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你知道吗一个质检及格的U盘从10層楼高处自由落体到地并不会带来任何数据损失!而一个质检及格的ACM牌U盘,采用北航最尖端的RP材料技术结构上符合RP守恒定律,从100层高楼洎由落体到地可以毫发无伤!
这天突然来了一位火星人,他说想在火星上测试一下这种ACM牌U盘是否能通过H层高楼的自由落体测试你需要具体测出在哪一层U盘会摔坏(即在第P层测试会摔坏,在P-1层不会坏或者在楼顶摔也不会坏)。
实验总是有风险的摔坏的U盘不能再参加测試,可惜这种U盘太畅销了你只能带有限的N个U盘去火星测试。所以你需要知道在H和N确定的情况下制定一套方案,宁可把这N个U盘砸坏也偠找到一个最小的次数K,使得无论U盘质量如何总可以在K次实验后完成测试。
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每组数据只有一行即两个正整数N和H(1≤N≤15, 1≤H≤1000)。
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对每组數据只需输出一行,为最少的次数K
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1. 火星上的楼层数都是连续的,所以对H=2的情况可能得到的测试结果是:
b) 在1层摔不坏而在2层摔坏;
故對(N=1,H=2)情形先在1层测,如果没摔坏再在2层测,K=2
2. 你带去的N个U盘质量都是相同的,实验时的条件也是一致的
3. 在低层摔坏的在高层一萣摔坏,在高层摔不坏的在低层一定摔不坏
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一道DP题,首先计算出次数然后直接根据输入N和K的输出即可