BGA封装器件翘曲变形和测试工艺的優化 |
1.1 半导体工业的发展和封装测试概述 |
1.2 BGA封装形式的半导体的优缺点 |
1.3 BGA产品的翘曲形变 |
1.5 该研究两大方向性选择概述 |
第二章 CPU的BGA芯片的翘曲变形研究 |
2.1 基于实际的CPU尺寸完成ANSYS的建模 |
2.2 基于新产品的设计预估翘曲变形的趋势 |
2.2.1 不同的Die的位置的影响 |
2.2.2 不哃的Die的大小的影响 |
2.2.3 如果是两个Die的封装形式 |
2.2.4 不同的Die的厚薄的影响 |
2.2.5 不同情况下结果的翘曲变形趋势分析总结 |
2.3 测試工艺和翘曲形变的相关性 |
2.3.1 测试工艺和翘曲形变关系 |
2.3.2 测试工艺简述和应力的影响 |
2.3.3 应力之外的翘曲形变的影响 |
3.1 本文的主要贡献 |
3.2 下一步工作的展望 |
3.3 附录BGA产品观察测试应力的ANSYS模型建立流程 |