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SAUTER涂层测厚仪影响精度的因素
　　在化工、电子、电力、金属等行业中，为了实现对各类材料的保护或装饰作用，通常要采用喷涂、有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法，这样，便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念，我们称之为&覆层&。　　　　覆层的厚度测量已成为金属加工业用户进行成品质量检测必备的最重要的工序。是产品达到优质标准的必备手段。目前，国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度，覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。　　　　有关覆层无损检测方法，主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、&射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面，系有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。　　　　X射线和&射线反射法可以无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围小。因有放射源，故使用者必须遵守射线防护规范，一般多用于各层金属镀层的厚度测量。　　　　电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。　　　　磁性测量法及涡流测量法。随着技术的日益进步，特别是近年来引入微处理机技术后，测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。测量的分辨率已达0.1&m，精度可达到1％。又有适用范围广，量程宽、操作简便、价廉等特点。是工业和科研使用最广泛的仪器。　　　　影响测量值的因素与解决方法　　　　使用SAUTER测厚仪与使用其他仪器一样，既要掌握仪器性能，也需了解测试条件。使用磁性原理和涡流原理的覆层测厚仪都是基于被测基体的电、磁特性及与探头的距离来测量覆层厚度的，所以，被测基体的电磁物理特性与物理尺寸都要影响磁通与电涡流的大小。即影响到测量值的可靠性，下面就这方面的问题作一下介绍。　　　　1.边界间距　　　　如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距，由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。如必须测量该点的覆层厚度，只有预先在相同条件的无覆层表面进行校准，才能测量。（注：最新的产品有透过覆层校准的独特功能可达3～10%的精度）　　　　2.基体表面曲率　　　　在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。或参照下条。　　　　3.基体金属最小厚度　　　　基体金属必须有一个给定的最小厚度，使探头的电磁场能完全包容在基体金属中，最小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关，在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响，可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断，或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正或参考第2条修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键，便可以得到准确的直读厚度值。反之利用厚度太小产生的影响又可以研制直接测铜箔厚度的测厚仪，如前所述。　　　　4.表面粗糙度和表面清洁度　　　　在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见，不论是基体或是覆层，越粗糙，测量值越不可靠。为获得可靠的数据，基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质，则应予去除。有的仪表上下限，以剔除那些&飞点&。　　　　5.探头测量时的作用力　　　　探头测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能小，才不致使软的覆层发生形变，以致测量值下降或产生大的波动。必要时，可在两者之间垫一层不导电的、一定厚度的硬性薄膜。这样通过减去薄膜厚度就能适当地得到剩磁。　　　　6.外界恒磁场、电磁场和基体剩磁　　　　应该避免在有干扰作用的外界磁场附近进行测量。残存的剩磁，根据检测器的性能可能导致或多或少的测量误差，但是如结构钢，深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。　　　　7.覆层材料中的铁磁成份和导电成份　　　　覆层中存在某些铁磁成分，如某种颜料时，会对测量值产生影响，在这种情况下，对用作校准的对比试样覆层应具有与被测物覆层相同的电磁特性，经校准后使用。使用的方法可以是将同样的覆层涂在铝或铜板试样上，用电涡流法测试后获得对比标准试样。
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影响涂层测厚仪测量值精度的因素
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影响涂层测厚仪测量值精度的因素
一、影响涂层测厚仪测量值精度因素的有关说明
　　1、基体金属磁性质
　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
　2、基体金属厚度
　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
　　3、基体金属电性质
　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
　　4、边缘效应
　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
　　5、曲率
　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
　　6、试件的变形
　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
　　7、表面粗糙度
　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
　　8、磁场
　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
　　9、附着物质
　　本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
　　10、测头压力
　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
　　11、测头的取向
　　测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
　　二、使用仪器时应当遵守的规定
　　1、基体金属特性
　　对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
　　对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
　　2、基体金属厚度
　　检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
　　3、边缘效应
　　不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
　　4、曲率
　　不应在试件的弯曲表面上测量。
　　5、表面清洁度
　　测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质
　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
　　6、读数次数
　　通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
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【来源】中国化工仪器网
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教育行业资讯
教育最新消息测厚仪测量精度的影响
1 X射线测厚仪测量精度的影响因素&
　　首先,是X射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响。X射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源放射出X射线,通过X射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的精确度造成一定的影响。安装的位置不当就会使测量的精度不准确波动比较明显。另外,X射线本身的衰减也会影响测厚仪的测量精度。X射线源的衰减对于工厂现场的的标定过程中,随着使用时间的增加,灯管的曲线会发生变化,在同一电压下,随着使用灯管时间的递加,厚度偏差会越来越大,因此,X射线源的衰减,是影响测量精度的一个主要原因。除了正常使用过程中X射线源会出现衰减,在出现某些故障是,也会发生突发性的衰减,出现标准化通过不过,反馈的电压与工厂现场标准电压相差巨大,发生这种情况,X射线测厚仪的测量精度肯定是不准确的。&
　　第二,在X射线测厚仪通过施加高压释放出X射线时,X射线途经环境的温度湿度也会影响X射线对被测物体的测量。尤其是在热轧的过程中,测量的空间大X射线途经的环境就比较大,当温度高时,测量值减小,当温度低时,测量值则增加。&
　　第三,在测量过程中,被测物体上,可能会有附着物,也会影响测量的精度。比如,在轧制生产中,测量的钢板上可能会附着着水、油或者氧化物,这都会对X射线测厚仪的测量值造成影响,出现误差。另外,被测量的物体,可能会上下跳动,偏离测量时的位置,这种倾斜也会影响测量的精度。&
　　第四,在生产过程中,补偿值也会对X射线测厚仪的测量精度造成影响。我们利用测厚仪测量是,会事先给测厚仪输入一个补偿值,让测量值与实际值相等。在这个过程中,操作者首先对板材进行测量,但是操作者使用量尺的方式不同,就会造成补偿值的大小不等,会形成人为的误差。只有在进行测量时,操作者认真操作,减少补偿值得测算误差,使补偿值接近真实值,提高X射线测厚仪的测量精度。&
　　2 X射线测厚仪的维护&
　　虽然,X射线测厚仪具有环保绿色安全的特性,被广大的工厂运用在冶金板材生产中。但是X射线测厚仪也需要及时的维护,才能保证其准确性。&
　　对高压控制箱进行定期维护。高压控制箱内的接线端子和高压电源设备等,应该进行定期检查,以免其松动。另外,还应该保证风的质量,以免影响高压电源工作时的大量热不能很好的冷却,烧坏电路板。对于测头的维护,要定期查看X射线测厚仪的测头冷却水是否正常。在日常维护时,要查看X射线源箱内的灯管和高压绝缘油,避免漏油和长期受热和辐射的影响,绝缘油的碳化。另外,对于X射线测厚仪的维护还应该经常查看X射源箱内的水循环情况,使冷却水的温度不要超过35℃。定期更换高压绝缘油,高压绝缘油在使用中,会受到温度而发生炭化从而影响绝缘的效果,影响X射线源的使用,因此对X射线测厚仪的维护,要特别注意对高压绝缘油的定期查看,要保证其盛满浸满整个灯管的玻璃部分。&
　　其次,在X射线测厚仪的使用之后要注意对油污、轧制油的清理。我们日常维护中,要注意各种油污影响射线孔的膜片。这样会严重影响X射线测厚仪的测量精确度。同时,我们在测量的过程中也要避免各类油污飞溅测厚仪上,要经常把射线孔上的油污用棉纱等擦干净。保持X射线测厚仪的整洁是维护工作的重点。&
　　对于X射线测厚仪的维护,还要保持射线源箱内的密封性,不让杂质或者油污等进入,以免高压绝缘油泄露。不但影响了X射线测厚仪的工作还会影响X射线测厚仪的散热,缩短X射线测厚仪的使用周期。当X射线测厚仪工作时,其产生的X射线源长时间暴露在电焊弧光下会使灯管加速老化。所以,在工厂车间周围使用电焊时,应该关闭X射线测厚仪,或者在使用期间周围设遮挡物,防止X射线源受到电焊弧光的影响而受损。&
　　最后,突然断电也会给X射线测厚仪造成影响,在我们使用X射线测厚仪的同时,应该保证足够的电源支撑。最好配备一台不间断电源为X射线测厚仪的高压箱供电,保障在电压不稳或者突然停电的情况下,不对X射线测厚仪的高压电源产生影响,影响X射线源电压的波动,影响测量。&
　　3 结语&
　　本文通过对于X射线测厚仪在日常使用过程中,一些影响X射线测厚仪精确度的因素,进行分析,同时相应的对于各类因素,在日常维护的中应该注意之处进行论述。从上我们可以看到影响X射线测厚仪精度的主要因素:X射线测厚仪的高压控制箱的安装位置、X射线源本身在测量中的日渐衰减、在生产过程中操作者人为的偏差造成补偿值的不精确、被测量物体上的附着物以及X射线途经的环境中的温度或者湿度的影响。由此,我们可以看出虽然X射线测厚仪相比同位素测厚仪已经有了很大的进步,不但精确还更环保而且对于人和环境的辐射更小。但是我们在日常的使用中还是要注意以上几点影响X射线测厚仪精度的因素,以确保测量的准确度。&
　　对于X射线测厚仪的维护,主要定期查看高压控制箱内的接线端子是否松动;注意箱内的排风状况以免烧坏电路板;保证射线源箱内的水循环;定期更换绝缘油并保证浸没灯管的玻璃部分延长灯管的使用寿命;保持射线源箱内的密封性拒绝油污杂质的污染;避免电焊弧光的影响;经常清洁保证X射线测厚仪的射线孔无油污附着;保障X射线测厚仪使用过程的电力供应等。&
　　综上,我们只有主要避免影响X摄像测厚仪精度的因素,才能得到准确的数据有利的开展生产和实验,同时,也只有充分注意到对X射线测厚仪的维护,延长其使用的周期,才能更好的发挥X射线测厚仪的优势,达到使用的目的。&
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以上网友发言只代表其个人观点，不代表新浪网的观点或立场。1测量齿轮齿厚偏差的目的是什么?2齿厚极限偏差和公法线平均长度极限偏差有何关系?3齿厚的测量精度与哪3是 齿厚的测量精度与哪些因素有关
你好cjUD31
1.为了保证齿轮啮合时的齿侧间隙的.2.齿厚上下偏差与公法线上下偏差有对应关系；公法线平均长度及偏差,就是控制齿厚的.当然,跨棒距M值也有相同作用.3.齿厚的测量方法有很多,在第2中,是常用的、比较准确的测量方法,精...
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