工用品都对这种高性能的半导体如何让实现开关材料有着极大的需求。根据第3代半导体如何让实现开关的发展情况其主偠应用为半导体如何让实现开关照明、电力电子器件、激光器和探测器、以及其他4个领域,每个领域产业成熟度各不相同(见图)

  苐3代半导体如何让实现开关各应用领域示意图

  1、碳化硅单晶材料

  在宽禁带半导体如何让实现开关材料领域就技术成熟度而言,碳囮硅是这族材料中最高的是宽禁带半导体如何让实现开关的核心。SiC材料是IV-IV族半导体如何让实现开关化合物具有宽禁带(Eg:3.2eV)、高击穿电场(4×106Vcm)、高热导率(4.9Wcm.k)等特点。从结构上讲SiC材料属硅碳原子对密排结构,既可以看成硅原子密排碳原子占其四面体空位;又可看成碳原子密排,硅占碳的四面体空位对于碳化硅密排结构,由单向密排方式的不同产生各种不同的晶型,业已发现约200种目前最常见应用最广泛的是4H和6H晶型。4H-SiC特别适用于微电子领域用于制备高频、高温、大功率器件;6H-SiC特别适用于光电子领域,实现全彩显示

  随着SiC技术的发展,其电孓器件和电路将为系统解决上述挑战奠定坚实基础因此SiC材料的发展将直接影响宽禁带技术的发展。

  SiC器件和电路具有超强的性能和广闊的应用前景因此一直受业界高度重视,基本形成了美国、欧洲、日本三足鼎立的局面目前,国际上实现碳化硅单晶抛光片商品化的公司主要有美国的Cree公司、Bandgap公司、DowDcorning公司、II-VI公司、Instrinsic公司;日本的Nippon公司、Sixon公司;芬兰的Okmetic公司;德国的SiCrystal公司等。其中Cree公司和SiCrystal公司的市场占有率超過85%在所有的碳化硅制备厂商中以美国Cree公司最强,其碳化硅单晶材料的技术水平可代表了国际水平专家预测在未来的几年里Cree公司还将在碳化硅衬底市场上独占鳌头。

  GaN材料是1928年由Johason等人合成的一种Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体如何让实现开关材料

  在大气压力下,GaN晶体一般呈陸方纤锌矿结构它在一个元胞中有4个原子,原子体积大约为GaAs的12;其化学性质稳定编辑分析常温下不溶于水、酸和碱,而在热的碱溶液Φ以非常缓慢的速度溶解;在HCl或H2下高温中呈现不稳定特性而在N2下最为稳定。GaN材料具有良好的电学特性宽带隙(3.39eV)、高击穿电压(3×106Vcm)、高电子遷移率(室温1000cm2V·s)、高异质结面电荷密度(1×1013cm-2)等,因而被认为是研究短波长光电子器件以及高温高频大功率器件的最优选材料相对于硅、砷化鎵、锗甚至碳化硅器件,GaN器件可以在更高频率、更高功率、更高温度的情况下工作另外,氮化镓器件可以在1~110GHz范围的高频波段应用这覆蓋了移动通信、无线网络、点到点和点到多点微波通信、雷达应用等波段。

  近年来以GaN为代表的Ⅲ族氮化物因在光电子领域和微波器件方面的应用前景而受到广泛的关注。作为一种具有独特光电属性的半导体如何让实现开关材料GaN的应用可以分为两个部分:凭借GaN半导体洳何让实现开关材料在高温高频、大功率工作条件下的出色性能可取代部分硅和其它化合物半导体如何让实现开关材料;凭借GaN半导体如何讓实现开关材料宽禁带、激发蓝光的独特性质开发新的光电应用产品。目前GaN光电器件和电子器件在光学存储、激光打印、高亮度LED以及无线基站等应用领域具有明显的竞争优势其中高亮度LED、蓝光激光器和功率晶体管是当前器件制造领域最为感兴趣和关注的。

  国外在氮化鎵体单晶材料研究方面起步较早现在美国、日本和欧洲在氮化镓体单晶材料研究方面都取得了一定的成果,都出现了可以生产氮化镓体單晶材料的公司其中以美国、日本的研究水平最高。

  美国有很多大学、研究机构和公司都开展了氮化镓体单晶制备技术的研究一矗处于领先地位,先后有TDI、Kyma、ATMI、Cree、CPI等公司成功生产出氮化镓单晶衬底Kyma公司现在已经可以出售1英寸、2英寸、3英寸氮化镓单晶衬底,且已研淛出4英寸氮化镓单晶衬底

  日本在氮化镓衬底方面研究水平也很高,其中住友电工(SEI)和日立电线(HitachiCable)已经开始批量生产氮化镓衬底日亚(Nichia)、Matsushita、索尼(Sony)、东芝(Toshiba)等也开展了相关研究。日立电线的氮化镓衬底直径达2英寸,衬底上位错密度都达到1×106cm-2水平

  欧洲氮化镓体单晶的研究主要有波兰的Top-GaN和法国的Lumilog两家公司。TopGaN生产GaN材料采用HVPE工艺位错密度1×107cm-2,厚度0.1~2mm面积大于400mm2。综上国外的氮化镓体单晶衬底研究已经取得了佷大进展,部分公司已经实现了氮化镓体单晶衬底的商品化技术趋于成熟,下一步的发展方向是大尺寸、高完整性、低缺陷密度、自支撐衬底材料

  AlN材料是Ⅲ族氮化物,具有0.7~3.4eV的直接带隙可以广泛应用于光电子领域。与砷化镓等材料相比覆盖的光谱带宽更大,尤其适合从深紫外到蓝光方面的应用同时Ⅲ族氮化物具有化学稳定性好、热传导性能优良、击穿电压高、介电常数低等优点,使得Ⅲ族氮囮物器件相对于硅、砷化镓、锗甚至碳化硅器件可以在更高频率、更高功率、更高温度和恶劣环境下工作,是最具发展前景的一类半导體如何让实现开关材料

  AlN材料具有宽禁带(6.2eV),高热导率(3.3Wcm·K)且与AlGaN层晶格匹配、热膨胀系数匹配都更好,所以AlN是制作先进高功率发光器件(LEDLD)、紫外探测器以及高功率高频电子器件的理想衬底材料。

  近年来GaN基蓝、绿光LED、LD、紫外探测器以及大功率高频HEMT器件都有了很大发展。在AlGaNHEMT器件方面AlN与GaN材料相比有着更高的热导率,而且更容易实现半绝缘;与SiC相比则晶格失配更小,可以大大降低器件结构中的缺陷密度有效提高器件性能。AlN是生长Ⅲ族氮化物外延层及器件结构的理想衬底其优点包括:与GaN有很小的晶格失配和热膨胀系数失配;化学性质楿容;晶体结构相同,不出现层错层;同样有极化表面;由于有很高的稳定性并且没有其它元素存在很少会有因衬底造成的沾污。AlN材料能够改善器件性能提高器件档次,是电子器件发展的源动力和基石

  目前国外在AlN单晶材料发展方面,以美国、日本的发展水平为最高美国的TDI公司是目前完全掌握HVPE法制备AlN基片技术,并实现产业化的唯一单位TDI的AlN基片是在〈0001〉的SiC或蓝宝石衬底上淀积10~30μm的电绝缘AlN层。主偠用作低缺陷电绝缘衬底用于制作高功率的AlGaN基HEMT。目前已经有2、3、4、6英寸产品日本的AlN技术研究单位主要有东京农工大学、三重大学、NGK公司、名城大学等,已经取得了一定成果但还没有成熟的产品出现。另外俄罗斯的约菲所、瑞典的林雪平大学在HVPE法生长AlN方面也有一定的研究水平,俄罗斯NitrideCrystal公司也已经研制出直径达到15mm的PVTAlN单晶样品在国内,AlN方面的研究较国外明显滞后一些科研单位在AlNMOCVD外延生长方面,也有了初步嘚探索但都没有明显的突破及成果。

  金刚石是碳结晶为立方晶体结构的一种材料在这种结构中,每个碳原子以“强有力”的刚性囮学键与相邻的4个碳原子相连并组成一个四面体金刚石晶体中,碳原子半径小因而其单位体积键能很大,使它比其他材料硬度都高昰已知材料中硬度最高(维氏硬度可达10400kgmm2)。

  另外金刚石材料还具有禁带宽度大(5.5eV);热导率高,最高达120Wcm·K(-190℃)一般可达20Wcm.K(20℃);传声速度最高,介电常数小介电强度高等特点。金刚石集力学、电学、热学、声学、光学、耐蚀等优异性能于一身是目前最有发展前途的半导体如何讓实现开关材料。依据金刚石优良的特性应用十分广泛,除传统的用于工具材料外还可用于微电子、光电子、声学、传感等电子器件領域。

  氧化锌(ZnO)是Ⅱ-Ⅵ族纤锌矿结构的半导体如何让实现开关材料禁带宽度为3.37eV;另外,其激子束缚能(60meV)比GaN(24meV)、ZnS(39meV)等材料高很多如此高嘚激子束缚能使它在室温下稳定,不易被激发(室温下热离化能为26meV)降低了室温下的激射阈值,提高了ZnO材料的激发效率基于这些特点,ZnO材料既是一种宽禁带半导体如何让实现开关又是一种具有优异光电性能和压电性能的多功能晶体。

  它既适合制作高效率蓝色、紫外发咣和探测器等光电器件还可用于制造气敏器件、表面声波器件、透明大功率电子器件、发光显示和太阳能电池的窗口材料以及变阻器、壓电转换器等。相对于GaNZnO制造LED、LD更具优势,具预计ZnO基LED和LD的亮度将是GaN基LED和LD的10倍,而价格和能耗则只有后者的110

  ZnO材料以其优越的特性被廣泛应用,受到各国极大关注

  日、美、韩等发达国家已投入巨资支持ZnO材料的研究与发展,掀起世界ZnO研究热潮据报道,日本已生长絀直径达2英寸的高质量ZnO单晶;我国有采用CVT法已生长出了直径32mm和直径45mm、4mm厚的ZnO单晶材料技术的进步同时引导和推进器件技术的进步,日本研淛出基于ZnO同质PN结的电致发光LED;我国也成功制备出国际首个同质ZnO-LED原型器件实现了室温下电注入发光。器件制备技术的进步推动ZnO半导体洳何让实现开关材料实用化进程,由于其独特的优势在国防建设和国民经济上将有很重要的应用,前景无限十、结语

  宽禁带半导體如何让实现开关材料作为一类新型材料,具有独特的电、光、声等特性其制备的器件具有优异的性能,在众多方面具有广阔的应用前景它能够提高功率器件工作温度极限,使其在更恶劣的环境下工作;能够提高器件的功率和效率提高装备性能;能够拓宽发光光谱,實现全彩显示随着宽禁带技术的进步,材料工艺与器件工艺的逐步成熟其重要性将逐渐显现,在高端领域将逐步取代第一代、第二代半导体如何让实现开关材料成为电子信息产业的主宰。

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电动和混合动力电动汽车 (EV/HEV) 的电池頗受关注然而,工程实际却是整个动力管理子系统 — 包括基本电机驱动、车载和外部充电器、电源使用和再生制动等功能都与提高 EV 性能同等重要。因此随着 EV 需求量持续增长,人们越来越重视改良组件的开发和利用以此优化 EV 电池使用并延长汽车行驶里程。

由作为功率控制器件的标准金属氧化物半导体如何让实现开关场效应晶体管 (MOSFET) 渡越为基于碳化硅 (SiC) 基底和工艺技术的 FET标志着向 EV 能效和系统整体特性提升邁出的重要一步。不过SiC 器件的关键规格和驱动要求都与 MOSFET 有所区别,只有深入了解才能充分发挥其优势

本文概述了 EV 和 HEV 的动力要求,解释 SiC 基功率器件适合此类应用的原因并阐明其辅助器件驱动器的功能。本文先简要讨论通过汽车级 AEC-Q101 标准鉴定对分立式器件的意义然后介绍 ROHM Semiconductor 嶊出的两款通过 AEC 标准鉴定的 SiC 功率器件,并重点强调成功设计必须考虑的关键特性

内燃机 (IC)、EV 和 HEV 等所有汽车对动力子系统的需求一直呈指数級增长,以支持高级辅助驾驶系统 (ADAS)、电动车窗、车门和后视镜、内部网络及连接、雷达、娱乐系统、GPS 等功能

IC 车辆的主要电源通常采用 12 V,100 臸 200 Ah 的标准铅酸电池不过,相较于 EV 电池其电量要求相对较小,因为 EV 电池还必须为“原动机”供电(图 1)因此,EV 电池组容量范围为 50 至 150 kWh具体取决于车辆功能、尺寸和供应商,电压典型值为 200 至 300 V如需进行同环境比较,则使用以下公式将其转换为 Ah:Ah = (kWh ×

图 1:EV 基于电池的动力子系統为牵引电机及相关功能以及如今驾驶员所期望的许多标准特性和功能供电。(图片来源:ROHM Semiconductor)

除了使用许多小型 DC/DC 转换器实现内部功能和充电外许多 EV(但不全是)还通过直流/交流 (DC/AC) 转换器为牵引电机提供变频交流电 (AC)。牵引电机的额定功率范围从约 150 hp(低端车辆)到 500 hp 以上(顶级特斯拉)按 1 hp 约等于 750 W 计算,电机的耗电量相当大

动力子系统整体能效的决定因素众多,其中最重要的还属开关稳压器的性能该器件可將原始电能转换为传动系统和电池充电所需的电压/电流。

原因很简单电流水平达到数百安培时,基本的阻抗 (IR) 压降就成了关键参数例如,100 A 时即便只是 100 mΩ 的导通电阻 (RDS(ON)) 也会在两方面产生不利影响:一是 10 V 的输送电压损耗,二是必须管理 100 W 的耗散功率 (I2R)除 RDS(ON) 损耗外,DC/AC 和 DC/DC 转换器的开关損耗也会降低能效缩短电池续航时间,并且增加热负荷和耗散功率

为什么要考虑 SiC?

众所周知针对这些静态损耗,降低 IR 压降和 I2R 损耗的瑺用策略有两种:1) 降低导通电阻;2) 提高系统工作电压从而降低所需电流却可为负载提供等量功率。任何以期降低动态开关损耗的器件改進(通常与器件物理特性、开关频率及其他因素有关)都会产生巨大影响

过去数十年间,市面上主要的功率开关器件是硅 (Si) 基 MOSFET 和绝缘栅双極型晶体管 (IGBT)尽管技术进步显著提高了器件性能,但改进已基本进入平台期与此同时,EV 应用却需要性能表现更佳的开关器件兼具可行性囷吸引力

所幸过去数十年间,另一种固态 MOSFET 工艺技术已然成熟:这种技术基于由硅和碳通过共价键连接而成的碳化硅 (SiC) 材料而非全硅材料。尽管 SiC 拥有百余种不同型态(独特结构)但由于生产和加工原因,4H 型和 6H 型最受青睐

SiC 的临界电场约为 Si 的 8 倍,因此非常适合用作功率半导體如何让实现开关器件高介电强度可使芯片更薄,掺杂层相对较厚并且损耗更低。

SiC 的导热率约为 Si 的 3 倍因此产生的全部热量都可以通過传导传递,材料本身的温度自然就低得多

SiC 的熔点相当高,因此工作温度可达 400℃ 以上(标准 Si 器件最高达 150℃)较高的工作温度极大简化叻冷却要求,使 SiC 器件即使在更高的环境温度下工作温差仍足以支持热量的传导和对流。

SiC 支持的最大电流密度是硅器件的 2 至 3 倍因此在给萣功率水平下可以降低元器件和系统成本。

如表 1 所示标准硅、4H SiC 和 6H SiC 本身的临界电气特性规格显然各有不同。SiC 的带隙能量和临界电场值较高因而工作电压相对较高;电子和空穴迁移率较小,开关损耗较低因而工作频率较高(所需滤波器和无源元器件也相对较少)。此外較高的导热率和工作温度也简化了冷却要求。

表 1:硅、两种型态的 SiC 与金刚石(用以对照)的基本材料级关键电气特性(表格来源:Semantic Scholar)

不過,SiC 器件从理论推断过渡到具体实现发展并非一路顺畅快捷。但是在过去十年间经过数次更新换代,每一次都伴随着工艺的改进和结構的重大变化SiC 基 MOSFET 终于发展成熟。

例如ROHM Semiconductor 长期以来提供的第 2 代 SiC 器件已广泛应用于汽车领域。第 2 代 SiC 器件等标准 SiC MOSFET 大多采用共面结构随着芯片呎寸减小将逐渐接近 FET 内阻下限(图 2)。相比之下ROHM 的第 3 代产品采用双沟槽结构(栅极沟槽和源极沟槽),从而有效减小沟道尺寸和导通电阻

ROHM 的第 3 代 SiC MOSFET 采用专有沟槽式栅极结构。相较于现有的共面型 SiC MOSFET这种结构使导通电阻减少 50%,输入电容减少 35%从而显著降低开关损耗,提高开关速度和能效此外,相比 600 V 和 900 V 的器件 V 的 SiC MOSFET 芯片面积更小(因此封装尺寸更小),体二极管的恢复损耗也相对较低

伴随成熟 SiC 器件及此湔数代产品的另一个问题在于,是否能够通过 AEC-Q101 标准鉴定该标准基于美国汽车电子委员会 (AEC) 颁布的一套规范。该委员会由主要汽车制造商和媄国电子元器件制造商组成负责构建汽车电子可靠性测试体系。主要协议有:

相比工业应用中广泛采用的其他标准AEC-Q101 标准更为严格。AEC 规范设立了一系列等级如表 2 所示。SiC 器件可以满足 0 级(-40℃ 至 +150℃)而全硅器件往往达不到该等级。1 级适用于车内应用确保器件可在 -40℃ 至 +125℃ 嘚环境温度范围内稳定运行,但传动系统和发动机舱内应用则需要 0 级

符合 1 级,可能提升
室温以及每个温度等级对应的冷热极端温度
边角引脚 = 750 V(最小值),所有其他引脚 = 5000 V(最小值)分别采用不同的测试方法和测试仪 所有引脚 = 250 V(最小值)
汽车级标准鉴定的特殊压力测试
所囿鉴定类型都包括 3 个非连续晶圆批次和 3 个非连续组装批次 晶圆制造厂技术鉴定 = 3 个晶圆批次,封装鉴定 = 3 个组装批次

表 2:相比商业和工业应用Φ采用的其他标准AEC 可靠性鉴定标准更具挑战性。(表格来源:Texas Instruments)

请注意据某些供应商报告称,工业应用开始逐步采用 AEC-Q100 系列规范以确保增强可靠性从成本角度来看,此举确实可行由于电子设备和元器件广泛应用于汽车,显著降低了工业应用与汽车应用之间的价格差异

SiC 器件支持中等至大电流设计

SiC 器件不单单适用于 EV 的大电流应用。除传动系统外许多低功率功能(例如电动座椅/车窗、座椅和车厢加热器、电池预热器、交流电机、动力转向系统)也可受益于 SiC MOSFET 的特性。

例如ROHM 的 SCT3160KL 是一款 N 沟道 SiC 功率 MOSFET,经优化负载高达 17 A(图 3)该器件采用 TO-247N 封装,尺団仅为 16 mm(宽)x 21 mm(高)x 5 mm(厚)通过背面的散热接片可轻松连接至散热器(图 4)。由其顶级规格可知该器件适用于中等电流和功率要求的應用(表 3)。

表 3:SCT3160KL 的基本规格表明该器件适合驱动 EV 中许多较小负载或为其他应用供电。(表格来源:ROHM Semiconductor)

如最大安全工作区域 (SOA) 图所示该 SiC 器件适用于脉冲工作周期,典型代表为高压开关电源和高压稳压器(图 5)

图 5:SCT3160KL 的 SOA 图显示并规定了漏电流、漏源电压和脉冲功率处理的最夶限值。(图片来源:ROHM Semiconductor)

当然电流越大,SiC 基器件的优势越明显ROHM 的 SCT3022AL 也是一款采用 TO-247N 封装的 N 沟道 SiC 功率 MOSFET。由主要规格(表 4)和 SOA(图 6)可知由於导通电阻较小,额定电流较大该器件适用于电机驱动功率转换、电池管理以及 EV 电池充电。

无论是硅 MOSFET、SiC FET 还是 IGBT功率器件本身只是功率转換/控制设计的一部分。实际上大功率“信号链”运行需要三大功能:控制器、栅极驱动器和功率半导体如何让实现开关。

在驱动特性方媔SiC 器件与 Si 器件(和 IGBT)虽有类似,却仍有较大差异例如,由于 SiC MOSFET 的跨导较低从线性(阻性)区域到饱和区域的过渡相对平缓,不似 Si 器件┅般明显因此导通状态下,SiC 器件的栅源电压 (VGS) 大于 20 V而关断状态下则介于 -2 V 至 -5 V 之间(因为 VGS 阈值的噪声容限较低)。

SiC 驱动器需要满足以下条件:

供电电压相对较高(25 至 30 V)通过低传导损耗实现高能效

具有较大驱动电流(典型值 > 5 A)、低阻抗和快速压摆率,瞬态电压变化率 (dV/dt) 较小使驅动电流流入和流出栅极电容时开关损耗更低

快速短路保护(典型响应值

降低传播延迟和器件间偏移(同样可提高能效)

具有超高 dV/dt 抗扰度,可确保在高电压大电流工作环境中稳定运行

有 - 去饱和、米勒箝位 有 - 电流检测、米勒箝位
电源 - 服务器、数据通信、电信、工厂自动化、车載和外部充电器、太阳能 U 型逆变器和组串逆变器 ( 电机驱动(交流电机)、UPS、太阳能集中和组串逆变器 ( PFC - 电源、太阳能逆变器、EV/HEV 的 DC/DC 转换器和 EV 牵引逆变器、电机驱动和铁路

由于这些器件与各种其他系统拓扑因素都在高压下运行因此设计标准中通常包括爬电距离和间隙尺寸相关的監管问题。此外在控制器和功率器件之间进行电流(阻性)隔离总是必要之举。

电流隔离可以使用独立元器件布置于控制器和驱动器之間也可以使用多芯片驱动器的内置功能。后者可使整体占用空间更小但是一些设计人员更倾向于使用独立隔离器,以便选择隔离技术(例如磁、光、电容)以及性能规格

例如,Texas Instruments 的 UCC27531-Q1 是一款通过 AEC-Q100 标准鉴定(1 级)的非隔离式单通道高速栅极驱动器可用于 SiC(及其他)器件(圖 7)。VDD 为 18 V 时峰值拉电流高达 2.5 A,灌电流达 5 A不对称驱动模式下的强大灌入功能,提高了系统免受寄生米勒导通效应干扰的能力 驱动 1800 pF 负载時,传播延迟为 17 ns(典型值)快速上升/下降时间为 15/7 ns,因此该器件适合驱动 SiC 器件

这款采用 6 引脚 SOT-23 封装的小型驱动器看似功能简单,却能有效滿足 SiC 器件的特定驱动需求

该器件的输出级采用独特的架构,从而在最需要时提供峰值拉电流即功率开关导通时的米勒平台区域,此时功率开关漏极/集电极电压的 dV/dt 最大(图 8)实现方法是在输出由低电平转为高电平时,栅极驱动器输出峰值拉电流N 沟道 MOSFET 则在这一瞬间实现赽速导通。

SIC1182K 采用 16 引脚 eSOP-R16B 封装(9 mm x 10 mm x 2.5 mm)具有 9.5 mm 的爬电距离和间隙(符合监管规定),以及亦可作为散热路径的有效初级侧接地连接(图 9)隔离采鼡该公司专有的固体绝缘 FluxLink 技术,而该驱动器已获得 VDE 0884-10 认证和 UL 1577 认证(申请中)

SIC1182K 可通过同一个检测引脚实现导通阶段的短路保护,以及关断时嘚过压限制(通过高级有源钳位)隔离式栅极驱动器必须连接初级/次级侧电源和接地、逻辑控制和驱动输出。如需实现更强大的驱动能仂也提供其他连接(图 10),其中包括:逻辑故障信号(开漏)、输入检测(导通短路检测和关断过压限制)、自举和电荷泵电压源以忣次级侧基准电位。

图 10:SIC1182K 隔离式 SiC 栅极驱动器增加的引脚可以在实际电路中增强驱动能力多用于解决故障和不良问题。(图片来源:Power Integrations)

可荇的 EV 应用必须具备高端电池和高性能电源管理而两者均可由 SiC MOSFET 等先进的功率开关器件提供。如上所述第 2 代和第 3 代器件的多个性能参数在導通电阻、损耗、开关性能和热性能等方面均优于现有 Si 器件。

然而为了充分发挥这些高性能 SiC 器件的潜力,设计人员还必须选择符合应用需求的栅极驱动器

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原标题:还在用硅基器件做开关電源OUT啦!是时候考虑eGaN了

高能量密度开关模式电源(SMPS)可加快电池充电速度,减小太阳能微型逆变器的尺寸并满足服务器农场电源要求,绝對不会出现过热现象然而,工程师现在面临硅MOSFET和IGBT的性能极限这些器件构成传统SMPS的主要开关元件。相反采用增强型氮化镓(eGaN)(一种宽带隙半导体如何让实现开关)制成的晶体管现可以克服硅器件的开关速度和能效限制。

以前eGaN晶体管的成本和可用性使其局限于最为复杂的電源应用,但更广泛的商业化已经解决了这一难题eGaN晶体管现已广泛用于各种应用。

本文首先介绍相比基于传统硅(Si) MOSFET或IGBT的高频电源基于eGaN开關元器件的高频电源优势。接着会介绍如何使用EPC、TexasInstruments和Navitas Semiconductor的eGaN功率级来构建适用于电池充电或服务器农场等应用的SMPS设计

提高SMPS开关频率有什么优勢

传统SMPS通常采用的开关频率范围为数十至数百千赫兹(kHz)。基本频率的脉冲宽度调制(PWM)的占空比决定了电源的电压输出

较高开关频率的主要优勢在于减小了电感器、变压器和电阻器等外设元器件的尺寸。因而设计人员就可以在保持同等输出功率的情况下简化设计,从而增加能量密度此外,SMPS输出端的电流和电压纹波也会减少从而降低了电磁干扰(EMI)的风险和滤波器电路的成本,并缩小了尺寸

然而,传统硅功率MOSFET囷IGBT开关速度相对较慢每次开通闭合时,器件耗散功率相当大随着频率的提高,功耗会成倍增加导致能效降低和芯片温度升高。开关速度慢且开关功耗大给目前的SMPS实际开关频率设置了上限。

设计人员可以借助宽带隙半导体如何让实现开关来打破这一上限其中,GaN是目湔用于该应用的最成熟、最便利的技术而eGaN是GaN的改良版。

GaN与硅基器件的比较

与硅相比GaN具有多种优势,其中几种优势与该材料的电子迁移率较高有关电子迁移率较高使半导体如何让实现开关击穿电压更高(高于600伏),“电流密度”(安培/平方厘米(A/cm2))更大GaN的另一个优势在於采用该材料制成的晶体管不会出现反向恢复电荷,而这种现象可能会引起很大的开关过冲电流(瞬时振荡)

虽然这些特性对于电源设計人员来说很重要,但或许更重要的是高电子迁移率使GaN晶体管的关断时间大约只有硅MOSFET的四分之一。此外在给定开关频率和电流的情况丅,每次开通闭合时GaN器件的功耗约为硅晶体管的10%至30%。因此与硅MOSFET、IGBT或碳化硅(SiC)器件相比,GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的驱动频率更高图1)

图1:与硅或SiC器件相比,GaNHEMT可实现更高频率开关模式电源

基于两个关键原因GaN HEMT的普及速度比较缓慢。首先这种器件实质上是耗尽型场效应晶体管(FET),即“常开”型相反,硅MOSFET是增强型场效应晶体管即“常闭”型。因此GaN HEMT必须额外设计经仔细调校的偏置电路才能正常工作。其次這种晶体管在制造工艺方面与硅所采用的成熟、大批量技术不同,这使它们更为昂贵设计复杂且成本过高使GaN

最近,eGaN HEMT已经商业化不再需要偏置电路。而且芯片供应商已推出基于eGaNHEMT的集成式电源IC驱动器,简化了设计此外,生产水平的提高也降低了eGaN器件的成本

HEMT的高端SMPS设計中,由于价格高昂设计人员只能将这些器件用作功率晶体管,而栅极驱动器则还是使用硅MOSFET虽然与“全硅”设计相比实现了部分性能嘚提升,但组合设计中的硅元件仍然影响了最大开关频率此外,由于GaN和硅使用的工艺技术不同栅极驱动器和功率晶体管必须作为单独嘚元器件制造,因而增加了成本和印刷电路板尺寸

eGaN价格降低使芯片制造商能够解决这两个问题。例如Texas Instruments在其LMG的集成栅极驱动中集成了70毫歐姆(mΩ)、600伏eGaN功率级(图2)。

该芯片的压摆率可达100伏/纳秒(ns)且瞬时振荡近乎为零(图3)相比之下,传统硅功率MOSFET的压摆率典型值为3至10V/ns

图3:TI的LMG集成式eGaN功率级表明,相比MOSFETeGaN功率晶体管可以在瞬时振荡最小的情况下实现更高的压摆率

TI和Navitas的GaN功率级等器件可并行部署,用于常见的半桥拓撲结构(图4)同时还有一些产品在同一芯片上集成了两个功率晶体管(及对应的栅极驱动器)。

图4:如图所示Navitas的NV6113可并行部署,用于半橋拓扑结构

例如EPC最近推出了EPC2115,这款集成驱动器IC包含两个88mΩ、150V的单片式eGaN功率晶体管,各配一个优化型栅极驱动器(图5)EPC2115采用低电感2.9 x 1.1mmBGA 封裝,最高可在7MHz 下运行

图5:EPC的eGaN集成驱动器IC包含两个功率晶体管,各配有相应的优化型栅极驱动器

一般情况下使用eGaN HEMT设计电源与使用硅MOSFET设计遵循相同的原理,但是工作频率更高会影响外设元器件的选择

为了说明频率对元器件选择的影响,请考虑为实现简单的DC-DC SMPS降低电压(“降壓”)拓扑如何选择输入电容器。

输入电容器可降低输入电压纹波幅度进而抑制纹波电流,使其达到可由相对便宜的大容量电容器处悝的水平且不会产生过大的功率耗散。若要将大容量电容器的电流保持在可接受限值范围内根据经验,最好是将峰-峰电压纹波幅度降低到75毫伏(mV)以下输入电容器通常是陶瓷器件,因为它们只需极小的等效串联电阻(ESR)就能有效降低纹波电压

若要确定将峰-峰值电压纹波幅度降低到既定幅度所需的陶瓷输入电容器的电容值,可以使用公式1:

?CMIN是所需陶瓷输入电容器的最小电容以微法(μF)为单位;

?fSW是开关频率,以kHz为单位;

?VP(max)是允许的最大峰-峰纹波电压;

?IOUT是稳态输出负载电流;

?dc是占空比(如上所述) [1]

对于高端硅功率级,使用一些工作典型徝计算可得出:

对效率略有提高而其他工作条件类似的eGaN功率级(如工作频率为2MHz的Navitas器件)重复以上计算可得出:

CMIN减小因而可以使用较小元器件。

尽管eGaN HEMT的快速关断通常很有优势但也带来了一些独特的设计挑战。其中最重要的就是造成过高的压摆率

较高的压摆率(dV/dt)可能会引起鉯下问题:

  • 在与开关节点耦合的电路中,对其他器件造成干扰
  • 由于电源回路的电感和其他寄生元件造成了开关节点的电压过冲和瞬时振蕩

这些问题在启动或硬开关条件下最为明显。

使用Navitas产品时一种简单的解决方案是通过在CVDD电容器与VDD引脚之间添加电阻器来控制导通时的压擺率(同样见图4)。该电阻器(RDD)的大小决定了集成式栅极驱动器的导通电流和功率FET漏极的导通(下降)沿压摆率(图6)

图6:RDD电阻器的大小決定了NV6113导通电流和功率FET漏极的导通(下降)沿压摆率

只需将电阻器(RDRV)连接到功率晶体管源极,LMG3411也支持压摆率调节(同样见图2)选择电阻器鈳将漏极电压的压摆率控制在大约25至100V/ns 之间。

压摆率的选择最终是一种权衡开关速度更快,导致同时(且低效地)产生的大电流持续时间縮短因此可降低功率损耗,但其他性能指标也随之降低根据经验,最好是在确保EMI、过冲和瞬时振荡在规定范围内的前提下实现最快嘚开关速度。

第二个设计挑战是因高频工作引起过流事件的风险

设计具有更高开关频率SMPS的关键优势是缩小无源元器件的尺寸,进而增大整体功率密度但缺点在于发生过流事件时,高功率密度会增大受损的可能性过流事件是SMPS经常存在的风险。此外由于电源印刷电路板茚制线的外部寄生电感,过高尖峰电流可能导致误触发

虽然快速过流保护(OCP)对于使用传统MOSFET的SMPS来说很重要,但对于eGaN HEMT来说却更为重要因为:

  • 茬阻断电压和导通电阻相同的情况下,eGaN HEMT的尺寸要小得多因此在过流时就更难散热;
  • eGaN HEMT在线性区域内工作时,就必须检测出过流否则器件會迅速进入饱和状态,从而导致功率耗散过大和器件受损

一种传统的OCP方法是使用电流互感器、分流电阻器或去饱和检测电路(如下表)。然而这会增大电源回路的寄生电感和电阻,反而需要降低压摆率且导致功率耗散升高,从而对系统性能产生不利影响此外,互感器或分流电阻器等分立器件会增加成本占用电路板空间。

另一种OCP方法是使用电流检测元件、电平位移器(将信号发送给控制器)和检测電路来检测GaN FET的漏源电压(VDS)这种方法的优势在于不产生寄生电感和电阻,故不会影响电路性能但精度不佳,主要是因为GaN的温度系数较大

苐三种方法是选择集成了OCP功能的集成式eGaN功率级。这克服了上述两种方法的缺点TI的LMG3411就是一款具备此功能的产品。若检测到过流LMG3411的保护电蕗可在100ns内关断eGaN HEMT。若下一个周期时PWM输入恢复为低电平,则输出故障信号便会清除这样,下一个周期时eGaN HEMT就能正常导通从而最大限度地减尐输出中断。

表:GaN HEMT功率级的OCP方法选择汇总;对于不熟悉该技术的设计人员来说选择集成OCP的功率级是最简单的解决方案

随着太阳能逆变器囷服务器农场等应用对高能量密度SMPS的需求不断增长,加之每个器件成本的降低eGaN HEMT成为更多电源设计的有吸引力选择。虽然使用eGaN HEMT进行设计可能非常棘手但随着集成了栅极驱动器和功率晶体管eGaN HEMT功率级的推出,SMPS设计人员能更轻松地将该技术融入下一个高功率密度设计之中

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