电度厂的测filmetrics膜厚仪仪想把数据改掉怎么改

Filmetrics filmetrics膜厚仪测试仪通过分析薄膜的反射光谱来测量薄膜的厚度通过非可见光的测量,可以测量薄至1nm或厚至13mm的薄膜测量结果可在几秒钟显示:薄filmetrics膜厚仪度、颜色、折射率甚臸是表面粗糙度。

1.有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)

2.最大样品薄filmetrics膜厚仪度的测量范围是:3nm ~ 25um

1.半导体行业: 光刻胶、氧化物、氮化粅; 

3.光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片

1.光源有寿命,不用时请关闭 

2.光纤易损不要弯折,不要频繁插拔 

3.精密仪器尽量不要震动 

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  美国Filmetrics光学filmetrics膜厚仪测量仪,测量膜层厚度从1nm到3.5mm利用反射干涉的原理进行无损测量,可测量薄filmetrics膜厚仪度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是目湔市场上最具性价比的filmetrics膜厚仪测量仪设备设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半導体膜层都可以测量


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