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无损检测问答题库
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2012年辽宁省无损检测
射线检测习题部分第二部分射线检测一.是非题：294 题 二.选择题：324 题 三.问答题： 90 题 四.计算题： 64 题1射线检测习题部分一．是非题 （在题后括弧内，正确的画○ ，错误的画×）1.1 当原子核内质子数不变，而原子量增加时，它就变成另一种元素。 1.2 具有放射性的同位素，称为放射性同位素。 1.3 元素 27 Co 中有 27 个质子和 33 个中子，原子序数为 27。60（ （ （） ） ）1.4 α 衰变的规律是新核的质量数比原核的质量数减少 2 。 （ ） 1.5 γ 衰变前后核的质量数和核电荷数均不发生改变 （ ） 1.6 X 射线和γ 射线都是光子流，不带电荷。 （ ） 1.7 X 射线与γ 射线只要波长相同，就具有相同的性质。 （ ） 1.8 X、γ 射线不受电磁场影响。 （ ） 1.9 X、 γ 射线是电磁辐射； 中子射线是粒子辐射。 （ ） 1.10 具有连续光谱的 X 射线，称连续 X 射线，又称白色 X 射线。 （ ） 1.11 高速运动的电子同靶原子核的库仑场作用，电子失去其能量以光子形式辐射出来，这 种辐射称韧致辐射。 （ ） 1.12 加在 X 光管两端的电压越低，则电子的速度就越大，辐射出的射线能量就越高。 （ ） 1.13 一定能量的连续 X 射线穿透物质时， 随厚度的增加射线的总强度减小， 平均波长变短， 但最短波长不变。 （ ） 1.14 连续 X 射线的能量与管电压有关,与管电流无关。 （ ） 1.15 连续 X 射线的强度与管电流有关, 与管电压无关。 （ ） 1.16 由发射 X 射线的材料特征决定波长的Ⅹ射线，称标识 X 射线，又称特征 X 射线。( ） 1.17 如果 X 射线管的管电压超过激发电压,高速运动的电子同阳极靶碰撞时,可以把阳极靶 原子内层电子逐出壳层之外,使该原子处于激发态，外层电子将向内层跃迁，发射标识 X 射 线。 （ ） 1.18 标识 X 射线的能量与管电压、管电流均无关,仅取决于靶的材料 。 （ ） 1.19 X 射线穿过同一物质时，峰值电压越高半价层越大。 （ ） 1.20 γ 射线的能量取决于放射性同位素的活度或居里数， 而它的强度取决于源的种类。 ( ) 1.21 用于检测的 X 射线和γ 射线，它们之间的主要区别在于：X 射线是韧致辐射的产物， 而γ 射线是放射性同位素原子核衰变的产物；X 射线是连续谱，γ 射线是线状谱。 （ ） 1.22 工业用放射性同位素辐射出的γ 射线的能量用平均能量来度量，X 射线机辐射出的 X 射线能量是用管电压峰值来度量。 （ ） 1.23 活度是描述放射同位素不稳定程度的量， 它表示单位时间内核发生的衰变数。 （ ） 1.24 放射性同位素的能量蜕变至其原值一半所需时间， 称半衰期。 ( ) 1.25 放射性同位素的半衰期与放射性同位素的种类有关。 （ ） 1.26 当γ 射线经过 3 个半衰期后，其能量仅剩下初始当值的 1/8。 ( ) 1.27 γ 射线的能量取决于源的种类， 而它的强度取决于放射性同位素的活度或居里数。 ( ) 1.28 描述放射性物质不稳定程度的量称为“活度” ( ) 1.29 放射性同位素的衰变和衰减是一回事。 ( ) 1.30 放射性同位素的强度蜕变至其原值一半所需时间，称半衰期。 （与 1.24 重复） （ ) 1.31 在核反应堆中，把一种元素变为放射性元素的过程，称为激活。 ( ) 1.32 不稳定的同位素，称为放射性同位素。 ( ) 1.33 半衰期是指 X 射线强度减弱到初始值一半所需要的时间。 ( ) 1.34 工业检测用放射性同位素， 有的是在核反应堆中通过中子照射激活的， 如 27 Co 和260 192 77Ir ，射线检测习题部分也有的是核裂变的产物，如 1.35192 77137 55Cs 。( () )Ir 源经过几个半衰期后，将其放在核反应堆中激活，可重复使用。1.36 所谓“吸收” ，就是物质阻止射线通过的能力。 ( ) 1.37 线质是射线穿透物质能力的度量，穿透力较强的射线称其线质较软，穿透力较弱的射 线称其线质较硬。 （ ） 1.38 射线的线质越软，衰减系数越大。 （ ） 1.39 射线的线质越硬，其光子能量越大，波长越短，穿透力越强。 ( ) 1.40 射线的线质越软，其光子能量越小，波长越长，半价层越小。 ( ) 1.41 射线的线质越软，穿透力越强。 ( ) 1.42 射线通过物质时,会与物质发生相互作用而强度减弱,导致强度减弱的原因可分为吸收 与散射。 （ ） 1.43 因为发生光电效应的几率与被照物质原子序数的 3 次方成正比，所以原子序数越大， 发生光电效应的几率越小。 ( ) 1.44 光电效应中光子被部分吸收，而康普顿效应中光子被完全吸收。 ( ) 1.45 康普顿散射不是由轨道电子引起的，而主要是光子同固体内的自由电子相互作用引起 的。 （ ） 1.46 发生康普顿效应时，电子获得光子的部分能量以反冲电子的形式射出。同时，光子的 能量减小，方向也改了，成为低能散射线。 （ ） 1.47 当光子能量大于等于 1.02MeV 时，与物质相互作用才产生电子对效应。 （ ） 1.48 不包含散射成分的射线， 称窄束射线； 包含散射成分的射线， 称宽束射线。 （ ） 1.49 管电压提高， 衰减系数增大。 （ ） 1.50 线衰减系数的物理意义是单色射线穿过 1cm 厚工件时，穿过前后射线强度比值的自然 对数。 ( ) 1.51 射线的能量减弱到初始值一半时所穿过物质的厚度， 称半价层， 又称半值层。 （ ） 1.52 当 X 射线通过 3 个半价层后， 其强度仅为初始值的 1/3。 （ ） 1.53 在相同的管电压下， 透照厚度增加， 散射比减小。 （ ） 1.54 射线照相法用底片作为记录介质，可以直接得到缺陷的图像，且可以长期保存。通过 观察底片能够比较准确地判断出缺陷的性质、数量、尺寸和位置。 （ ） 1.55 射线源移去后，被照射工件本身仍残留低度的辐射。 ( ) 2.1 无损检测仪器不再属于依法管理的计量器具。 （ ） 2.2 目前广泛使用的 X 射线管有玻璃管和金属陶瓷管。 （ ） 2.3 所谓“管电流”就是流过 X 射线管的灯丝电流。 ( ) 2.4 决定 X 射线管靶材适用性的两个因素是原子序数和熔点。 （ ） 2.5 金属陶瓷 X 射线管有抗震性强，管电流和焦点稳定性好，体积小的优点，但真空度不 如玻璃 X 射线管。 ( ) 2.6 周向 X 射线机的阳极靶有两种， 即平面阳极靶和锥体阳极靶。 （ ） 2.7 新购置或停用较久的 X 光机， 使用前要训练 X 光管， 其目的是排出射线柜中的气泡。 ( ) 2.8 型号为 2505X 射线探伤机四位数字中，前两位“25”表示管电压的峰值为 250kV，后 两位数字“05”表示管电流为 5mA。 （ ） 2.9 X 光机操作时高压升不上去和高压跳闸是一回事。 ( ) 2.10 半波自整流与半波整流电路相比，在负半周时，加在 X 光管阳极上的负高电压低，如 阳极冷却不好，这种低电压可防止或减少反向电流的产生，X 射线管可以安全地工作。( )3射线检测习题部分2.11 X 射线机的输出效率不会因电缆线的加长而发生变化。 （ ） 2.12 X 射线管的实际焦点是指阳极靶被电子撞击的部分，有效焦点是指实际焦点在垂直于 管轴线上的正投影。 （ ） 2.13 长方形焦点和椭圆形焦点，其有效焦点尺寸按 d=(a+b)/2 公式计算( 式中： a -长或 长轴，b-宽或短轴)。 ( ) 2.14 方焦点 X 光管，其有效焦点尺寸按边长计。 ( ) 2.15 在管电压、管电流和冷却条件相同的情况下，焦点尺寸越小，其阳极温度越高。 （ ） 2.16 管电压一定，X 光管可承受的负荷取决于焦点尺寸和阳极靶冷却的效果。 （ ） 2.17 X 射线管的阴极特性是指灯丝温度与饱和电流密度的关系曲线。 （ ） 2.18 X 射线管的阳极特性是指管电流与管电压的关系曲线。 （ ） 2.19 在使用过程中，阳极靶冷却不良会影响管电流的稳定性。 （ ） 2.20 工业检测用的 X 射线管工作在电流饱和区，要改变管电流，只有改变灯丝的加热电流。 （ 2.21192 77）Ir 贮罐用贫化轴作屏蔽，主要原因是贫化铀μ 值大，可制造出体积小，重量轻的贮罐。 （ ） 2.22 γ 射线探伤机按机体机构可分为直通道形式和 “S” 通道形式。 （ ） 2.23 对不同种类的放射性同位素，高活度的同位素总是比低活度的同位素具有更高的辐射 水平。 ( ) 2.24 比活度越大，意味着该放射性同位素源的尺寸可以做的更小。 （ ） 2.25 按标准要求，底片的本底灰雾度应不大于 0.3。 （ ） 2.26 天津Ⅲ,AgfaD7,上海 GX-A7 属于 T3 类胶片。 （ ） 2.27 实际使胶片卤化银颗粒感光的因素是电子。 （ ） 4.28 不同类型的胶片，在相同的透照条件下绘制特性曲线的形状相同。 ( ) 2.29 射线胶片两面涂感光乳剂层的目的是提高胶片的感光度和清晰度。 （ ） 2.30 胶片的梯度低，其宽容度必然大。 （ ） 2.31 “潜影”的产生是银离子接受电子还原成银的过程。 （ ） 2.32 潜影形成后，如相隔很长时间才显影，得到的影像比及时冲洗得到的影像较淡，此现 象称为潜影衰退。 潜影衰退实际上是构成潜影中心的银又被空气氧化而变成 Ag+离子的逆变 过程。 （ ） 2.33 表征胶片相对曝光量与底片黑度之间关系的曲线， 称胶片特性曲线。 （ ） 2.34 胶片灰雾度是指曝光量为零时底片的黑度。 （ ） 2.35 胶片梯度值与显影条件有关，即显影配方、时间、温度等的变化都会使胶片梯度值发 生改变。 （ ） 2.36 在实际应用范围内， 射线的线质对胶片特性曲线的形状基本上无影响。 ( ) 2.37 管电压、 管电流和穿透厚度之间关系的曲线称胶片特性曲线。 ( ) 2.38 改变胶片的曝光量引起相应底片上黑度差的固有能力称为胶片对比度。 ( ) 2.39 增感系数是指其它条件不变时， 使用增感屏与不使用增感屏所需曝光时间之比。 ( ) 2.40 对于同一金属屏材质时， 在 300kVP 以下， 管电压越高， 增感系数越大。 （ ） 2.41 增感系数随γ 射线能量的增高而减小。 ( ) 2.42 荧光增感的原理是射线与荧光物质作用，产生荧光，从而加速胶片的感光过程。( ) 2.43 金属增感屏受 X 或γ 射线照射激发出二次电子产生二次射线，使胶片增感。常用的金 属材料是铅， 它的粒度细， 增感系数小， 所得底片的清晰度高。 ( ) 2.44 胶片和增感屏在射线检测过程中应始终相互紧贴。 （ ） 2.45 入射光强与穿过底片的透射光强之比的自然对数称为黑度。 （ ）4射线检测习题部分2.46 已知入射光强为 3000cd/m ，穿过底片的透射光强为 30cd/m ，该底片黑度不满足 AB 级射线检测要求。 （ ） 2.47 黑度计至少每 6 个月校验一次，并有记录可查。 （ ） 2.48 标准黑度片至少每两年送计量单位检定一次。 （ ） 2.49 黑度计可测量的最大黑度不小于 4.5，测量值误差应不超过±0.05。 （ ） 2.50 像质计是用来检查透照技术和胶片处理质量的，衡量该质量的数值是识别丝号，它 等于底片上能识别出的最细钢丝的线编号。 ( ) 2.51 已知Ⅱ型像计的最粗金属丝直径为 1.0mm，则中间一根为 0.5mm，最细一根为 0.25mm。 ( ) 2.52 采用 R10 系列像质计，其线编号 Z 与钢丝直径 d 的关系式为 Z=6-101gd。 ( ) 2.53 小口径钢管专用像质计，由 5 根直径相同的钢丝和铅字符号组成，其像质计的代号用 Fe 和线编号构成。(Ο ) 2.54 按标准规定，碳钢、低合金钢和不锈钢均属黑色金属，可采用碳钢像质计。 （ ） 3.1 像质计灵敏度 2.0％， 是指大于 2.0％透照厚度的缺陷均可被检出。 ( ) 3.2 底片上缺陷影像的尺寸都大于实际缺陷的尺寸。 ( ) 3.3 X、γ 射线通过工件相邻两个不同厚度区域后的射线强度差与通过较大厚度区射线强 度的比，称主因对比度，又称工件对比度。 ( ) 3.4 主因对比度与工件厚度变化引起的黑度差有关。 ( ) 3.5 X、 γ 射线透照工件时， 由于相邻区域射线强度存在差异所产生的对比度称主因对比度。 （ ） 3.6 透照厚度差相同的工件，采用高电压的主因对比度低。 （ ） 3.7 通过同一部件邻近两厚度部位的射线强度差越小， 则主因对比度越大。 ( ) 3.8 使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度。 ( ) 3.9 透照厚度差相同的工件， 采用高电压与低电压相比， 主因对比度(工件对比度)低。 ( ) 3.10 通过同一部件邻近两厚度部位的射线强度差越小， 则主因对比度越小。 ( ) 3.11 改变胶片的曝光量引起相应底片上黑度差的固有能力称为胶片对比度。 （ ） 3.12 在主因对比度一定的情况下，由胶片系统影响对比度的因素称胶片对比度。 ( ) 3.13 胶片卤化银粒子的平均大小，称胶片粒度。 ( ) 3.14 底片对比度就是底片上相邻区域的黑度差。 ( ) 3.15 线质变硬，底片对比度提高。 ( ) 3.16 任何情况下， 底片的对比度越大越好。 ( ) 3.17 厚工件中的紧闭裂纹，透照方向适当时，一定能被检出。 ( ) 3.18 窄束与宽束射线相比，窄束射线的对比度高。 ( ) 3.19 射线强度提高，底片宽容度增大。 ( ) 3.20 用增大射线源到胶片距离的方法可减小射线照相固有不清晰度。 ( ) 3.21 胶片颗粒度越大,固有不清晰度也越大。 ( ) 3.22 射线底片上叠加在工件影像上的黑度随机涨落 ,即影像黑度的不均匀程度称底片影像 颗粒度。 （ ） 3.23 底片的颗粒度随射线能量的提高而增大。 （ ） 3.24 底片影像颗粒度与胶片卤化银的粒度是同一概念。 ( ) 3.25 透照厚度增大，散射比增大。 ( ) 3.26 像质计灵敏度与缺陷检出率是一个概念。 ( ) 3.27 减小最小可见对比度△Dmin， 不利于识别小缺陷。 ( ) 3.28 观片灯亮度提高， 最小可见对比度△Dmin 减小， 能分辨的黑度范围向高黑度一边扩展。 （ ）225射线检测习题部分3.29 在较暗的室内评片，消除了散射光影响，底片的最小可见对比度△Dmin 减小，有利于 分辨缺陷。 （ ） 4.1 无损检测规程包括通用工艺规程和专用工艺卡。 （ ) 4.2 从事承压设备检测的人员应按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》的要 求取得与其工作相应的资格证书，并负相应的技术责任。 （ ） 4.3 按标准规定，射线检测技术分为三级：A 级-低灵敏度技术；AB 级-中灵敏度技术；B 级-高灵敏度技术。 （ ） 4.4 锅炉、压力容器、压力管道及其在用承压设备对接焊接接头的射线检测，一般应采用 A 级或 AB 级射线检测技术。 （ ） 4.5 在射线检测之前，对接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片上 的影像不得掩盖或干扰缺陷影像， 否则应对表面作适当修整。 （ ） 4.6 除非另有规定，射线检测应在焊后进行。对有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完 成 24 小时后进行射线检测。 （ ） 4.7 进行局部射线检测的压力容器对接焊接接头，发现有不允许的缺陷时，应先返修缺陷， 复照时再按标准要求扩探。 （ ） 4.8 椭圆形封头的射线检测程序应安排在拼焊后， 热压成型前进行。 （ ） 4.9 筒节（包括：短节、大小口）的纵向对接焊接接头应在校圆前进行射线检测。 （ ） 4.10 一般情况下，焊接试板与壳体纵向坡口对接，一次焊接完成后，应同时委托射线检测。 （ ） 4.11 按标准规定， 透照某一厚度的工件， 其使用的管电压或选择的γ 射线种类要受到控制， 其目的主要是提高底片的清晰度， 从而保证底片获得规定的质量要求。 ( ) 4.12 X 射线检测必须选用较低的管电压。 （ ） 4.13 双壁透照时，确定γ 射线最小透照厚度所依据的厚度为 W。 （ ） 4.14 射线透照时， 选择 X 射线最高管电压所依据的厚度为 W。 （ ） 4.15 在采用γ 射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时， 应采用 T3 类或较低类别的胶片， 用以提高缺陷的检出率。 （ ） 4.16 JB/T
规定的透照厚度等于穿过焊缝的厚度。 （ ） 4.17 按标准要求， 射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。 （ ） 4.18 JB/T 规定， 透照时可以采用荧光增感或金属荧光增感， 但仅限于 A 级。 ( ) 4.19 由曝光因子的公式可知， 焦距增加一倍， 则曝光量是原值的 4 倍。 （ ） 4.20 采用铅箔荧光增感时， 不能根据曝光因子公式修正透照参数。 （ ） 4.21 透照厚度比 K 定义为一次透照长度范围内射线束穿过母材的最大厚度与最小厚度之 比。 （ ） 4.22 A 级、 AB 级纵向对接焊接接头的 K 值应≤1.01。 （ ） 4.23 按标准规定， A 级、 AB 级环向对接焊接接头透照厚度比 K ≤ 1.1， 当管子 100mm&DO≤250mm 时，允许 k≤1.2。 （ ） 4.24 控制透照厚度比 K 的主要目的是保证底片内的黑度在规定范围内变化。 （ ） 4.25 一次透照长度 L3 是焊缝射线照相一次透照的有效检测长度。即在满足几何不清晰度和 K 值要求的前提下，按照标准规定,将搭接标记贴放在源侧或胶片侧附近焊缝的母材上，搭 接标记之间母材上的长度。 （ ） 4.26 采用双壁单影透照 DO ≥ 100mm 管子时，焦距 F 选择的越大，一次透照长度越小。 ( ) 4.27 透照某环缝，焦距相同，在满足透照比 K 值要求的前提下，双壁单影的一次透照长度 L3，比单壁单影外透照的一次透照长度大。 ( ) 4.28 由于结构、环境条件、射线设备等方面的限制，检测的某些条件不能满足 AB 级（或 B 级）射线检测的技术要求时，可以按 A 级射线检测技术进行检测。 （ ） 4.29 经合同各方同意，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到要求的条件下，利用192 77Ir 源采用双壁单影法透照管子环焊缝时，允许管子壁厚的下限值为 5mm。（ ）4.30 JB/T5 规定，采用源在内中心透照方式周向曝光时,只要得到的底片黑度和6射线检测习题部分像质计灵敏度符合标准要求,f 值可以减小,但减小值不应超过规定值的 20%。 （ ） 4.31 JB/T5 规定:如采用源在内作偏心单壁透照时,只要得到的底片黑度和像质 计灵敏度符合标准要求,f 值可以减小,但减小值不应超过规定值的 50%。 （ ） 4.32 搭接长度△L 是指底片上搭接标记至底片端头的距离。 ( ) 4.33 纵向对接焊缝接头双壁单影透照时，搭接标记应贴在胶片侧的工件表面上，底片上两 搭接标记之间的长度即为有效透照长度。 ( ) 4.34 环向对接焊缝接头双壁单影透照时，搭接标记应贴在胶片侧的工件表面上，其有效透 照长度为除两搭接标记之间的长度之外，两端还应有附加长度。 ( ) 4.35 源置于曲率中心对环向对接焊接接头进行周向曝光时，搭接标记放在胶片侧或源侧均 可。 （ ） 4.36 透照曲面工件，当焦距 F 小于曲率半径 R 时，为保证不漏检，搭接标记应放在胶片侧。 （ ） 4.37 按标准规定，透照厚度 W:单壁透照时，为射线照射方向上材料的公称厚度 T，双壁透 照时为 2T。 （ ) 4.38 双壁透照，像质计的选用和像质评价所依据的厚度为 W。 （ ） 4.39 一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置 1 个像质计。 （ ） 4.40 环向对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置 4 个像质 计。 （ ） 4.41 球罐对接焊接接头采用源置于球中心全景曝光时，至少在北极区、赤道区、南极区附 近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置 3 个像质计，在南、北的极板拼缝上各放置 1 个像质计。 （ ） 4.42 环向对接焊接接头作中心周向曝光时，若透照区为抽查或返修复照的，则每张底片上 均应有像质计影像。 ( ) 4.43 按 JB/T5 标准规定，单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，也可以放 于胶片侧，但应进行对比试验，使实际透照的底片灵敏度符合要求。 （ ） 4.44 按 JB/T5 标准规定，像质计无法放置在源侧，也可以放于胶片侧，但应进 行对比试验或提高一个应识别丝号，使实际透照的底片灵敏度符合要求。 （ ） 4.45 当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记， “F”标记 的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。 （ ） 4.46 在可以实施的情况下应选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透 照方式。 （ ） 4.47 现有一板厚 10mm ， 纵向对接焊接接头长 640mm 的筒节， 需按标准的 AB 级 100％透照， 选用焦距 600m， 使用胶片长 360mm， 只需两次曝光即可满足要求。 （ ） 4.48 现有一板厚 14mm 的焊接试板， 纵向对接焊接接头长 450mm， 选用 700mm 焦距， 使用 300mm 长胶片，一次曝光两张胶片即可满足标准 AB 级 100％检测要求。 （ ） 4.49 现有一壁厚 10mm， 内径 450mm 的压力容器环向对接焊接接头要求 20％透照， 选用 600mm 焦距做单壁外透照，使用 360?80mm 胶片，透照一片即可满足标准 AB 级要求。 （ ） 4.50 现有一壁厚 12mm，内径 450mm 的压力容器人孔组件，纵向对接焊接接头长 250mm，纵、 环向对接焊接接头均要求 100％透照。现仅能采用 XXQ2505 定向 X 光机作单壁外透照，焦距 取 600mm，胶片长 300mm，纵向对接焊接接头透一片，环向对接焊接接头曝光 6 次即可满足 标准 AB 级要求。 （ ） 4.51 现有一壁厚 48mm，内径 500mm 的高压容器环向对接焊接接头（氩弧焊打底） ，因无人 孔，仅在透照侧的封头上有一Φ 50mm 孔，只能采用γ 射线作中心内透照，由标准 AB 级要求 查得像质计放于源侧应识别丝号为 8，底片上可识别的最大丝号刚好为 8，此底片灵敏度合 格。 （ ） 192 4.52 现有一壁厚 50mm， 内径 400mm 的高压容器， 其环向对接焊接接头采用 Ir 源作中心周 向曝光，已知源的焦点尺寸为Φ 3?3mm，采用阿克发 D5 带状胶片（自带铅增感屏） ，按 JB/T 5 标准 AB 级要求，可一次曝光检测整条环向对接接头。 （ ） 4.53 筒体纵向对接焊接接头透照时，一般用 600mm 焦距，每片的一次透照长度取 250mm。 若选用 800mm 焦距使用周向 X 光机一次曝光两张片， 可大大提高工作效率。 （ ）7射线检测习题部分4.54 现有一Φ 159?7mm 接管对接焊缝接头，要求检测比例 100%，若焦距采用 310mm，按 JB/T5 的要求应透照 7 片。 ( ) 4.55 有一壁厚 20mm，内径 400mm 的封头与筒体环缝，可采用 XXH2505 射线机作周向检测。 ( ) 4.56 对于某一种胶片，其曝光量与相应的底片黑度之间关系的曲线称曝光曲线。 （ ） 4.57 按标准规定，若采用γ 射线透照时, 总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的 10 倍。 （ ） 4.58 表征射线能量、工件厚度和曝光时间三者关系的曲线称曝光曲线。 （ ） 4.59 即使管电压相同， 不同 X 射线机所产生的 X 射线的线质也是不同的。 （ ） 4.60 对每台在用射线设备均应做出常用检测材料的曝光曲线。 （ ） 4.61 X 射线检测时，AB 级射线检测技术曝光量的推荐值应不小于 15mA.min。 （ ） 4.62 在相同射线能量下，透照厚度增大，散射比增大。 （ ） 4.63 射线透过有余高焊缝后到达胶片上的散射比，总大于透过厚度与焊缝相同的平板后到 达胶片上的散射比。 （ ） 4.64 照射量的国际单位是库仑/千克，专用单位是伦琴，两者的关系是 1 库仑/千克=3.877 3 ?10 伦琴。 （ ） 4.65 增大底片宽容度通常的方法是降低管电压。 （ ） 4.66 在 X 射线管窗口加滤波板的作用是增大宽容度，消除边蚀散射。 （ ） 4.67 对截面厚度差较大的工件，在保证灵敏度要求的前提下，应增大宽容度。 （ ） 4.68 小径管是指内直径 DO 小于等于 100mm 的管子 。 （ ） 4.69 按标准规定，小径管环向对接焊接接头采用倾斜透照方式椭圆成像时，应当同时满足 二个条件： （1） T≤8mm； （2） 焊缝宽度 g≤DO/4。 （ ） 4.70 按标准规定，对小径管环向对接焊接接头不满足倾斜透照方式椭圆成像条件或椭圆成 像有困难时,允许采用垂直透照方式重叠成像。 （ ） 4.71 双壁双影法透照小直径管子对接焊缝接头时，若使用一般像质计时，其应识别的线径 丝号必须用铅字标记或对准中心标记，以正确辨认应识别丝号。 ( ) 4.72 小径管采用双壁双影倾斜透照方式椭圆成像， b 值的大小为 D0+2 。 （ ） 4.73 小径管采用双壁双影垂直透照方式重叠成像， b 值的大小为 D0+4 。 （ ） 4.74 小径管环向对接接头透照椭圆成像时，影像的开口宽度应控制在 1 倍焊缝宽度左右。 （ ） 4.75 JB/T 规定，外径小于等于 89mm 的管子对接焊缝接头应采用双壁双投影法透 照。 ( ) 4.76 按标准规定，对外径大于 100mm 的管子对接焊缝透照时，K 值和一次透照长度可适当 放宽， 整圈焊缝的透照次数不少于 4 次。 ( ) 5.1 暗室的墙壁应涂墨绿色，水槽不可以用白色瓷砖。 （ ） 5.2 水是保证冲片质量的关键，应使用饮用自来水，否则应设专线供自来水。 （ ） 5.3 使用地下水冲片对底片质量没有影响。 （ ） 5.4 手工洗片时，为保证显影液的温度，可将加热棒直接放入显影槽中加热。 （ ） 5.5 一般情况下， 米吐尔与对苯二酚配合使用来增加显影能力和反差。 （ ） 5.6 对曝光过度的胶片，为获得符合要求的底片，可采用缩短显影时间来补救。 （ ） 5.7 胶片曝光部分越多，耗费的显影液越少。 （ ） 5.8 显影液温度过高，会导致影像颗粒度粗大。 （ ） 5.9 显影时间过长，会导致影像灰雾度过大。 （ ） 5.10 胶片放进老化的显影液中显影，会使底片产生黄色灰雾；显影液被定影液污染，会使 底片产生双色灰雾。 （ ） 5.11 当显影槽不放盖时， 显影液就会被氧化， 从而降低显影液的浓度。 （ ） 5.12 定影液有两个作用：溶解未曝光的 AgBr 和坚膜。 （ ） 5.13 显影液是碱性的，定影液是酸性的。 （ ） 5.14 胶片从放入定影液开始直到所有的 AgBr 颗粒消失这段时间称为定影时间。 （ ） 5.15 把显影后的胶片直接放入定影液，易产生不均匀的条纹，易使定影液失效。 （ ）8射线检测习题部分5.16 潜影形成后如不及时冲洗，有可能出现“潜影衰退”的现象。 5.17 射线检测工作量较小，暗室处理时可采用盘中冲洗。 5.18 胶片处理分为手工冲洗和自动冲洗，标准推荐采用自动冲洗的方法。 5.19 若采用自动洗片机洗片，透照时必须严格控制曝光规范。 5.20 暗室手工冲洗胶片的关键是显影槽必须有恒温装置。( ) ( ) （ ） （ ） （ ）6.1 评片一般应在专用评片室内进行。评片室应整洁、安静，温度适宜，光线应暗且柔和。 （ ） 6.2 按标准规定，评片应在专用评片室内进行，评片室内的光线应暗淡或全暗，室内照明用 光不得在底片表面上产生反射。 ( ) 6.3 标准规定，底片评定范围的亮度应满足：当底片评片范围内的黑度 D≤2.5 时，透过底 2 片评定范围内的亮度应不低于 30cd/m ；当底片评片范围内的黑度 D & 2.5 时，透过底片评 2 定范围内的亮度应不低于 10cd/m 。 （ ） 6.4 按 JB/T5 要求，黑度计可测的最大黑度应不小于 4.5，测量的误差值应不超 过±0.1。 （ ） 6.5 标准中规定，所使用标准黑度片至少应每年送计量单位检定一次。 （ ） 6.6 为评价缺陷数量和密集程度而设置的一定尺寸的方形或矩形区域定义为缺陷评定区。 （ ） 6.7 为检查背散射，在暗盒背面贴附一个“B”铅字，若在较黑背景上出现“B”的较淡影 像，就说明背散射防护不良，应予重照；如在较淡背景上出现“B”较黑影像，则不作底片 判废的依据。 ( ) 6.8 为检查底片的灵敏度，每张底片上都必须有像质计。 （ ） 6.9 标准规定， 在底片的焊缝上能够清晰地看到长度不小于 10mm 的金属丝影像时， 则认为 该丝是可识别的。 （ ） 6.10 按标准规定，小径管使用等丝像专用质计时，在底片的焊缝上能够清晰地看到至少两 根金属丝，则认为是可识别的。 （ ） 6.11 标准规定，若在底片黑度均匀部位（一般为相邻焊缝的母材金属区） ，能够清晰地看到 长度不小于 10mm 的断续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的。 （ ） 6.12 按标准规定，小径管使用等丝像专用质计时，在相邻焊缝的小径管母材金属区能够清 晰地看到至少两根金属丝，则认为是可识别的。 （ ） 6.13 标准规定， 用 X 射线透照截面厚度变化大的工件时, 底片黑度允许降低， 但 AB 级最低 黑度允许降至 1.2。 （ ） 6.14 管子焊缝双壁双影法透照时，焊缝影像的间距以 3～10mm 为宜，最大间距不得超过 15mm。 （没有要求，05 标准 4.1.4b）?椭圆成像时，应控制影像的开口宽度在 1 倍焊缝宽 度左右。 ） ( ) 6.15 长宽比小于或等于 3 的缺陷定义为圆形缺陷。长宽比大于 3 的缺陷的定义为条形缺陷。 ( ) 6.16 按《压力容器安全技术监察规程》规定，奥氏体不锈钢材料制造的压力容器、低温压 力容器、球形压力容器及焊缝系数取 1.0 的压力容器，其焊缝表面不得有咬边。 ( ) 6.17 底片评定的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧热影响区的范围。 （ ） 6.18 钢制承压设备对接焊接接头中的缺陷可分为裂纹、未焊透、未熔合、条形缺陷和圆形 缺陷五类。 （ ） 6.19 按标准规定，压力管道环向对接焊接接头的缺陷，按性质可分为裂纹，未熔合，未焊 透，条形缺陷，圆形缺陷，根部内凹和根部咬边共七类。 （ ） 6.20 按标准规定，钢制承压设备对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊 透和条形缺陷等共四类。 （ ） 6.21 双壁透照，缺陷评定所依据的厚度为 T。 （ ） 6.22 标准规定，钢制承压设备Ⅰ级和Ⅱ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未 焊透和条形缺陷。 （ ） 6.23 标准规定，钢制承压设备Ⅱ级和Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合和未焊 透。 （ ）9射线检测习题部分6.24 圆形缺陷长径大于或等于 1/2 板厚时应评为Ⅳ级。 （ ) 6.25 钢制承压设备对接焊接接头中，有两个或两个以上的条形缺陷处于同一直线上，且相 邻缺陷的间距小于或等于较长缺陷长度时， 应作为 1 个缺陷处理， 且间距也应计入缺陷的长 度之中。 （ ） 6.26 钢制承压设备对接焊接接头中， 在圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷时， 应进行综合评级。 （ ） 6.27 局部射线检测的底片在界线标记以外的缺陷也应评定 。 ( ) 6.28 底片有效评定区是指两塔接标记之间为长， 焊缝本身加焊缝两侧 5mm 为宽的范围。 ( ) 6.29 对于单壁外透照 100%检测的环向对接焊接接头而言，当底片端部有条形缺陷时，应 将该端搭接标记与相邻底片上的搭接标记重叠接长观察评定。 ( ) 6.30 对于源置于曲面的中心作周向 100%检测的环向对接焊接接头而言，当底片端部有条形 缺陷时，应将该端搭接标记与相邻底片上的搭接标记重叠接长观察评定。 ( ) 6.31 有一母材公称厚度 T 为 24mm 的钢制容器，按图样要求，焊接质量≤Ⅱ级为合格，在平 行焊缝的一条直线上有两组条形缺陷，单个尺寸小于 1/3 T，其总长分别为 21mm 和 10mm 在 12T 的焊缝长度内仅有此二组条形缺陷，该底片应评为不合格。 ( ) 6.32 在 T=4mm 的钢对接焊缝接头的底片上，仅有 3mm 和 2mm 的条形缺陷，且处于平行焊缝 的一直线上，其间距 8mm，该片应评定为Ⅲ级。 ( ) 6.33 在 T=3mm 的钢对接焊缝接头的底片上，有长度 6mm 和 2mm 的条形缺陷处于平行焊缝的 一直线上，间距 10mm，该片应评为Ⅲ级。 ( ) 6.34 在 T=14mm 的钢对接焊缝接头的底片上， 仅有 6mm 和 7mm 平行焊缝的两个条形缺陷， 其 间距为 4mm, 两个缺陷在长度方向的最小间为 10mm， ，该片应评为Ⅲ级。 ( ) 7.1 X、γ 射线损伤生物细胞的过程就是电离辐射过程。 （ ） 7.2 电离是物质原子或分子受外界影响失去或得到电子从而成为带电离子的过程。 （ ） 7.3 电离辐射是指由直接电离粒子和间接电离粒子组成的射线。 （ ） 7.4 照射量是用来表征 X 或γ 射线对空气电离能力大小的一个物理量， 而吸收剂量表征受照 物体吸收电离辐射能量程度的一个物理量。 （ ） 7.4 照射量的国际单位是库仑/千克， 专用单位是伦琴， 两者的关系是 1 库仑／千克＝3.877 3 ?10 伦琴。 （ ） 7.5 照射量这个概念仅适用于 X 射线或γ 射线对空气的效应。 ( ) 7.6 不带电的 X 射线或 γ 射线与物质相互作用时的能量转移过程分两个阶段：它首先把能 量转移给次级电子，用比释动能来描述。然后次级电子通过电离和激发的形式，将能量转移 给物质，用吸收剂量来描述。 （ ） 7.7 所谓比释动能是指不带电粒子与物质相互作用， 在单位质量的物质中释放出来的所有带 电粒子的初始动能的总和。 （ ） 7.8 空气比释动能率是在空气中距源 1 米处，对空气衰减和散射修正后的比释动能率。用 -1 1m 处的μ Gy?h 表示。 （ ） 7.9 在实际工作中，仪器直接测量的只能是照射量，而不是吸收剂量。因此，要计算辐射场 中某点被照射物质的吸收剂量，就只能用该点的照射量进行换算。 ( ) 7.10 吸收剂量的国际单位是戈瑞，专用单位是拉德，两者的关系是 1 戈瑞=100 拉德( ) 7.11 吸收剂量相同，而射线的种类和能量不同时，对机体产生的生物效应有所不同而引入 了当量剂量这个概念。 （ ） 7.12 对于 X 射线和 γ 射线而言，吸收剂量和当量剂量在数值上是相等的，即 1Gy=1SV 。 （ ） 7.13 对不同类型的电离辐射，只要吸收剂量相同，所产生的生物损伤程度也相同。 （ ） 7.14 当量剂量的国际单位是希沃特， 已经废弃专用单位是雷姆， 两者的关系是 1 希沃特=100 雷姆。 （ ） 7.15 当量剂量相同，小剂量漫性照射引起肌体不同器官或组织的敏感程度不同而引入了有 效剂量这个概念。通常用有效剂量确定人体各器官的限量值。 （ ） 7.16 辐射监测主要是指场所辐射监测和个人剂量监测。 （ ) 7.17 个人剂量笔给出的是射线剂量的照射率值，剂量仪给出的是累积值。 （ ） 7.18 个人剂量笔工作原理基于电离效应。 （ ）10射线检测习题部分7.19 职业放射性工作人员，任何一年中的有效剂量不超过 50 mSv 。 （ ） 7.20 公众中有关关键人群组的成员所受到的年有效剂量不应超过 1 mSv 。 （ ） 7.21 职业放射性工作人员连续 5 年的年平均有效剂量（但不可做任何追溯性平均）不得超 过 20mSv。 （ ） 7.22 由于现场环境复杂，进行 X、γ 射线检测时,划定控制区和管理区（或监督区）最好的 方法是用剂量仪测定。 （ ） 7.23 从事射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识培训，并取得放射工作人证。 （ ） 7.24 相同管电压下，混凝土墙的半价层厚度是 1/10 价层厚度的 5 倍。 （ ） 7.25 在有射线辐射的场所，人体接受累积剂量与受照射的时间成正比。 （ ） 7.26 射线强度是随穿过屏蔽物的厚度尺寸成指数规律减弱。 （ ）11射线检测习题部分是非题答案：1.1 1.6 1.11 1.16 1.21 1.26 1.31 1.36 1.41 1.46 1.51 ? ○ ○ ○ ○ ? ○ ○ ? ○ ? 1.2 ○ 1.3 ○ 1.4 ? 1.5 ○ 1.7 ○ 1.8 ○ 1.9 ○ 1.10 ○ 1.12? 1.13 ○ 1.14○ 1.15? 1.17 ○ 1.18○ 1.19 ○ 1.20 ? 1.22○ 1.23 ○ 1.24? 1.25○ 1.27 ○ 1.28○ 1.29 ? 1.30 ○ 1.32○ 1.33 ? 1.34 ○ 1.35? 1.37 ? 1.38○ 1.39 ○ 1.40○ 1.42○ 1.43 ? 1.44 ? 1.45○ 1.47 ○ 1.48○ 1.49 ? 1.50○ 1.52? 1.53 1.54 ○ 1.55 ?2.1 ○ 2.2 ○ 2.3 ? 2.4 ○ 2.5 ? 2.6 ○ 2.7 ? 2.8 ○ 2.9 ? 2.10 ○ 2.11 ? 2.12 ○ 2.13 ○ 2.14 ○ 2.15 ○ 2.16 ○ 2.17 ○ 2.18○ 2.19 ○ 2.20 ○ 2.21 ○ 2.22 ○ 2.23 ? 2.24 ○ 2.25 ? 2.26 ○ 2.27 ○ 2.28? 2.29 ? 2.30 ○ 2.31 ○ 2.32 ○ 2.33 ○ 2.34 ○ 2.35 ○ 2.36 ○ 2.37 ? 2.38○ 2.39 ? 2.40 ○ 2.41 ○ 2.42 ○ 2.43 ○ 2.44 ○ 2.45 ? 2.46 ? 2.47 ○ 2.48○ 2.49 ○ 2.50 ○ 2.51 ○ 2.52 ○ 2.53 Ο 2.54 ○ 3.1 ? 3.2 ? 3.3 ○ 3.4 ? 3.5 ○ 3.6 ○ 3.7 ? 3.8 ? 3.9 ○ 3.10 ○ 3.11 ○ 3.12 ○ 3.13○ 3.14○ 3.15 ? 3.16 ? 3.17 ? 3.18 ○ 3.19 ? 3.20 ? 3.21 ?3.22 ○3.23 ○3.24?3.25○ 3.26 ? 3.27 ? 3.28○ 3.29 ○4.1 4.6 4.11 4.16 4.21 4.26 4.31 4.36○ ○ ? ? ○ ○ ? ?4.2 ○ 4.3 ○4.4 ? 4.5 4.7 ? 4.8 ? 4.9 ?4.10 ? 4.12 ? 4.13 ○4.14 ○ 4.15 4.17 ○4.18 ? 4.19 ○ 4.20 4.22 ? 4.23 ?4.24 ? 4.25 4.27 ○4.28 ? 4.29 ○ 4.30 4.32 ? 4.33 ?4.34 ? 4.35 4.37 ○4.38 ○ 4.39 ○ 4.40○ ? ○ ○ ? ○ ?12射线检测习题部分4.41 ○ 4.42 4.46 ○4.47 4.51 ? 4.52 4.56 ? 4.57 4.61 ? 4.62 4.66 ○ 4.67 4.71 ○ 4.72 4.76 ?○4.43 ○ 4.44 ?4.45 ○ ?4.48 ?4.49 ?4.50 ? ? 4.53 ?4.54 ? 4.55 ? ○4.58 ? 4.59 ○ 4.60 ○ ○ 4.63 ○4.64 ? 4.65 ? ○4.68 ? 4.69 ○ 4.70 ○ ○ 4.73 ○4.74 ○ 4.75 ?5.1 5.6 5.11 5.16○ 5.2 ○ 5.3 ? 5.4 ? 5.5 ○ ? 5.7 ? 5.8 ○ 5.9 ○ 5.10 ○ ○ 5.12 ○ 5.13 ○ 5.14 ? 5.15○ ○ 5.17 ? 5.18 ○ 5.19○ 5.20 ○6.1 ○ 6.2 ? 6.3 ○ 6.4 ? 6.5 ? 6.6 ○ 6.7 ○ 6.8 ? 6.9 ? 6.10 ? 6.11 ? 6.12 ○ 6.13 ? 6.14 ? 6.15? 6.16 ○ 6.17 ? 6.18 ○ 6.19○ 6.20 ? 6.21 ○ 6.22 ? 6.23 ○ 6.24 ? 6.25? 6.26 ○ 6.27 ○ 6.28 ○ 6.29? 6.30 ○ 6.31 ○ 6.32 ○ 6.33 ? 6.34 ? 7.1 7.6 7.11 7.16 7.21 7.26 ○ 7.2 ○ 7.3 ○ 7.4 ○ ○ 7.7 ○ 7.8 ○ 7.9 ○ ○ 7.12 ○ 7.13 ? 7.14 ○ ○ 7.17 ? 7.18 ○ 7.19○ ○ 7.22 ○ 7.23 ○ 7.24 ? ○ 7.5 ○ 7.10 ○ 7.15○ 7.20 ○ 7.25○13射线检测习题部分二 选择题(将正确答案的代号填在括弧内)1.1 原子核的核电荷数等于（ ） 。 A. 中子数 B. 原子序数 C. 光子数 D. 原子量 1.2 原子核中的质子数与（ ）相等。 A. 中子数 B. 原子序数 C. 质量数 D. 以上都是 1.3 原子的质量数就是（ ） 。 A. 原子的重量 B. 原子的质子、中子与电子数的总和 C. 原子核中质子与中子数的总和 D. 原子核中质子与电子数的总和 1.4 原子序数是标志元素在元素周期表中的次序号，它等于该元素原子（ ） 。 A. 核中的质子数 B. 核中的中子数 C. 核中的质子与中子数之和 D. 质量 1.5 原子中质子与电子的（ ） 。 A. 电荷相等，符号相反 B. 电荷相等，符号相同 C. 电荷不等，符号相反 D. 电荷不等，符号相同 1.6 下列叙述中，错误的是（ ） 。 A.α 射线是一束氦的原子核，带正电 B.β 射线是一束快速运动的电子，带负电 C.γ 射线是一种波长很短的电磁波，不带电 D.α 、β 、γ 三种射线均不带电 1.7 射线检测采用的三种射线是（ ） 。 A. α 射线、β 射线和 γ 射线 B. X 射线、γ 射线和中子射线 C. 红外线、紫外线和宇宙线 D. 以上都是 1.8 射线检测所采用的 X 射线、γ 射线属于（ ） 。 A. 机械波 B. 冲击波 C. 电磁波 D. 微波 1.9 相同能量的 X 射线与 γ 射线的唯一区别是（ ） 。 A. 生物效应 B. 产生机理 C. 波长 D. 穿透材料能力 1.10 电磁波中的频率 f、速度 C、波长 λ 三者之间的关系是（ ） 。 A. f=λ C B. C = fλ C. λ =fC D. λ = f/c 1.11 X 射线属于（ ） 。 A. 电子流 B. 质子流 C. 中子流 D. 光子流 1.12 连续 X 射线束是（ ） 。 A. 含有多种波长的 X 射线束 B. 特征 X 射线束 C. 单一波长的 X 射线束 D. 以上都是 1.13 连续 X 射线产生于（ ） 。 A. 韧致辐射 B. 跃迁辐射 C. 荧光辐射 D. 以上都是14射线检测习题部分1.14 光子能量的数学表达式是（ A. E =） 。 B. E =h ?? hchC. E =hc?minD. E =?21.15 韧致辐射是指高速运动的电子同阳极靶相碰撞时，与阳极靶的（ ）相互作用，电 子失去动能，产生连续 X 射线。 A. 自由电子 B. 原子核的质子 C. 壳层电子 D. 原子核外库仑场 1.16 连续 X 射线的波长与( ) A． B. C．管电流 D. 以上都是 1.17 已知 X 射线的最短波长为 0.062A°，其管电压为（ ）kV。 A. 150 B. 200 C. 250 D. 300 1.18 当管电压一定，管电流加大时，产生的连续 X 射线的强度、波长有何变化？（ ） A.强度不变，波长变短。 B.强度增加，波长不变。 C.强度降低，波长变长。 D.强度降低，波长变长。 1.19 当管电流一定，管电压增大时，产生的连续 X 射线的线质、强度有何变化？（ ） A. 线质变硬，强度增大。 B. 线质不变，强度增大。 C. 线质变软，强度降低。 D. 线质不变，强度降低。 1.20 当管电流一定，提高 X 射线管的管电压时，连续 X 射线的波长、穿透能力有何变化？ （ ） A.波长不变，穿透能力不变。 B.波长变短，穿透能力增加。 C.波长变长，穿透能力降低。 D.波长变长，穿透能力增加。 1.21 当管电压一定，管电流减少时，产生连续 X 射线的线质、强度有何变化？（ ） A. 线质变硬，强度不变。 B. 线质不变，强度增加。 C. 线质变软，强度降低。 D. 线质不变，强度降低。 1.22 将 X 射线管靶极金属由钼靶改为钨靶，而管电压和管电流都一定时，所产生连续 X 射 线的线质（ ） 。 A. 变硬 B. 变软 C. 不变 D. 随环境而变硬 1.23 连续 X 射线强度最大时的波长约为其最短波长的（ ）倍。 A. 2.0 B. 2.5 C. 1.5 D. 1.0 1.24 对连续 X 射线的总强度 IT 与靶材的原子序数 Z 的关系叙述正确的是（ ） 。 A. IT 与 Z 成正比 B. IT 与 Z 的平方成正比 C. IT 与 Z 成反比 D. IT 与 Z 的平方成正比 1.25 连续 X 射线的线质可用（ ）表示 。 A. 衰减系数 B. 半价层 C. 有效能量 D. 以上都对 1.26 X 射线的穿透能力取决于（ ） 。 A. 管电流 B. 管电压 C. 曝光时间 D. 焦距15射线检测习题部分1.27 连续 X 射线穿透物质后，强度( )，线质( ) A．减弱 B. C. 变软 D. 1.28 将 X 射线管靶极金属由钼靶改为钨靶，而管电压和管电流都一定时，所产生标识 X 射 线的（ ）. A. 能量与波长都相同 B. 能量不同，波长相同 C. 能量与波长都不相同 D. 能量相同，波长不同 1.29 从 X 射线管中发射出的射线包括（ ） 。 A. 连续 X 射线 B. 标识 X 射线 C. β 射线 D. A 和 B 1.30 标识 X 射线的波长与( ) A. 靶的原子序数 B. C. 管电压 D. 1.31 高速电子撞击阳极靶而发生能量转换，所获得的 X 射线能量是电子能量的( ) A. 全部 B. C. 一半 D. 1.32 若散射线忽略不计，当透照厚度增加量相当于 1 个半价层时，则胶片接受的照射量减 少( ) A．30% B. 70% C. 100% D. 50% 1.33 通常管电压 200kV 是指( ) A. 单色射线的能量为 0.2MeV B. 连续 X 射线的最大能量为 0.2MeV C. 标识射线的能量为 0.2MeV D. 以上都是 1.34 放射性同位素钴 60 是将其稳定的同位素钴 59 置于核反应堆中俘获 （ ） 发生核反应 而制成的。 A. 电子 B. 中子 C. 质子 D. 原子 1.35 钴 60 辐射的 γ 射线能量为（ ） 。 A. 3MeV，1MeV B. 2.17MeV，1.88MeV C. 1.17MeV，1.33MeV D. 0.67MeV，0.53MeV 1.36 γ 射线的穿透力取决于（ ） 。 A. 射源尺寸 B. 射源种类 C. 曝光时间 D. 源活度 1.37 γ 射线源的半衰期为 75 天，此源是（ ） 。 A.60 27CoB.192 77IrC.137 55Cs） 。D.170 69Tm1.38 在常用的γ 射线源中 27 Co 的半衰期为是（ A. 33 年 1.39 （ A. 1.40 A. 1.41 A. C.60 2760B. 5.3 年C. 130 天D. 75 天Co 源的半衰期是 5.3 年，假设最初的活度是 100 居里，则 21.1 年后，其活度变为）居里。 50 B. 25 C. 12.5 D. 6.25 已知γ 射线的衰变常数λ 为 0.021/年，它的半衰期为（ ） 。 33 年 B. 5.3 年 C. 130 天 D. 75 天 γ 源的半衰期与（ ）有关。 源的强度 B. 源的物理尺寸 源的种类 D. 以上都是16射线检测习题部分1.42 A. 1.43 A. X. 1.44 A.192 77Ir 的半衰期为 75 天，当其强度由 50 居里衰减到 30 居里约要经过（）天。76 天 B. 56 天 C. 101 天 D. 61 天 X 射线与γ 射线不同的是（ ） 。 γ 射线的穿透力比 X 射线弱 B. X 射线的波长比γ 射线短 射线与γ 射线的产生机理不同 D. 以上都对 穿透能力最小的γ 源是（ ） 。60 27CoB.137 55CsC.75 34Se)D.192 77Ir1.45 下列四种放射性同位素中，半衰期最长的是( A． 27 Co60B.192 77IrC.137 55Cs) D.D.75 34Se1.46 下列四种放射性同位素中，半价层最大的是( A.75 34SeB.137 55CsC.192 77Ir)60 27Co1.47 在常用的γ 射线源中穿透能力最强的是( A.60 27CoB.192 77IrC.137 55CsD.75 34Se1.48 二个相同活度的γ 射线源，一个妥善存放不用，另一个日夜使用，经三年后它们的 活度( ) A. 不用的一个大 B. C. 相同 D. 1.49 X 射线和物质相互作用形式主要有( ) A.光电效应 B. C.电子对效应 D. 1.50 所谓光电效应就是（ ） 。 A. 光子与物质作用使物质发射出电子而光子本身消失的一种现象。 B. 光子与物质作用使物质发射出电子而光子本身能量减弱、方向改变。 C. 光子与物质作用使物质产生一个负电子和一个正电子而光子本身消失。 D. 光子与物质作用使物质产生一个质子而光子本身消失。 1.51 光电效应的特征是（ ） 。 A. 产生光电子 B. 产生反冲电子 C. 散射光子 D. 以上都是 1.52 最容易发生光电效应的射线能量为（ ） 。 A. 10keV～500keV B. 100keV～10MeV C. 1.02MeV 以上 D. 10keV 以下 1.53 射线和物质作用，使物质发出电子，而射线能量减小 ，运动方向改变，这种现象称为 （ ） 。 A. 光电效应 B. 康普顿效应 C. 电子对效应 D. 以上都不对 1.54 散射线的主要成份是低能电磁辐射,它主要是由光子在（ ）过程中能量减弱而产生 的。 A. 光电效应 B. 康普顿效应 C. 电子对效应 D. 电离17射线检测习题部分1.55 窄束射线和宽束射线的区别是（ ） 。 A. 窄束是指散射和未散射的射线均到达检测器,宽束是指只有未散射的射线到达检测器 B. 窄束是指只有未散射的射线到达检测器，宽束是指散射和未散射的射线线均到达检测器 C. 窄束和宽束的区别在于源的尺寸不同 D. 窄束和宽束的区别在于胶片和屏的配合不同 1.56 单色射线是指（ ） 。 A. 标识 X 射线 B. γ 射线 C. 连续射线 D. 由单一波长组成的射线 1.57 检测中使用的 X 射线称为（ ）射线。 A. 单一波长 B. 窄束单色 C. 标识射线 D. 宽束连续 -1 1.58 已知Ⅹ射线在钢中的平均衰减系数为 3.465cm ，则该射线在钢中的平均半价层为 （ ）cm。 A. 0.02 B. 0.2 C. 2.0 D. 1.2 1.59 若散射线忽略不计，当透照厚度增加二个半价层时，则胶片接受射线的强度将减少 （ ） 。 A. 1/4 B. 1/2 C. 3/4 D. 1.0 1.60 物体半价层的数学表达式为（ ） 。γ 射线半衰期的数学表达式为（ ） 。 A. T1/2=0.693/λ B. T1/2 ＝O.693/μ -λ t C. T1/2= Ie D. 以上都不是 1.61 母材厚度 10 mm ，焊缝余高 3 mm 的钢试件，已知 X 射线对该试件的半价层为 1.5mm， 其衰减系数约为（ ） 。 -1 -1 A. 4.6cm B. 3.6cm -1 -1 C. 2.6cm D. 1.6cm 1.62 影响半价层的因素（ ） 。 A．射线源的种类 B. 射线源的物理尺寸 C. 射线源的强度 D. 以上都是 1.63 连续 X 射线透照工件时，以下叙述正确的是( ) A. B. C. D. 1.64 一定能量的射线穿透物质时的吸收程度，取决于物质的( ) A. 原子序数 B. C. 厚度 D. 以上都是 1.65 如果有一单能 X 射线 吸收系数与连续 X 射线在特定厚度范围内平均吸收系数相等， 便 可用此单能射线的能量来表示连续 X 射线的平均能量，称作( ) A. 平均能量 B. C. 峰值能量 D. 1.66 X 射线管的管电压用（ ）表示。 A. 平均值 B. C. 峰值值 D. 1.67 散射射线 Is 与一次透射射线 Ip 之比称作散射比，散射比 n 的大小与（ ）等诸多因 素有关。 A. 射线能量 B. 被穿透物质种类 C. 被穿透物质厚度 D. 以上都是 1.68 射线照相的原理主要是利用了 X 射线与 γ 射线的（ ） 。 A. 穿透力强 B. 能使胶片感光18射线检测习题部分C. 直线传播D. 以上都是2.1 减轻 X 射线机重量的措施有 （ ） 。 A. 气体绝缘 B. 高频变压 C. 使用金属陶瓷管 D. 以上都是 2.2 产生 X 射线的必备条件是( ) A. B. C. D. 2.3 普通玻璃 X 射线管由（ ）构成。 A. 阴极 B. 阳极 C. 玻璃外壳 D. 以上都是 2.4 X 射线管内钨灯丝的主要功能是（ ） 。 A. 发射电子 B. 电子加速 C. 聚集电子 D. 吸收电子 2.5 X 射线管阳极作用是（ ） 。 A. 吸收二次电子 B. 吸收散射线 C. 产生 X 射线 D. 以上都是 2.6 X 射线管阳极靶应选（ ）材料。 A. 原子序数高 B. 熔点高 C. 热传导优良 D. 以上都是 2.7 在 X 射线管中，发射电子的灯丝与聚焦电子罩共同组成 X 射线管的（ ） 。 A. 阳极 B. 整流管 C. 阴极 D. X 射线管窗口 2.8 X 射线管中,轰击靶的电子运动速度取决于（ ） 。 A. 阳极靶材料的原子序数 B. 灯丝材料的原子序数 C. 阳极与阴极之间的电位差 D. 整流电路的电流 2.9 X 射线管是发射 X 射线的源，在一定的管电压下，X 射线管的管电流大小取决于阴极发 射电子量的多少，而管电流的大小则取决于（ ） 。 A. 整流管电流的大小 B. X 射线管电流的大小 C. X 射线工作时间的长短 D. 灯丝加热温度 2.10 下列四种不同整流形式的 X 光机中，输出 X 射线剂量最大的是( ) A.半波整流 X 光机 B.全波整流 X C.自整流 X 光机 D.恒压 X 2.11 X 射线管中，电子轰击靶时能量转换的主要形式是产生（ ） 。 A．连续 X 射线 B. 标识 X 射线 C. 短波 X 射线 D. 热 2.12 X 射线机中，用来获得电子,并给予加速，从而发射 X 射线的部件是( ) A. 高压发生器 B. X C. 整流器 D. 2.13 X 射线管阴极的作用是( ) A.发射电子 B. C.加速电子 D.A 和 B 2.14 软 X 射线管窗口材料一般是（ ） 。 A. 铜 B. 钨 C. 铍 D. 银19射线检测习题部分2.15 阳极靶被电子撞击的部分称（ ） ，它垂直于轴线上的正投影称为（ A. 实际焦点 B. 靶极面积 C. 有效焦点 D. 阳极 2.16 影响 X 射线管寿命的最主要因素是（ ） 。 A. 环境温度 B. 环境湿度 C. 操作程序 D. 连续工作 2.17 X 射线机的基本组成部分包括（ ） 。 A. X 射线管和高压部分 B. 冷却部分 C. 保护部分和控制部分 D. 以上都是 2.18 X 射线机的阳极冷却方式有（ ） 。 A. 辐射散热式 B. 充油冷却式 C. 旋转阳极自然冷却 D. 以上都是 2.19 X 射线机进行训机的目的是（ ） 。 A．提高 X 射线管的真空度 B.检查保护系统的功能 C. 检查 X 射线机的效率 D. 排除射线柜中的气泡 2.20 提高 X 射线管使用寿命的措施主要是（ ） 。） 。A. 在送高压前，灯丝必须提前预热、活化,严格按使用说明书要求进行训机 B. 使用负荷应控制在最高管电压的 90%以内 C. 使用过程中要保证阳极的冷却 D. 以上都是 2.21 在同样电流、电压条件下， （ ）穿透能力最强、功耗最小、效率最高， （ （ ）较差。 A. 工频机 B. 恒频机 C. 变频机 D. 都一样 2.22 在 X 射线机的整流电路中，X 射线输出剂量最小的是（ ） 。 A. 半波自整流 B. 全波整流 C. 恒直流电路 D. 都一样 2.23 γ 射线源的的主要技术参数为（ ） 。 A. 能量 B. 半衰期 C. 比活度和源的焦点尺寸 D. 以上都是 2.24 与 X 射线探伤机相比，γ 射线探伤机的优点是（ ） 。 A. 设备简单 B.体积小 C. 不需外部电源 D. 以上都是 2.25 γ 射线探伤机由（ ）组成。 A. 源组件 B. 探伤机机体和驱动机构 C. 输源管和附件 D.以上都是 2.26 射线照相胶片在片基的双面均涂感光乳剂层，其作用是（ ） 。 A. 吸收较多的射线 B. 提高感光速度 C. 增加底片黑度 D. 以上都是 2.27 射线照相胶片上影像生成的主要部位在（ ） 。 A. 片基 B. 结合层 C. 感光乳剂层 D. 保护层 2.28 射线照相胶片感光乳剂层的主要成分是（ ） 。 A. 三醋酸赛路路 B. 多元酯20）次之，射线检测习题部分C. 动物胶 D. 卤化银 2.29 胶片特性曲线用来说明（ ） 。 A. 黑度与射线能量之间的关系 B. 清晰度与曝光量之间的关系 C. 灵敏度与曝光量之间的关系 D. 黑度与曝光量之间的关系 2.30 底片的黑度和曝光量之间的关系常用胶片特性曲线来分析，在射线照相法中，主要是 利用胶片特性曲线中的（ ） 。 A. 迟钝区 B. 曝光正常区段 C. 曝光不足区段 D. 曝光过度区段 2.31 胶片的特性曲线可以表示的参数有（ ） 。 A. 胶片的曝光范围 B. 胶片感光度和本身灰雾度 C. 胶片的反差系数 D. 以上都是 2.32 在胶片特性曲线上，连接给定两点直线的斜率称为（ ） 。 A. 胶片感光度 B. 平均梯度 C. 胶片梯度 D. 曝光范围 2.33 X 光胶片储存条件最好是（ ） 。 A. 温度 0℃以下，湿度 35～60%之间 B. 温度 0℃以下，湿度 10%以下 C. 温度 10～15℃，湿度 55～65%之间 D. 温度 20～30℃，湿度 60%以上 2.34 与非增感性胶片配用的增感屏主要是( ) A．荧光增感屏 B. C. 金属荧光增感屏 D. 2.35 黑度计是用于测量（ ） 。 A. X 射线的强度 B. 底片的黑度 C. 材料的密度 D. 辐射剂量 2.36 增感型胶片的特性曲线分( )区段 ；非增感型胶片看不到和没有（ ）区段. A．本底灰雾和迟顿 B. 曝光不足和 C. 曝光过度和反转 D. 2.37 黑度计可测的最大黑度应不小于（ A. 4.0 B. 4.5 ） 。2） ，测量的误差应不超过（ C. 量程的 1/10） 。D. ±0.052.38 对观片灯的要求是（A. 观片灯应有足够的亮度， 当底片黑度≤2.5 时， 透过射线底片的亮度应不小于 30cd/m ， 当底片黑度＞2.5 时，透过射线底片的亮度应不小于 10cd/m B. 观察处的漫射光均匀， 亮度可调,并备有遮光板， 对不需要观察或透光量过强的部分给 予屏蔽 C. 散热良好，躁声小 D 以上都是 2 2.39 观察黑度达 2.5 的射线底片时， 通过底片的亮度为 30cd/m ， 则观片灯的亮度约能达到 2 （ ）cd/m 。 A. 1000 B. 3000 C. 9487 D.
若底片黑度为 2 时，有（ ）入射光线被透过. A. 1/100 B. 1/1000 C. 1/10000 D. 1/10212射线检测习题部分2.41 已知入射光强 7000cd/m ，则底片黑度为 2.3 的区域透过光强为（ ） 。 2 2 A. 350cd/m B. 0.35cd/m 2 2 C. 35cd/m D. 3.5cd/m 2.42 铅箔增感屏的增感机理是( ) A. B. C. D. 2.43 使用铅增感屏的目的是（ ） 。 A. 保护胶片不被划伤 B. 减少散射线、缩短曝光时间 C. 增加曝光时间 D.改善透照条件 2.44 使用铅增感屏应注意的是（ ） 。 A. 增感屏的屏面应保持光滑无损伤 B. 增感屏屏面定期清洁 C. 增感屏与胶片紧密贴合 D. 以上都是 2.45 射线检测时，使用像质计的目的是（ ） 。 A. 测量缺陷大小 B. 测量底片黑度 C. 测量几何不清晰度 D. 检查和定量评价透照底片的影像质量 2.46 像质计型式主要有（ ） ，JB/T5 标准采用的像质计是（ ） 。 A. 金属丝型像质计 B. 孔型像质计 C. 槽型像质计 D. 以上都是 2.47 按标准规定，金属丝型像质计分为普通像质计和专用像质计两种，普通像质计由 （ ）组成，专用像质计由（ ）组成。 A. 5 根等径金属丝 B. 6 根不等径金属丝 C. 7 根不等径金属丝 D. 以上都是 2.48 金属丝型像质计的材料对射线的吸收要与被检材料相同或相近，按标准规定，碳钢像 质计适用的被检材料为（ ） ，铝像质计适用的被检材料为（ ） 。 A. 钛及钛合金 B. 铝及铝合金 C. 碳钢及不锈钢 D. 铜及铜合金 2.49 按标准规定，像质计一般应放置在( ) A．射线源一侧的工件表面上，被检焊缝区的一端(被检区长度的 1/4 左右部位) B．金属丝 C. 当一张胶片上同时透照多条对接焊接接头时，像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处 D. 2.50 按标准规定，像质计放置的原则是单壁透照像质计放置在（ ） ；双壁单影透照像质计 放置在（ ） ；双壁双影透照像质计放置在（ ） 。 A、胶片侧 B、源侧 C. 两侧均可 D. 以上都是 2.51 使用像质计的局限性是（ ） 。 A．不能提供底片灵敏度的永久性证据 D．不能验证透照工艺的适当性 C．不能提供检出缺陷尺寸的度量指示 B．不能比较两种透照技术的质量高低 3.1 影响射线照相灵敏度三个主要因素是（ ） 。 A. 对比度、清晰度、影像颗粒度 B. 清晰度、宽容度、黑度222射线检测习题部分C. 感光速度、灰雾度、对比度 D. 清晰度、黑度、最小可见对比度 3.2 射线照相灵敏度描述的是（ ） 。 A．射线照相底片能够发现的最小缺陷尺寸，或发现和识别细小影像的难易程度 B．射线照相底片记录和显示缺陷的检出率 C．射线照相底片记录可检范围 D．以上都是 3.3 射线照相绝对灵敏度就是 ( ） 。 A．射线照片上可检出缺陷的能力 B．射线照片上所能发现的沿射线穿透方向上的最小缺陷尺寸 C．射线照片上所能发现缺陷的大小 D．以上都不是。 3.4 标准中所讲灵敏度都是像质计灵敏度，像质计灵敏度是指（ ） 。 A. 用自然缺陷来评价影像质量的灵敏度 B. 在一定透照厚度范围内，用像质计可识别金属丝的丝号来评价影像质量的灵敏度 C. 用黑度计来评价影像质量的灵敏度 D. 以上都是 3.5 裂纹类面状缺陷的检出率，不仅取决于底片的质量，还取决于( ) A．缺陷自身的高度 B. C．缺陷与射线束的角度 D. 以上都是 3.6 主因对比度与工件透照厚度差成（ ） 。 A. 正比 B. 反比 C. 平方反比 D. 以上都是 3.7 主因对比度主要取决于（ ） 。 A. 工件的厚度差 B. 射线的质 C. 散射比 D. 以上都是 3.8 胶片对比度主要取决于（ ） 。 A. 胶片类型 B. 底片黑度 C. 显影条件 D. 以上都是 3.9 提高底片对比度通常的方法是（ ） 。 A. 增大源到工件表面的距离 B.延长显影时间 C. 减少源到工件表面的距离 D.增大射线的波长 3.10 底片对比度取决于（ ） 。 A. 焦点尺寸和底片黑度 B. 主因对比度和胶片对比度 C. 清晰度和增感方式 D. 显像条件和清晰度 3.11 底片宽容度是指（ ） 。 A. 在底片有效评定区规定的黑度范围内可容纳工件的厚度范围 B. 在底片有效评定区规定的黑度范围 C. 底片上不同区域黑度差 D. 以上都是 3.12 由于 X 射线管焦点或γ 射线源都有一定尺寸，所以透照工件时，工件中的缺陷在底片 上的影像边缘会产生一定宽度的半影，此半影宽度称为（ ） 。 A． 固有不清晰度 B. 几何不清晰度 C．影像颗粒度 D.以上都是 3.13 几何不清晰度的数学表达式为（ ） 。 A. Ug = db/f B. Ug =fb/d23射线检测习题部分C. Ug = fd/b D. Ug = f/db 3.14 影响几何不清晰度因素主要取决于（ ） 。 A. 焦点尺寸 B. 焦点至工件表面的距离 C. 工件表面到胶片距离 D. 以上都是 3.15 影响固有不清晰度因素主要取决于（ ） 。 A. 增感屏种类 B. 射线的质 C. 增感屏与胶片贴紧程度 D. 以上都是 3.16 影响射线照相不清晰度因素主要取决于（ ） 。 A. 几何不清晰度和固有不清晰度 B. 对比度和几何不清晰度 C. 胶片对比度和主因对比度 D. 宽容度和固有不清晰度 3.17 影响射线照相颗粒度的因素是（ ） 。 A. 胶片系统 B. 射线能量 C. 曝光量和底片黑度 D. 以上都是 3.18 对于磨平的焊缝透照时应（ ） 。 A. 采用较低的管电压，以提高主因对比度 B. 采用细粒度胶片，以提高胶片对比度 C. 提高底片的黑度，以提高胶片对比度 D. 以上都是 3.19 底片最小可见对比度△Dmin 与（ ）因素有关 。 A．底片黑度 B. 胶片颗粒性 C. 观片条件和个人视觉能力 D. 以上都是4.1 编制检测工艺应遵循的原则是（） 。A. 按现行检测标准编制，适用于本单位的检测对象 B. 满足相关法规和标准的要求 C. 技术上先进,经济上合理 D. 以上都不对 4.2 射线检测工艺条件是指（ ） 。 A. 设备器材条件 B.透照几何条件和工艺参数条件 C.工艺措施条件 D. 以上都是 4.3 透照时选择射线源和能量，一般应考虑的因素包括（ ）等因素进行综合考虑，合理 选择。 A. 射线穿透能力 B. 照相灵敏度 C. 射线设备的特点和检测环境 D. 以上都是 4.4 从 透 照 灵 敏 度 角 度 考 虑 ， 在 保 证 穿 透 力 的 前 提 下 ， 应 选 择 较 低 的 管 电 压 ， JB/T5 图 1 规定了一些材料的透照厚度所对应允许使用的最高管电压。但对截面 厚度变化大的工件，在保证灵敏度要求的前提下，允许超过此规定。对钢、铜及铜合金材料 管电压增量不超过（ ） ；对钛及钛合金材料管电压增量不超过（ ） ；对铝及铝合金材料 管电压增量不超过（ ） 。 A. 30Kv B. 50Kv C. 20Kv D. 40kV 4.5 按 AB 级射线检测技术要求， A. ≥20～100 B. ≥40～90192 77Ir γ 射线允许的透照厚度范围是(C. ≥30～95)mmD. 以上都不是24射线检测习题部分4.6 按 AB 级射线检测技术要求, A. ≥60-150 B. ≥50-17560 27Co γ 射线允许的透照厚度范围是 (C. ≥40-200 D.)mm4.7 采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵敏度要求的前提下，允许 γ 射线最小透照 厚度取规定下限值的（ A. 1/3 ） 。 C. 1/2192 77B. 1/4D. 以上均可 )mm；采用 27 Co 源透照厚度下限604.8 对于 AB 级照相而言，采用Ir 源透照厚度下限为(为( )mm。当采用中心内透照时，其透照厚度下限值可降至 1/2。 A．20 B. 30 C. 40 D. 50 4.9 按 JB/T5 标准规定，透照厚度 W 等于（ ） 。 A．单壁透照时，射线照射方向上材料的公称厚度加余高 B．双壁单影透照时，射线照射方向上通过的两层材料公称厚度之和加透照部位的余高 C．双壁双影透照时，射线照射方向上通过的两层材料公称厚度之和加两侧的余高 D．射线照射方向上材料的公称厚度，多层透照时，为通过的各层材料公称厚度之和 4.10 单壁透照的透照厚度 W 等于（ ） ，双壁单影的透照厚度 W 等于（ ） ，双壁双影的透照 厚度 W 等于（ ） 。 A、2T B、2T+h C、T D、T+2h 4.11 JB/T5 标准规定，确定像质计灵敏度和射线能量限值用（ ） ，评定底片 用（ A ） ，确定曝光参数用（ ） 。 A. 材料公称厚度 B. 透照厚度 C. 穿透厚度 D. 以上都不是 4.12 胶片系统是指（ ）的组合。 A. 胶片 B. 增感屏 C. 冲洗条件 D. 以上都是 4.13 冲洗条件包括（ ） 。 A. 冲洗方式 B. 显影配方 C. 显影时间和温度 D. 以上都是 4.14 标准规定，胶片系统分为四类，即 T1、T2、T3、和 T4 类。其中最高类别为（ ） 。 A．T1 B．T2 C．T3 D．T4 4.15 AB 级射线检测技术应采用（ ）类或更高类别的胶片。 A．T1 B．T2 C．T3 D．T4 4.16 按 JB/T5 标准规定，采用γ 射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时， 应采用（ ）类或更高类别的胶片。 A．T1 B．T2 C．T3 D．T4 4.17 一般来说，为发现工件中较小的缺陷，应采用（ ） 。 A. 感光速度慢胶片 B. 感光速度快的胶片 C. 粒度大的胶片 D. 以上均可 4.18 对于裂纹敏感性材料的对接接头进行 Y 射线检测时，应采用( A、天津Ⅲ型 4.19 A. B. C. B、AgFa C 7 C、AgFa D 7 ) )牌号的胶片。D、AgFa D 4对于 AB 级而言，其几何不清晰度的计算公式为( 1/3 Ug≤2/15?b 1/3 Ug≤1/15?b 1/3 Ug≤1/10?b25射线检测习题部分D. 4.20 下列尺寸相同的缺陷，容易检出的位置是（ ） 。 A. 近表面（源侧） B. 中心部位 C. 近底面（胶片侧） D. 近侧面 4.21 以相同的条件透照同一工件,若焦距缩短 20% , 则灵敏度稍有降低,而曝光时间可减少 多少？（ ） 。 A. 64% B. 36% C. 30% D. 60% 4.22 对射线检测技术等级中的 AB 级而言， 射线源至透照部位工件表面的最小距离 f 为 （ ） 。 A．f≥15db 2 / 3 C. f≥1/10?b 1 / 3 B. f≥10db 2 / 3 D. f≥10db 1/34.23 采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的像质计灵敏度和黑度符合要求，f 值可以减小，但减小值不应超过规定值的（ ） 。 A. 20% B. 30% C. 40% D. 50%4.24 采用源在内偏心单壁透照方式时，只要得到的像质计灵敏度和黑度符合要求，f 值可 以减小，但减小值不应超过规定值的（ ）%。 A. 10 B. 50 C. 20 D. 80 4.25 在无增感的条件下， 管电流为 5mA 时， 获得理想的射线底片， 所需曝光时间为 12 分钟， 假如其它条件不变，而管电流增加到 10mA，则正确的曝光时间为（ ） 。 A. 24 分钟 B. 12 分钟 C. 6 分钟 D. 3 分钟 4.2660 27Co 源的半衰期为 5.3 年 , 用一个新源进行射线检测可得到满意的射线底片,两年后用该源对同一工件按同样条件进行射线检测,为得到同样的射线底片, 曝光时间 （ ） 。 A. 不变 B. 约延长 10% C. 约延长 30% D. 约延长 60% ～100% 4.27 JB/T5 标准规定，对于 AB 级射线检测技术，当焦距为 700mm 时，曝光量的 推荐值不小于（ ）mＡ?min。当焦距改变时可按曝光因子公式对曝光量的推荐值进行换 算。 A．10 B．15 C．20 D．30 4.28 对于 AB 级射线检测技术， 标准推荐焦距 700mm 时曝光量不低于 15mA?min，使用推 荐二字的含义是( ) A.通常情况下必须这样选择曝光量， 这主要是限制操作者采用高管电压短时间快速照相的 不良作法，确保底片的对比度和 X B．特殊情况下，如,薄板双面自动焊等，为保证底片有效评定区域内焊接和热影响区的黑 C. 对于小径管，也可采用“高管电压 D 4.29 用192 77Ir 源使用铅增感透照某工件，焦距为 1.0m 时，10min 可得到满意的底片，其它条件不变，焦距变为 0.7m，为得到同样的底片黑度，曝光时间应为( )min A. 1.7 B. 4.9 C. 6.1 D. 8.226射线检测习题部分4.30 用半衰期为 75 天的192 77Ir 源对某工件透照的最佳曝光时间为 40 分钟。5 个月后，用该源在相同的条件下透照原工件，要得到同样黑度的底片，曝片时间为( ) A．2 小时 B. 4 C. 2 小时 40 分钟 D. 50 4.31 在曝光因子的公式中，管电流、曝光时间和焦距三者的关系是( ) A. B. C. D. 4.32 在曝光因子的公式中，管电流、曝光时间和焦距三者的关系是（ ） 。 A. 管电流不变，时间与焦距的平方成正比 B. 焦距不变，管电流与曝光时间成反比 C. 曝光时间不变，管电流与焦距的平方成正比 D. 以上都是 4.33 一定曝光量所需的曝光时间 t 与射线源至胶片的距离 F 的关系应为（ ） 。 2 2 2 2 A．t2/t1 =F1 /F2 B. t1/t2 =F1 /F2 C. t2/t1 =F1/F2 D. t1/t2 =F1/F2 4.34 按标准规定，应根据工件的特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施 的情况下应选用（ ）透照方式。 A．单壁 B．双壁双影 C．双壁单影 D．以上都是 4.35 单壁透照技术中最佳的是（ ） ，较差的是（ ） 。 A. 单壁外透照 B. 环缝中心透照 C. 环缝偏心内透照 D. 纵缝透照 3 4.36 现有 1000M 石油液化气钢制球罐，内径 12.3m，壁厚 40mm，需 100%射线检测，其透照 方式通常为( ) A. 用 300KV 周向 X 光机作内透照 C. 用192 77B. 用 27 Co D.60Ir r4.37 现有一壁厚 10mm，内径 400mm 的一个筒节与封头拼接的组件，需 100%透照，其最佳 透照方式为( )。 A. 用周向 X B. C. D. 4.38 现有一壁厚 30mm，内径 500mm 的一个筒节与筒节环缝需 100%透照，其最佳透照方式 为( ) A. 用 XXH3005X 光机(焦点尺寸 1.0?2.5mm) B. 用192 77 60Ir γ 源(焦点尺寸Ф 3?3mm)C. 用 27 Co γ 源(焦点尺寸Ф 5mm) D. 4.39 用平靶周向 X 光机透照高颈法兰与短节组件环焊缝时，最佳的透照方法是(27)射线检测习题部分A. 将组件立放，法兰侧朝下且垫一定高度，X 光机阳极端朝下立于短节的中心轴线上,使 主射线束对准焊缝透照 B. 将组件立放，法兰侧朝上且垫一定高度，X 光机阳极端朝下立于短节的中心轴线上， C. 将组件卧放，垫高短节侧，使组件中心轴线与地面平行。X 光机放于组件中心轴线上， D. 4.40 有一内径 450mm，壁厚 12mm 的高颈法兰与短节组件，环向对接焊接接头的最佳透照方 式为（ ） 。 A. 双壁单影透照 C. 中心透照 B. 单壁外透照 D. 偏心内透照4.41 现有一壁厚 80mm，内径 600mm 的筒节与筒节接的环向对接焊接接头需 100%透照，其 最佳透照方式为（ ） 。 A．用 XXH3005X 光机（焦点尺寸 1.0x2.5mm）作周向中心透照 B．用192 77Ir γ 源（焦点尺寸Φ 3x3mm）作偏心内透照（F&R） Ir γ 源（焦点尺寸Φ 3x3mm）做中心透照C．用192 77D．用 27 Co γ 源（焦点尺寸Φ 3x3mm）作中心透照 4.42 环向对接焊接接头采用周向 X 光机中心法检测的优点是（ ） 。 A. 透照距离相同，透照厚度均一，所得底片的黑度均一，灵敏度高，其成像质量优于其 它透照方式 B. K=1，失真角为 0，对接焊接接头中的横向缺陷检出率最高 C. 一次曝光能完成整条环向对接焊接接头的检测，检测效率高 D. 以上都是 4.43 在满足几何不清晰度要求的情况下，一次透照长度受（ A．胶片长度 B．焊缝长度 C．透照方式 D．透照厚度比60）的控制。4.44 对射线检测技术等级中的 AB 级而言，纵向对接焊接接头透照厚度比 K 应满足（ ） 。 A. ≤1.06 B. ≤1.1 C. ≤1.2 D. ≤1.034.45 用周向 X 光机透照纵向对接焊接接头，一次透照长度为 500mm，要满足 K≤1.03 的要 求，焦点至工件表面的距离至少为（ A. 600 B. 700 ）mm。 C. 900 D. 100028射线检测习题部分4.46 用焦点至工件表面的距离 f=700mm 透照 T=30mm 的纵向对接焊接接头,一次透照长度 L3 最长为( )mm。 A. 500 B. 400 C. 350 D. 3004.47 对射线检测技术等级中的 AB 级而言，环向对接焊接接头透照厚度比 K 应满足（ ） ， 当透照 100mm&D0≤400mm 的环向对接焊接接头时，透照厚度比 K 允许（ ） 。 A、≤1.06 B、≤1.1 C、≤1.2 D、≤1.03 4.48 对于纵缝的 AB 级而言，源至工件表面的距离 f 与一次透照长度 L3 的关系应满足( )。 A. f≥2L3 B. f≥3L3 C. f≥1.5L3 D. 4.49 搭接长度是指一张底片与相邻底片重叠部分的长度。有效评定长度是指一次透照长度 在底片上的投影长度。实际工作中应知道这两项数据，以确定所使用（ ）的长度和底片 的（ ） 。 A. 胶片 B. 有效评定长度 C. 透照厚度比 D. 以上都是 4.50 搭接标记的位置是确定一次透照长度和搭接长度的依据。按标准规定，中心透照方式 搭接标记应放于（ ） ，双壁单影或源在内 F&R 的偏心内透照方式搭接标记应放于（ ） 。 C. 射线源侧 D. 以上都是 ） ，其余透照方式均应放于（ A. 两侧均可B. 胶片侧4.51 采用焦距 F 小于工件曲率的偏心内透照法检测环向对接焊接接头时，搭接标记应放于 （ ） 。 A．射线源侧 B. 胶片侧 C. 两侧均可 D. 以上都可 4.52 当采用焦距 F 大于曲率半径的偏心内透照法检验环向对接焊接接头时，搭接标记应放 在( )。 A．射线源侧 B. C. 两侧均可 D. 4.53 按标准规定，标记一般应放置在距焊缝边缘至少（ ）以外的部位。 A．5 M B．10 L C．10 M D．5 L 4.54 表示工件厚度、千伏和曝光量之间关系的曲线称为 （ ） 。 A. 胶片特征曲线 B. 衰减曲线 C. 曝光曲线 D. 以上都不对 4.55 制作 X 射线曝光曲线时，应固定( ) A. X 光机 B. C. 焦距及暗室处理条件 D. 4.56 为正确确定钢的曝光参数，曝光曲线应（ ） 。 A．按台制作 B．按射线设备的型号制作 C．按每台射线设备提供的曝光曲线使用 D．以上都是 4.57 对使用中曝光曲线的要求是（ ） 。 A. 射线设备更换重要部件应及时校验或重新制作 B. 每年至少校验一次 C. 射线设备经大修后应及时校验或重新制作29射线检测习题部分D. 以上都是 4.58 绘制 D-T 曲线的目的是（ ） 。 A. 确定底片某一黑度下一定透照参数对应的穿透厚度 B. 为制作曝光曲线作准备 C. 没必要绘制 D-T 曲线，可直接绘制曝光曲线 D. A 和 B 4.59 曝光曲线是在一定条件下制作的，使用时应注意的是（ ） 。 A. 焦距改变时，用曝光因子公式换算 B. 黑度和胶片改变时，用胶片特性曲线换算 C. 透照小径管选用高电压短时间，透照一般工件按曝光量的推荐值办理 D. 以上都是 4.60 最大的散射源往往是（ ） 。 A. 铅箔增感屏 B. 地板和墙壁 C. 被检工件 D. 以上都不对 4.61 为了防止过多的背散射对胶片作用，应在（ ） 。 A. 零（工）件与胶片之间放一块铅板 B. 暗盒背面放一定厚度的铅板 C. 射线机窗口处放一块滤波板 D. 以上都是 4.62 控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自（ ） 。 A. 窗口、空气及地面 B. 空气、试样和暗盒 C. 试件前面、边缘和背面 D. 试样、铅板和墙壁 4.63 JB/T5 标准规定，环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时至少在圆 周的内壁上等间隔地放置（ ）个像质计。 A．4 B．3 C．6 D．2 4.64 透照时射线束的中心一般应（ ）指向透照区的中心。 0 A．平行 B．垂直 C．倾斜 D．60 4.65 射线检测工艺卡应在( ) A. 检验过程中 B. C. 检测前 D. 4.66 编制射线检测工艺卡应使用的资料有( ) A. 焊接工艺(确定焊缝编号) B. C. D. 以上都 4.67 在（ ）情况透照，应采用“B”铅字进行背散射防护检查。 A、初次制定的检测工艺 B、使用中检测工艺的条件改变C、使用中检测环境发生改变 D、以上都是 4.68 制造、安装及在用承压设备对接焊接接头的射线检测，一般应采用（ ）射线检测技 术。 A．A 级 B．AB 级 C．B 级 D．以上均可 4.69 对形状复杂和厚度差大的零件进行射线检测时，为了减少射线束中易产生散射的软射 线的影响，可采用（ ） 。 A. 在射线机窗口安装滤波板 B. 将不必曝光的区域用铅板遮蔽 C. 用荧光增感 D. 以上都不可 4.70 在同一暗盒里装二张或多张感光速度不同的胶片进行曝光的主要目的是 （ ） 。30射线检测习题部分A. 避免因底片上有伪缺陷而重新拍片。 B．避免因曝光时间不当而重新拍片。 C．使一次曝光能检测较大的透照厚度范围。 D．为了减少图象受散射线的影响。 4.71 有一 Di=450mm,T=6mm 的双面焊环向对接焊接接头，采用单壁外透照按 K≤1.1 确定 L3,其底片最大黑度 D&4.0,最小黑度为 2.1，在保证像质计灵敏的条件下，要使底片均处于 标准规定的黑度范围内，通常采用（ ）方法。 A. 增大焦距 B. 采用 T2 或更高类别的胶片C. 适当提高管电压 D. 增大曝光量 4.72 在 X 光管窗口放置滤光片的作用是( ) A. 产生二次射线，以增强 X B. 滤掉短波长 X 射线，以获得较软的 X C. 滤掉软 X 射线，以获得能量比较单纯的 X 射线束 D. 使 X 射线束的强度容易 4.73 对截面厚度变化大的工件，在保证灵敏度要求的前提下，允许提高管电压的作用是 （ ） 。 A. 增大宽容度 B. 降低对比度 C. 使底片评定范围内焊缝和母材的黑度处在标准规定的范围内 D. 以上都是 4.74 与低管电压透照的底片相比，高管电压透照的底片（ ） 。 A. 宽容度大 B. 对比度高 C. 清晰度高 D. 以上都不对 4.75 JB/T5 标准规定,小径管是指外直径 D0 小于或等于（ ）mm 的管子。 A．100 B．89 C．76 D．38 4.76 按 JB/T5 标准规定，小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足（ ）条 件时应采用倾斜透照方式椭圆成像。 A．T≤8mm；ｇ≤D0／４ B．T≤6mm；ｇ≤D0／４ C．T≥8mm；ｇ≥D0／４ D．T≥８mm；ｇ≤D0／４ 4.77 按 JB/T5 标准规定，小径管采用双壁双影透照布置，当满足满足条件之一 者（ ） ，应采用垂直透照方式重叠成像。 A. T & 8mm B. ｇ & D0／４ C. 椭圆成像有困难 D. 以上都是 4.78 小径管对接焊接接头的射线检测工艺要点是( ) A.同时满足 T≤8mm g≤D0/4 的采用倾斜透照方式椭圆成像，影像开口宽度控制在 1 倍 焊缝宽度左右；不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照重叠成像 0 0 0 B.透照次数：椭圆成像 T/D0≤0.12D 相隔 90 照两片，T/D0 & 0.12 的相隔 60 或 120 透 0 0 照 3 片；垂直透照重叠成像相隔 60 或 120 透照 3 次 2/3 C. 满足几何不清晰度 f≥10db 的要求，采用高电压短时间透照，注意散射线屏蔽 D. 以上都是 2/3 4.79 小径管双壁双影倾斜透照方式椭圆成像时，几何不清晰度应满足公式 f≥10db 的要 求，其中 b 为( ) A. B. C. D. 4.80 薄钢奥氏体焊缝底片上的衍射班点，减弱或消除的方法是( )(参考题)31射线检测习题部分A 提高管电压 B C 采用滤波技术 D 4.81 检测方法由( ) A. 检测人员根据现有检测设备 B.设计人员在图样上 C. 检查人员 D. 4.82 对于局部检测的压力容器对接焊缝接头，检测部位由( ) A. B. C. 设计人员 D. 以上都是 4.83 局部检测的压力容器需 100%透照的部位有( ) A. 先拼板后成形的封头、拼接补强圈及拼接管板等对接焊接接头 B. 焊缝交叉部位及被内件覆盖的对接焊接接头 C. 以开孔中心为圆心，1.5 倍开孔直径为半径划圆所包容的对接焊接接头 D. 4.84 进行局部检测的压力容器对接焊接接头，发现有不允许的缺陷时，应在该缺陷两端的 延伸部位增加检测长度，增加的长度为该对接焊接接头长度的（ ） ，且不小于（ ）mm。 A、10% 4.85 大约在（ B、20% C、250192 77D、300）透照厚度范围，使用Ir γ 射线配合 T2 或更高类别的胶片与 X 射线配合 T3 胶片照相灵敏度大致相当。 A. 10～20mm B. 20～30mm C. 40～50mm D. 80～100mm 4.86 按标准规定，采用 Y 射线源透照时，总的曝光时间不少于输送源往返所需时间的 10 倍，这一规定的理由是（ ） 。 A. 尽可能降低底片的颗粒度 B. 曝光时间过小，一方面是源往返过程中辐射的射线对胶片的曝光起作用，降低主因对 比度，另一方面源的曝光时间与往返时间相比过短，相当于源的尺寸增大，影响几何不清晰 度 C. 尽可能提高底片的黑度 D. 以上都是 4.87 以下关于平靶与锥靶周向 X 射线机的叙述中错误的是（ ） 。 A. 制造简单 成本低 B. 散热效果好 C. 使用平靶 X 射线机检测时应注意横向裂纹的漏检问题 D. 使用平靶 X 射线机检测时应注意纵向面状缺陷的漏检问题 4.88 JB/T5 标准规定，对 100mm&De≤400mm 的环向对接焊接接头,A 级、AB 级的 透照厚度比 K 值允许放宽至 1.2 的理由是（ ） 。 A. 近年来研究表明，横向裂纹检出最关键因素是裂纹开口宽度，控制 K 值的重要性有所 下降 B. 国外标准对 K 值要求降低，如，欧 EN 的 B 级 K≯1.1 C.吸取了 De≥100mm 的环向对接焊接接头 K = 1.1 效率过低成本过高的教训 D. 以上都是 4.89 标准规定， 用 X 射线透照小径管环向对接焊接接头时， “由于结构原因不能进行多次透 照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝全长的 100%32射线检测习题部分检测， 此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围， 并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足 要求。 ” 此处扩大缺陷可检出范围的 “有效措施”是指（ A. 选用高管电压透照 C. 采取有效的散射线屏蔽措施 B. 短时间的曝光 D. 以上都是 ） 。5.1 暗室的墙壁应涂（） ，且应有（）装置，排除室内潮气。A. 墨绿色 B. 白色 C. 排风 D. 风扇 5.2 对暗室的安全灯要求是（ ） 。 A. 灯的颜色应为暗红色 B. 一般用 15-25 瓦白炽灯加装滤色片构成 C. 应经过对胶片曝光测试合格 D. 以上都是 5.3 下列（ ）材料制作的桶适合盛装显、定影液。 A. 不锈钢 B. 铝板 C. 镀锌板 D. 钢 5.4 胶片处理过程中必不可少的三种液体是（ ） 。 A. 停显液、醋酸和水 B. 显影液、停显液和双氨水 C. 显影液、定影液和水 D. 醋酸、定影液和显影液 5.5 显影液和定影液的化学物质溶解顺序（ ） 。 A. 可以任意加入 B. 必须按配方所列的程序加入 C. 同时加入 D 先拌成糊状，再一起加入溶液中 5.6 显影液属于（ ）,定影液属于（ ）. A. 酸性 B. 盐性 C. 碱性 D. 中性 5.7 手工暗室处理，一般经过的步骤是（ ） 。 A. 显影 B. 停显和定影 C. 水冲洗和干燥 D. 以上都是 5.8 当 X 射线、γ 射线、可见光线或射线入射到胶片上时，在感光乳剂层中产生眼睛看不到 的影像，称之为（ ） 。 A. 底片黑度 B. 特性曲线 C. 潜影 D. 照相灵敏度 5.9 曝光后的胶片如隔较长时间才冲洗处理，则可能产生“潜影衰退” ，引起衰退的程度取 决于( ) A. 宇宙射线的照射 B. C. D. 5.10 显影液的作用是把已曝光溴化银还原成金属银,显影液的主要成份为（ ） 。 A. B. 碱或加速剂 C. 保护剂和抑制剂 D. 以上都是 5.11 显影液中的显影剂通常采用（ ） 。 A. 亚硫酸钠 B. 米吐尔、菲尼酮、对苯二酚 C. 溴化钾 D. 以上都是33射线检测习题部分5.12 A. C. 5.13 A. C. 5.14 A. 5.15 A. B. C. D. 5.16 A. C.显影液中的抑制剂通常采用（ ） 。 亚硫酸钠 B. 溴化钾 菲尼酮 D. 碳酸钠 显影液中保护剂是（ ） 。 亚硫酸钠 B. 溴化钾 菲尼酮 D. 碳酸钠 显影液中的促进剂是（ ） 。 无水碳酸钠 B. 硼砂 C. 氢氧化钠 D. 以上都是 在显影过程中上下移动胶片或搅动显影液，其主要目的是（ ） 。 保护胶片，使其免受过大的压力。 使胶片表面的显影液更新。 防止产生网状皱纹。 以上都是。 显影液应放入不透光的容器中,不用时必须盖严，其目的是( ) B. 防止蒸发 D. 以上都是 ） 。5.17 显影速度变慢，反差减小，灰雾增大，引起上述现象的原因可能是（A. 显影液老化 B. 显影液温度过高 C. 显影时间过短 D. 显影时搅拌不足 5.18 下列（ ）因素会对未经显影的胶片产生影响。 A. 射线 B. 化学污染 C. 压力 D. 以上都会 5.19 显影时,（ ）会导致影像颗粒粗大。 A. 显影液活力降低 B. 显影液搅动过度 C. 显影时间过短 D. 显影温度过高 5.20 手工暗室处理时，显影温度一般为（ ）℃，显影时间一般（ A. 4～8 B. 2～4 C. 18～21 D. 26～28 5.21 当显影温度低于 14℃时，显影液中的对苯二酚作用很微弱，低于 10℃时，对苯二酚几 乎不起作用,造成底片（ ） 。 A. 对比度降低 B. 对比度提高 C. 清晰度降低 D. 清晰度提高 5.22 暗室处理中使用的停显液是用来（ ） 。 A. 使已感光的银盐还原成黑色影像 B. 中和显影液，停止显影 C. 中和定影液，停止定影 D. 消除水渍及水纹 5.23 定影是将未还原的溴化银溶解掉，使影像固定下来，定影液的主要组成为（ ） 。 A. 定影剂 B. 酸(停显、防污剂) C. 保护剂和坚膜剂 D. 以上都是 5.24 定影液中的定影剂通常采用（ ） 。 A. 硫代硫酸钠（海波） B. 冰醋酸 C. 明矾 D. 亚硫酸钠 5.25 定影液中起坚膜作用的物质为( ) A. 钾明矾 B. C. 亚硫酸钠 D. 5.26 把显影后的胶片放入定影液后，胶片乳剂膜的乳黄色消失 , 变为透明这段时间称为 （ ） 。34射线检测习题部分A. 定影时间 B. 通透时间 C. 坚膜时间 D. 还原时间 5.27 手工暗室处理时，定影时间通常为通透时间的（ ）倍。一般（ A. 5 B. 15 C. 2 D. 30 5.28 手工暗室处理时，水冲洗时间一般为（ ）分钟，最多不超过（ ）分钟 A. 10 B. 15 C. 20 D. 40 5.29 自然底片干燥应放于（ ）处。 A. 无尘 B. 通风 C. 干燥 D. 以上都是 5.30 烘干底片时，热风温度不超过（ ）℃，以防胶膜变形。烘前应去除（ ） ，以防底 A. 5.31 A. C. 5.32 A. C. 5.33 A. B. C. D. 30 B. 40 C. 水滴 D. 污物 引起底片黑度过度的两种最常见的原因是（ ） 。 水洗不足和过显影 B. 定影液污染和水洗不足 显影液和定影液污染 D. 过曝光和过显影 底片普遍灰雾严重，可能是因为（ ） 。 胶片过期 B. 暗室安全灯太亮 显影时间过长，温度过高 D. 以上都是 射线底片上，有时会出现白色的手指印，这是因为（ ） 。 手摸底片引起的 手指脏污或沾有定影液触及胶片乳剂膜 手指沾有显影液触及胶片乳剂膜 以上都是。5.34 为保证 ? 射线照相的暗室手工处理质量，应特别注意的是（ ） 。 A. 显影液温度不宜过高，保持在 18-21℃之间 B. 显影过程中胶片应上下移动 C. 保持显影液的新鲜性 D. 以上都是6.1 评片一般应在专用（ ）内进行。室内应整洁、安静，温度适宜，光线（ A. 评片室 C. 暗且柔和 B. 操作室 D. 明亮） 。6.2 评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。从阳光下进入评片的暗适应时间一般 （B）min；从一般室内进入评片的暗适应时间应不少于（ ）S。 A. 3 ～ 5 B. 5 ～10 C. 10 D. 30 6.3 JB/T5 标准规定，承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级适用的材 料是（ ） 。 A．钢 B. 镍 C．铜 D．以上都是 6.4 底片质量必须满足( )35射线检测习题部分A. B. 影像识别标记齐全，位置正确，且不掩盖对接焊缝接头影像 C. 在有效评定区内，不得有影响准确评定的伪像 D. 6.5 被检的每段对接焊缝接头附近均应贴( ) A. B. 焊缝编号和位置编号(片号) C. D. 6.6 按标准规定,底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧（ ）宽的区域。 A．5 M B．10 L C．10 M D．5 L 6.7 JB/T5 标准规定：在下列材料的对接焊接接头射线照相中，可使用碳钢像质 计的是（ ） 。 A. 镍、镍合金 B. 铜、铜合金 C. 不锈钢 D. 钛、钛合金 6.8 评片时，当母材公称厚度不同时，取（ ）板的公称厚度进行评级。 A．较厚 B．较薄 C．较薄再加上余高 D．以上都是 6.9 底片评定区的黑度中，最高黑度是指（ ） ，最低黑度一般是指（ ） 。 A. 搭接标记处焊缝上的黑度 B. 底片中心与射线束垂直部分焊缝上的黑度 C. 底片中心与射线束垂直部分焊缝附近热影响区上的黑度 D. 以上均可 6.10 如底